Wynik wyszukiwania
Zapytanie: METROL MEAS SYST
Liczba odnalezionych rekordów: 20



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/20
Nr opisu: 0000126515   
Evaluation of sound quality features on environmental noise effects - a case study applied to road traffic noise.
[Aut.]: Waldemar Paszkowski, J. Kotus, T. Poremski, B. Kostek.
-Metrol. Meas. Syst. 2018 vol. 25 nr 3, s. 517-531, bibliogr. 34 poz.. Impact Factor 0.925. Punktacja MNiSW 20.000

irytacja ; jakość dźwięku ; hałas drogowy

annoyance ; sound quality ; traffic noise

2/20
Nr opisu: 0000093659   
ZnO - wide bandgap semiconductor and possibilities of its application in optical waveguide structures.
[Aut.]: Przemysław Struk, Tadeusz Pustelny, K. Gołaszewska, M. Borysiewicz, E. Kamińska, T. Wojciechowski, A. Piotrowska.
-Metrol. Meas. Syst. 2014 vol. 21 nr 3, s. 401-412, bibliogr. 26 poz.. Impact Factor 0.925. Punktacja MNiSW 20.000

półprzewodnik szerokoprzerwowy ; ZnO ; optyka zintegrowana ; falowód planarny

wide bandgap semiconductor ; ZnO ; integrated optics ; planar waveguide

3/20
Nr opisu: 0000071089   
Measurement aspects of genome pattern investigations. Hardware implementation.
[Aut.]: Andrzej Pułka, Adam Milik.
-Metrol. Meas. Syst. 2012 vol. 19 nr 1, s. 49-62, bibliogr. 22 poz.. Impact Factor 0.982. Punktacja MNiSW 20.000

rozpoznawanie wzorców ; programowanie dynamiczne ; przetwarzanie potokowe ; DNA ; macierz systoliczna

pattern recognition ; dynamic programming ; pipeline processing ; DNA ; systolic array

4/20
Nr opisu: 0000071072   
Sensors and systems for the detection of explosive devices. An overview.
[Aut.]: Z. Bielecki, J. Janucki, A. Kawalec, J. Mikołajczyk, N. Pałka, M. Pasternak, Tadeusz Pustelny, T. Stacewicz, J. Wojtas.
-Metrol. Meas. Syst. 2012 vol. 19 nr 1, s. 3-28, bibliogr. 106 poz.. Impact Factor 0.982. Punktacja MNiSW 20.000

materiał wybuchowy ; urządzenie wybuchowe ; czujnik ; wykrywanie materiałów wybuchowych

explosive material ; explosive device ; sensor ; detection of explosives materials

5/20
Nr opisu: 0000071090   
Stimulus with limited band optimization for analogue circuit testing.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
-Metrol. Meas. Syst. 2012 vol. 19 nr 1, s. 73-84, bibliogr. 20 poz.. Impact Factor 0.982. Punktacja MNiSW 20.000

obliczenia ewolucyjne ; testowanie układu analogowego ; nieszczelność izolacji

evolutionary computations ; analogue circuit testing ; fault isolation

6/20
Nr opisu: 0000078536   
The influence of limited dynamic response of the indicator detector in a Swan-Ganz catheter on the overestimation of cardiac output measurement by means of thermodilution.
[Aut.]: M. Gawlikowski, Tadeusz Pustelny.
-Metrol. Meas. Syst. 2012 vol. 19 nr 4, s. 751-758, bibliogr. 18 poz.. Impact Factor 0.982. Punktacja MNiSW 20.000

pomiar rzutu minutowego serca ; metoda termodilucji ; cewnik Swana-Ganza

cardiac output measurement ; thermodilution method ; Swan-Ganz catheter

7/20
Nr opisu: 0000065500   
Dynamically programmable analog arrays in acoustic frequency range signal processing.
[Aut.]: Piotr* Falkowski, Andrzej Malcher.
-Metrol. Meas. Syst. 2011 vol. 18 nr 1, s. 77-89, bibliogr. 23 poz.. Impact Factor 0.764. Punktacja MNiSW 20.000

przetwarzanie dźwięku ; analogowe projektowanie obwodów

FPAA ; audio processing ; analog circuits design

8/20
Nr opisu: 0000071513   
Soft fault clustering in analog electronic circuits with the use of self organizing neural network.
[Aut.]: Damian Grzechca.
-Metrol. Meas. Syst. 2011 vol. 18 nr 4, s. 555-568, bibliogr. 46 poz.. Impact Factor 0.764. Punktacja MNiSW 20.000

wykrywanie uszkodzeń ; uszkodzenia parametryczne ; analogowy układ elektroniczny ; samoorganizująca się sieć neuronowa

fault detection ; parametric faults ; analogue electronic circuit ; self-organizing neural network

9/20
Nr opisu: 0000065501   
Two heuristic algorithms for test point selection in analog circuit diagnoses.
[Aut.]: Andrzej Pułka.
-Metrol. Meas. Syst. 2011 vol. 18 nr 1, s. 115-128, bibliogr. 27 poz.. Impact Factor 0.764. Punktacja MNiSW 20.000

analogowy układ diagnostyki ; algorytm heurystyczny ; SALTO ; COSMO

analog circuit diagnosis ; heuristic algorithm ; SALTO ; COSMO

10/20
Nr opisu: 0000055677   
Fault diagnosis in analog electronic circuits - the SVM approach.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Metrol. Meas. Syst. 2009 vol. 16 nr 4, s. 582-597, bibliogr. 29 poz.

diagnostyka uszkodzeń ; obwód elektroniczny ; Maszyna Wektorów Nośnych ; SVM

fault diagnosis ; electronic circuit ; Support Vector Machine ; SVM

11/20
Nr opisu: 0000054333   
Global parametric fault identification in analog electronic circuits.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Metrol. Meas. Syst. 2009 vol. 16 nr 3, s. 391-402, bibliogr. 23 poz.

uszkodzenia parametryczne ; identyfikacja ; sztuczna sieć neuronowa

parametric faults ; identification ; artificial neural network

12/20
Nr opisu: 0000046700   
Linearity error as component of A/D converter uncertainty.
[Aut.]: Jerzy** Jakubiec.
-Metrol. Meas. Syst. 2008 vol. 15 nr 3, s. 329-343, bibliogr. 9 poz.

przetwornik A/C ; kwantowanie ; błąd liniowości ; współczynnik korelacji ; dystrybucja błędu ; model wyniku pomiaru ; niepewność

A/D converter ; quantization ; linearity error ; correlation coefficient ; error distribution ; model of measurement result ; uncertainty

13/20
Nr opisu: 0000025737   
Dynamic models of ion-selective electrodes with their electronic interface.
[Aut.]: Alicja Wiora, Józef Wiora, Andrzej Kozyra.
-Metrol. Meas. Syst. 2006 vol. 13 nr 4, s. 421-432, bibliogr. 15 poz.

potencjometria ; elektroda jonoselektywna ; model dynamiczny

potentiometry ; ion-selective electrode ; dynamic model

14/20
Nr opisu: 0000025736   
System oriented mathematical model of single measurement result.
[Aut.]: Jerzy** Jakubiec.
-Metrol. Meas. Syst. 2006 vol. 13 nr 4, s. 405-419, bibliogr. 9 poz.

wyniki pomiaru ; system pomiarowy ; akwizycja danych ; model błędu ; kwantowanie

measurement results ; measurement system ; data acquisition ; error model ; quantization

15/20
Nr opisu: 0000009250
Influence of the switching circuit on the properties of the pulse-width-modulated DAC.
[Aut.]: Marian Kampik, Ł. Jedliński.
-Metrol. Meas. Syst. 2004 vol. 11 nr 1, s. 21-30, bibliogr. 7 poz.

przetwornik cyfrowo-analogowy ; rezystancja ; tranzystor ; modulacja szerokości impulsu

digital-to-analog converter ; resistance ; transistor ; pulse-width modulation

16/20
Nr opisu: 0000008284
Orthogonal current sources in a system for current transformer error determination.
[Aut.]: Józef** Kwiczala.
-Metrol. Meas. Syst. 2003 vol. 10 nr 4, s. 395-408, bibliogr. 7 poz.

źródło prądu ; błąd przekładnika prądowego ; pomiary

current source ; current transformer error ; measurements

17/20
Nr opisu: 0000005721
Reductive interval arithmetic application to uncertainty calculation of measurement result burdened correlated errors.
[Aut.]: Jerzy** Jakubiec.
-Metrol. Meas. Syst. 2003 vol. 10 nr 2, s. 137-156, bibliogr. 9 poz.

błąd skorelowany ; arytmetyka interwałowa ; niepewność pomiaru

correlated error ; interval arithmetics ; measurement uncertainty

18/20
Nr opisu: 0000001766
A method of modelling sampling converter dynamic errors.
[Aut.]: Maria** Bojarska, Jerzy** Jakubiec.
-Metrol. Meas. Syst. 2001 vol. 8 nr 4, s. 337-355, bibliogr. 10 poz.

19/20
Nr opisu: 0000055938
A notch filter for AC-DC calibration system.
[Aut.]: Marian Kampik.
-Metrol. Meas. Syst. 2001 vol. 8 nr 1, s. 91-107, bibliogr. 6 poz.

20/20
Nr opisu: 0000001765
Kaskadowe źródło napięcia przemiennego.
[Aut.]: Arkadiusz* Kluger.
-Metrol. Meas. Syst. 2001 vol. 8 nr 4, s. 367-377, bibliogr. 6 poz.

stosując format:
Nowe wyszukiwanie