Wynik wyszukiwania
Zapytanie: WARSTWA DIELEKTRYCZNA
Liczba odnalezionych rekordów: 5



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/5
Nr opisu: 0000130054
Warstwy dielektryczne wytwarzane metodą zol-żel i techniką dip-coating do zastosowań w optoelektronice.
[Aut.]: Paweł Karasiński.
W: XVIII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 02-06.06.2019. Program konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2019, pamięć USB (PenDrive) s. 285-290, bibliogr. 13 poz.

zol-żel ; warstwa dielektryczna ; optyka zintegrowana ; światłowód planarny ; czujnik światłowodowy ; spektroskopia pola zanikającego ; ditlenek krzemu ; ditlenek tytanu ; pokrycie antyrefleksyjne ; zwierciadło dielektryczne

sol-gel ; dielectric layer ; integrated optics ; planar waveguide ; evanescent field spectroscopy ; silicon dioxide ; titanium dioxide ; antireflective coating ; dielectric mirror

2/5
Nr opisu: 0000131066   
Warstwy dielektryczne wytwarzane metodą zol-żel i techniką dip-coating do zastosowań w optoelektronice.
[Aut.]: Paweł Karasiński.
-Prz. Elektrot. 2019 R. 95 nr 9, s. 161-164, bibliogr. 20 poz.. Punktacja MNiSW 20.000

zol-żel ; warstwa dielektryczna ; optyka zintegrowana ; światłowód planarny

sol-gel ; dielectric layer ; integrated optics ; optical planar waveguide

3/5
Nr opisu: 0000124790   
Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Marcin Skolik, T. Błaszczyk.
-Prz. Elektrot. 2018 R. 94 nr 8, s. 51-54, bibliogr. 12 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

spektrofotometria ; współczynnik załamania ; warstwa dielektryczna ; warstwa cienka ; widmo odbiciowe

spectrophotometry ; refractive index ; dielectric layer ; thin film ; reflectance spectra

4/5
Nr opisu: 0000125130
Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Marcin Skolik, T. Błaszczyk.
W: XVII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 03-07.06.2018. Program konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2018, pamięć USB (PenDrive) s. 1-7

spektrofotometria ; współczynnik załamania ; warstwa dielektryczna ; warstwa cienka ; widmo odbiciowe

spectrophotometry ; refractive index ; dielectric layer ; thin film ; reflectance spectra

5/5
Nr opisu: 0000052100   
Wpływ warunków nanoszenia szkliw krzemowych na jakość uzyskanej powierzchni.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 21-23, bibliogr. 4 poz.

metoda spin-on ; warstwa dielektryczna

spin-on method ; dielectric layer

stosując format:
Nowe wyszukiwanie