Wynik wyszukiwania
Zapytanie: WARSTWA CIENKA
Liczba odnalezionych rekordów: 56



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/56
Nr opisu: 0000128475
Badanie rozkładu grubości powierzchni cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej spektroskopowej.
[Aut.]: B. Hajduk, Paweł Jarka, P. Nitschke.
-LAB Laboratoria Apar. Bad. 2019 nr 1, s. 6-8, bibliogr. 3 poz.. Punktacja MNiSW 5.000

elipsometria spektroskopowa ; mapowanie powierzchni ; warstwa cienka

spectroscopic ellipsometry ; surface mapping ; thin layer

2/56
Nr opisu: 0000130577
Functional thin films and special coatings. Eds.: Tomasz Tański, Przemysław Snopiński.
Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2019, 166 s.
(Solid State Phenomena ; vol. 293 1662-9779)

powłoka ; wytwarzanie ; właściwości optyczne ; konwersja fotowoltaiczna ; technologia łuku obrotowego ; ogniwo słoneczne ; cienka powłoka ; warstwa cienka ; tribologia

coating ; fabrication ; optical properties ; photovoltaic conversion ; rotating arc technology ; solar cell ; thin film ; thin layer ; tribology

3/56
Nr opisu: 0000122596   
Analiza morfologii i własności optycznych nanowłókien polimerowych wzmacnianych nanocząstkami TiO2, Bi2O3, SiO2. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Wiktor Matysiak.
Gliwice, 2018, 164 k., bibliogr. 254 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Promotor: dr hab. inż. Tomasz Tański

nanomateriały jednowymiarowe ; nanowłókno kompozytowe ; elektroprzędzenie ; własności optyczne ; nanokompozyt polimerowy ; warstwa cienka

one-dimensional nanomaterials ; composite nanofiber ; electrospinning ; optical properties ; polymer nanocomposite ; thin layer

4/56
Nr opisu: 0000127494   
Analiza własności i zastosowań cienkich warstw PLA/SiO2.
[Aut.]: Damian Nowak, Wiktor Matysiak, Tomasz Tański.
W: Konferencja Studenckich Kół Naukowych. TalentDetector'2018. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska, 2018, s. 32 (Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych ; Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska z. 5)

polilaktyd ; warstwa cienka ; metoda spin-coating

polylactide ; thin layer ; spin-coating method

5/56
Nr opisu: 0000123466
Badania własności optycznych cienkich warstw.
[Aut.]: Tomasz Tański, Wiktor Matysiak, Paweł Jarka.
-LAB Laboratoria Apar. Bad. 2018 nr 2, s. 14-16, bibliogr. 5 poz.. Punktacja MNiSW 5.000

warstwa cienka ; własności optyczne ; metody badań

thin layer ; optical properties ; research methods

6/56
Nr opisu: 0000127005
Jednorodność optyczna warstw falowodowych SiO2:TiO2 wytwarzanych metodą zol-żel.
[Aut.]: Paweł Karasiński.
W: Światłowody i ich zastosowanie. TAL 2018. XVIII Konferencja i V Szkoła "Technologia światłowodów", Nałęczów, 20-23.11.2018. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2018, pamięć USB (PenDrive) s. 1, bibliogr. 3 poz.

warstwa cienka ; współczynnik załamania ; jednorodność optyczna ; widmo odbiciowe

thin layer ; refractive index ; optical homogeneity ; reflectance spectra

7/56
Nr opisu: 0000124790   
Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Marcin Skolik, T. Błaszczyk.
-Prz. Elektrot. 2018 R. 94 nr 8, s. 51-54, bibliogr. 12 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

spektrofotometria ; współczynnik załamania ; warstwa dielektryczna ; warstwa cienka ; widmo odbiciowe

spectrophotometry ; refractive index ; dielectric layer ; thin film ; reflectance spectra

8/56
Nr opisu: 0000125130
Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Marcin Skolik, T. Błaszczyk.
W: XVII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 03-07.06.2018. Program konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2018, pamięć USB (PenDrive) s. 1-7

spektrofotometria ; współczynnik załamania ; warstwa dielektryczna ; warstwa cienka ; widmo odbiciowe

spectrophotometry ; refractive index ; dielectric layer ; thin film ; reflectance spectra

9/56
Nr opisu: 0000127499   
Osadzanie cienkich warstw techniką spin coating.
[Aut.]: Julia Popis, K. Koryciak, Magdalena Szindler.
W: Konferencja Studenckich Kół Naukowych. TalentDetector'2018. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska, 2018, s. 33 (Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych ; Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska z. 5)

metoda spin-coating ; warstwa cienka

spin-coating method ; thin layer

10/56
Nr opisu: 0000122395   
Novel, nondestructive techniques of determining heat conductivity.
[Aut.]: Wojciech Adamczyk, Arkadiusz Ryfa, Tadeusz Kruczek, Ziemowit Ostrowski, Ryszard** Białecki.
W: 22nd International Conference on Computer Methods in Mechanics. CMM-2017, September 13th-16th, Lublin, Poland. Short papers. Eds.: Burczyński Tadeusz, Kuczma Mieczysław, Warmiński Jerzy, Podgórski Jerzy, Błazik-Borowa Ewa, Lipecki Tomasz. Lublin : Lublin University of Technology, 2017, s. 1-2, bibliogr. 2 poz.

metoda odwrotna ; przewodność cieplna ; urządzenie pomiarowe ; warstwa cienka

inverse method ; heat conductivity ; measuring device ; thin layer ; arbitrary shape

11/56
Nr opisu: 0000116219
Local thermal measurement at nanoscale by scanning thermal microscopy.
[Aut.]: Jerzy Bodzenta, Justyna Juszczyk-Synowiec, Anna Kaźmierczak-Bałata, Paulina Powroźnik, M. Chirtoc.
W: 1st International Conference InterNanoPoland 2016. International Conference Center, Katowice, 14-15 June, 2016. Abstracts book. Ed. Agnieszka Piekara, Karol Lemański. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2016, s. [62]

lokalne właściwości cieplne ; skaningowa mikroskopia termiczna ; przewodność cieplna ; warstwa cienka ; nanomateriały

local thermal properties ; scanning thermal microscopy ; thermal conductivity ; thin layer ; nanomaterials

12/56
Nr opisu: 0000108370
Numerical and experimental determinations of temporal characteristics of the SAW sensor with a chemi-sensitive layer of WO3+Pd.
[Aut.]: T. Hejczyk, Erwin Maciak, Maciej Setkiewicz.
W: 11th Conference on Integrated Optics: Sensors, Sensing Structures, and Methods. Eds. Tadeusz Pustelny, Przemyslaw Struk, Pawel Mergo, Jacek Wojtas. Bellingham : SPIE, 2016, s. 1-5, bibliogr. 12 poz. (Proceedings of SPIE ; vol. 10034 0277-786X)

czujnik gazu SAW ; analiza numeryczna ; dyfuzja gazu ; warstwa cienka

SAW gas sensor ; numerical analysis ; gas diffusion ; thin layer

13/56
Nr opisu: 0000116179
Production of thin layers of PMMA/carbon particles and analysis of their properties.
[Aut.]: Wiktor Matysiak, Marek Pawełczyk, M. Szatkowski, Tomasz Tański.
W: 1st International Conference InterNanoPoland 2016. International Conference Center, Katowice, 14-15 June, 2016. Abstracts book. Ed. Agnieszka Piekara, Karol Lemański. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2016, s. [46], bibliogr. 2 poz.

PMMA ; cząstki węglowe ; metoda spin-coating ; warstwa cienka

PMMA ; carbon particles ; spin-coating method ; thin layer

14/56
Nr opisu: 0000106991   
Quantitative thermal microscopy measurement with thermal probe driven by dc+ac current.
[Aut.]: Jerzy Bodzenta, Justyna Juszczyk, Anna Kaźmierczak-Bałata, P. Firek, A. Fleming, M. Chirtoc.
-Int. J. Thermophys. 2016 vol. 37 iss. 7, s. 1-17, bibliogr. 60 poz.. Impact Factor 0.745. Punktacja MNiSW 20.000

metoda elementów skończonych ; analiza numeryczna ; skaningowa mikroskopia termiczna ; pomiar przewodności cieplnej ; warstwa cienka

finite element method ; numerical analysis ; scanning thermal microscopy ; thermal conductivity measurement ; thin layer

15/56
Nr opisu: 0000100168
Badania odpowiedzi sensorowej cienkich warstw oraz nanostruktur SnO2.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Weronika Izydorczyk, N. Niemiec, Jerzy Uljanow, Wiesław Domański, Janusz Mazurkiewicz.
W: Czternasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 08-12.06.2015]. Materiały konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2015, pamięć USB (PenDrive) s. 59-65, bibliogr. 15 poz.

sensor ; warstwa cienka ; nanostruktura SnO2 ; czujnik rezystancyjny ; technologia RGTO ; termiczne osadzanie z fazy gazowej

sensor ; thin layer ; SnO2 nanostructure ; resistive sensor ; RGTO technology ; thermal vapour deposition

16/56
Nr opisu: 0000096044   
Correlation between morphology and local thermal properties of iron (II) phthalocyanine thin layers.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grządziel, Justyna Juszczyk, Anna Kaźmierczak-Bałata, A. Erbe, Jerzy Bodzenta.
-J. Phys., D Appl. Phys. 2014 vol. 47 iss. 33, Art. nr 335304, s. 1-7, bibliogr. 47. Impact Factor 2.721. Punktacja MNiSW 35.000

półprzewodnik organiczny ; morfologia FePc ; mikroskopia sił atomowych ; skaningowa mikroskopia termiczna ; warstwa cienka ; właściwości termiczne ; ftalocyjaniny żelaza

organic semiconductor ; FePc morphology ; atomic force microscopy ; scanning thermal microscopy ; thin film ; thermal properties ; iron phthalocyanine

17/56
Nr opisu: 0000092753   
Doping behaviour of electrochemically generated model bithiophene meta-substituted star shaped oligomer.
[Aut.]: Przemysław Ledwoń, Roman Turczyn, K. Idzik, R. Beckert, J. Frydel, Mieczysław Łapkowski, Wojciech Domagała.
-Mater. Chem. Phys. 2014 vol. 147 iss. 1/2, s. 254-260, bibliogr. 57 poz.. Impact Factor 2.259. Punktacja MNiSW 35.000

materiały optyczne ; półprzewodnik ; warstwa cienka ; technika elektrochemiczna ; rezonans elektronowy

optical materials ; semiconductor ; thin film ; electrochemical technique ; electron resonance

18/56
Nr opisu: 0000089658   
Surface states and space charge layer electronic parameters specification for long term air-exposed copper phthalocyanine thin films.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, Maciej Krzywiecki.
-Thin Solid Films 2014 vol. 550, s. 361-366, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 1.759. Punktacja MNiSW 30.000

półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; właściwości elektronowe powierzchni ; wydajność kwantowa fotoemisji ; dipol powierzchni ; efekt dipola

organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; surface electronic properties ; photoemission yield spectroscopy ; surface dipole ; dipole effect

19/56
Nr opisu: 0000093674   
Zastosowanie polerowania jonowego do preparatyki cienkich folii do badań na transmisyjnym mikroskopie elektronowym.
[Aut.]: J. Sitek, Krzysztof Labisz.
W: Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'14". Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2014, s. 69-76, bibliogr. 13 poz. (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska nr 29)

preparatyka ; transmisyjna mikroskopia elektronowa ; warstwa cienka

preparation ; transmission electron microscopy ; thin film

20/56
Nr opisu: 0000087576   
Al2O3 antireflection coatings for silicon solar cells.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2013 vol. 59 iss. 1, s. 13-19, bibliogr. 18 poz.. Punktacja MNiSW 12.000

warstwa antyrefleksyjna ; krzemowe ogniwo słoneczne ; atomowe osadzanie warstw ; warstwa cienka

antireflective coating ; silicon solar cell ; atomic layer deposition ; thin film

21/56
Nr opisu: 0000094441   
Application of scanning microscopy to study correlation between thermal properties and morphology of BaTiO3 thin films.
[Aut.]: Anna Kaźmierczak-Bałata, Jerzy Bodzenta, Maciej Krzywiecki, Justyna Juszczyk, J. Szmidt, P. Firlek.
-Thin Solid Films 2013 vol. 545, s. 217-221, bibliogr. 26 poz.. Impact Factor 1.867. Punktacja MNiSW 30.000

mikroskopia sił atomowych ; tytanian baru ; warstwa cienka ; skaningowa mikroskopia termiczna ; właściwości termiczne

atomic force microscopy ; barium titanate ; thin film ; scanning thermal microscopy ; thermal properties

22/56
Nr opisu: 0000091595
Badanie własności cienkich warstw poliazometin.
[Aut.]: Jan** Weszka, B. Hajduk.
W: Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013, s. 628-631 (Open Access Library ; vol. 10 (28) 2083-5191)

organiczne ogniwo fotowoltaiczne ; organiczna dioda elektroluminescencyjna ; nanoszenie warstw ; chemiczne osadzanie z fazy gazowej ; warstwa cienka ; własności elektryczne ; ćwiczenia laboratoryjne

organic solar cell ; organic light emitting diode ; film deposition ; chemical vapour deposition ; thin film ; electric properties ; laboratory exercises

23/56
Nr opisu: 0000091594
Badanie własności optycznych cienkich warstw.
[Aut.]: Aleksandra Drygała, Marek Szindler, Jan** Weszka.
W: Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013, s. 624-627 (Open Access Library ; vol. 10 (28) 2083-5191)

warstwa cienka ; własności optyczne ; nanoszenie warstw ; ćwiczenia laboratoryjne

thin film ; optical properties ; film deposition ; laboratory exercises

24/56
Nr opisu: 0000087639   
Cienkie warstwy dwutlenku cyny w aspekcie zastosowań w mikroelektronice.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2013, 134 s., bibliogr. 19 poz.
(Monografia ; [Politechnika Śląska] nr 488)
Rozprawa habilitacyjna

dwutlenek cyny ; mikroelektronika ; warstwa cienka ; nanowarstwa

tin dioxide ; microelectronics ; thin coating ; nanolayer

25/56
Nr opisu: 0000088049   
PEDOT:PSS thin film for photovoltaic application.
[Aut.]: Jan** Weszka, Magdalena Szindler, Paweł Jarka.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2013 vol. 59 iss. 2, s. 59-66, bibliogr. 19 poz.. Punktacja MNiSW 12.000

polimer elektroprzewodzący ; polielektrolit ; PEDOT:PSS ; organiczne ogniwo fotowoltaiczne ; warstwa cienka ; metoda spin-coating

electroconductive polymer ; polyelectrolyte ; PEDOT:PSS ; organic solar cell ; thin coating ; spin-coating method

26/56
Nr opisu: 0000091570
Warstwy osadzane techniką ALD.
[Aut.]: Marcin Staszuk, Marcin Adamiak, Andrzej* Hudecki.
W: Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013, s. 548-551 (Open Access Library ; vol. 10 (28) 2083-5191)

warstwa cienka ; atomowe osadzanie warstw ; ALD ; korozja elektrochemiczna ; odporność na korozję ; ćwiczenia laboratoryjne

thin coating ; atomic layer deposition ; ALD ; electrochemical corrosion ; corrosion resistance ; laboratory exercises

27/56
Nr opisu: 0000091591
Wpływ warunków nanoszenia na morfologię powierzchni i własności optyczne cienkich warstw polimer-fulleren.
[Aut.]: Jan** Weszka, Paweł Jarka.
W: Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013, s. 616-619 (Open Access Library ; vol. 10 (28) 2083-5191)

materiały polimerowe ; warstwa cienka ; złącze p-n ; nanoszenie warstw ; rozwirowanie z roztworu ; własności optyczne ; morfologia powierzchni ; ćwiczenia laboratoryjne

polymeric materials ; thin film ; p-n junction ; film deposition ; spin-coating ; optical properties ; surface morphology ; laboratory exercises

28/56
Nr opisu: 0000076579
Analiza wrażliwości kształtu cienkiej warstwy metalowej poddanej działaniu lasera.
[Aut.]: Ewa Majchrzak, Jolanta Dziatkiewicz, Grażyna Kałuża.
W: Modelowanie w mechanice. Program 51. sympozjonu, Ustroń, [25 lutego - 29 lutego] 2012 r. Zeszyt streszczeń. Polskie Towarzystwo Mechaniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gliwice, Komitet Mechaniki Polskiej Akademii Nauk, Katedra Mechaniki Stosowanej Politechniki Śląskiej. Ustroń : [b.w.], 2012, s. 99-100

laser ; wrażliwość kształtu ; warstwa cienka ; zjawiska cieplne ; metale

laser ; shape sensitivity ; thin film ; heat effects ; metals

29/56
Nr opisu: 0000072518
Surface morphology and optical properties of polymer thin films.
[Aut.]: Jan** Weszka, Magdalena Szindler, M. Bruma.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 6, s. 120-122, bibliogr. 6 poz.
Referat wygłoszony na European Summer School of Photovoltaics, Karaków, Poland, 4-7 July 2012. Punktacja MNiSW 6.000

morfologia powierzchni ; polimer ; warstwa cienka

surface morphology ; polymer ; thin film

30/56
Nr opisu: 0000084384   
The optoelectronic ammonia gas sensor system based on Pd/CuPc interferometric nanostructures.
[Aut.]: Erwin Maciak, Tadeusz Pustelny, Zbigniew Opilski.
W: Eurosensors 2012. 26th European Conference on Solid-State Transducers, Kraków, Poland, September 9-12, 2012. Eds: R. Walczak, J. Dziuban. Amsterdam : Elsevier, 2012, s. 738-741, bibliogr. 5 poz. (Procedia Engineering ; vol. 47 1877-7058)

ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; nanostruktura wielowarstwowa

copper phthalocyanine ; thin film ; multi-layered nanostructure

31/56
Nr opisu: 0000076148   
Topografia i grubość warstw pasywnych na utlenianym anodowo stopie Ti6Al4V.
[Aut.]: Janusz Szewczenko, J. Jaglarz, Marcin Basiaga, J. Kurzyk, E. Skoczek, Zbigniew Paszenda.
-Prz. Elektrot. 2012 R. 88 nr 12b, s. 228-231, bibliogr. 20 poz.. Punktacja MNiSW 15.000

stop Ti-6Al-4V ; biomateriały ; warstwa pasywna ; światło ; rozpraszanie ; warstwa cienka ; optyka cienkich warstw

Ti6Al4V alloy ; biomaterials ; passive layer ; light ; scattering ; thin film ; thin films optics

32/56
Nr opisu: 0000083538
Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych w badaniach cienkich warstw.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Dariusz Łukowiec.
W: Proceedings of the Eighteenth International Scientific Conference on Contemporary Achievements in Mechanics, Manufacturing and Materials Science. CAM3S'2012, Gliwice - Ustroń, 27th - 29th February 2012. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2012, s. 43, bibliogr. 3 poz.

mikroskopia sił atomowych ; warstwa cienka ; morfologia powierzchni

atomic force microscope ; thin film ; surface morphology

33/56
Nr opisu: 0000071248   
A study of optical properties and annealing effect on the absorption edge of pristine- and iodine-doped polyazomethine thin films.
[Aut.]: B. Jarząbek, Jan** Weszka, Barbara* Hajduk, J. Jurusik, M. Domański, Jan* Cisowski.
-Synth. Met. 2011 vol. 161 iss. 11/12, s. 969-975, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 1.829

poliazometiny ; warstwa cienka ; krawędź absorpcji optycznej ; wyżarzanie

polyazomethine ; thin film ; optical absorption edge ; annealing

34/56
Nr opisu: 0000077215   
Comparative study of surface morphology of copper phthalocyanine ultra thin films deposited on Si (111) native and RCA-cleaned substrates.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grządziel, Jerzy Bodzenta, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2012 vol. 520 iss. 11, s. 3965-3970, bibliogr. 35 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; obróbka RCA

organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy ; RCA treatment ; silicon native substrate

35/56
Nr opisu: 0000063754   
Influence of ambient air exposure on surface chemistry and electronic properties of thin copper phthalocyanine sensing layers.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, Maciej Krzywiecki, H. Peisert, T. Chasse, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 519 iss. 7, s. 2187-2192, bibliogr. 41 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; właściwości elektroniczne ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; spektroskopia fotoelektronów w nadfiolecie

organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; electronic properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; ultraviolet photoelectron spectroscopy

36/56
Nr opisu: 0000076675
Modelowanie przepływu ciepła w skali mikro na przykładzie cienkich warstw metalowych nagrzewanych laserem o ultrakrótkim impulsie.
[Aut.]: Ewa Majchrzak.
W: II Kongres Mechaniki Polskiej. KMP 2011, Poznań, 29-31 sierpnia 2011. Książka streszczeń. Ed. Tomasz Łodygowski, Wojciech Sumelka. Politechnika Poznańska, Polskie Towarzystwo Mechaniki Teoretycznej i Stosowanej. Poznań : Agencja Reklamowa COMPRINT, 2011, s. 119-120

przepływ ciepła ; modelowanie przepływu ; warstwa cienka ; metale ; nagrzewanie laserowe

heat transfer ; flow modelling ; thin film ; metals ; laser heating

37/56
Nr opisu: 0000073097   
Optical properties of SbI3 single.
[Aut.]: Mirosława Kępińska, Marian** Nowak, Piotr Duka, Michalina* Kotyczka-Morańska, Piotr Szperlich.
-Opt. Mater. 2011 vol. 33 iss. 11, s. 1753-1759, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 2.023. Punktacja MNiSW 30.000

warstwa cienka ; trójjodek antymonu ; materiał anizotropowy ; własności optyczne ; goniometria

thin film ; antimony triiodide ; anisotropic material ; optical parameter ; spectrogoniometry

38/56
Nr opisu: 0000072412   
Optical properties of SbI3 single crystalline platelets.
[Aut.]: Mirosława Kępińska, Marian** Nowak, Piotr Duka, Michalina* Kotyczka-Morańska, Piotr Szperlich.
-Opt. Mater. 2011 vol. 33 iss. 11, s. 1753-1759, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 2.023. Punktacja MNiSW 30.000

warstwa cienka ; materiał anizotropowy ; parametr optyczny

thin film ; anisotropic material ; optical parameter

39/56
Nr opisu: 0000082099
Optymalizacja technologii RGTO osadzania bardzo cienkich warstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
[Aut.]: Jacek Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 131
Pełny tekst na CD-ROM

tlenek przewodzący ; SnO2 ; In2O3 ; warstwa cienka ; nanowarstwa ; stechiometria ; morfologia powierzchni ; AFM ; XPS ; SEM

conductive oxide ; SnO2 ; In2O3 ; thin film ; nanolayer ; stoichiometry ; surface morphology ; AFM ; XPS ; SEM

40/56
Nr opisu: 0000070273   
Nanowarstwy dwutlenku cyny SnO2 w aspekcie zastosowań w mikroelektronice.
[Aut.]: Jacek Szuber, Monika Kwoka.
W: IV Krajowa Konferencja Nanotechnologii. NANO 2010, Poznań, 28.06-02.07 2010. Program i streszczenia. Wydział Fizyki Technicznej Politechniki Poznańskiej [et al.].. Poznań : [b.w.], 2010, s. 68, bibliogr. 11 poz.

mikroelektronika ; dwutlenek cyny ; nanowarstwa ; warstwa cienka

microelectronics ; tin dioxide ; nanolayer ; thin coating

41/56
Nr opisu: 0000058364   
X-ray Photoelectron Spectroscopy characterization of native and RCA-treated Si (111) substrates and their influence on surface chemistry of copper phthalocyanine thin films.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grządziel, H. Peisert, I. Biswas, T. Chasse, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2010 vol. 518 iss. 10, s. 2688-2694, bibliogr. 37 poz.. Impact Factor 1.935

warstwa cienka ; półprzewodnik organiczny ; spektroskopia fotoemisyjna ; promieniowanie rentgenowskie

thin film ; organic semiconductor ; photoemission spectroscopy ; X-ray

42/56
Nr opisu: 0000056950   
Electronic structure of poly(azomethine) thin films.
[Aut.]: Jan** Weszka, H. Bednarski, M. Domański.
-J. Chem. Phys. 2009 vol. 131 no. 2, art. no. 024901, bibliogr. 40 poz.. Impact Factor 3.093

poliazometiny ; struktura elektronowa ; warstwa cienka

polyazomethine ; electronic structure ; thin film

43/56
Nr opisu: 0000056944   
Influence of solution acidity on composition, structure and electrical parameters of Ni-P alloys.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Piotr Kowalik, M. Cież, J. Kulawik.
-Microelectron. Int. 2009 vol. 26 iss. 2, s. 24-27, bibliogr. 10 poz.. Impact Factor 0.588

stop ; metalizacja ; rezystywność ; warstwa cienka ; rezystor

alloy ; metallization ; electrical resistivity ; thin film ; resistor

44/56
Nr opisu: 0000056850   
Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, L. Ottaviano, Lucyna Grządziel, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 5, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.

półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; właściwości powierzchniowe ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; mikroskopia sił atomowych

organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; surface properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy

45/56
Nr opisu: 0000048454   
Numerical simulation of thermal processes proceedings in a multi-layered film subjected to ultrafast laser heating.
[Aut.]: Ewa Majchrzak, B. Mochnacki, J. Suchy.
-J. Theor. Appl. Mech. 2009 vol. 47 no. 2, s. 383-396, bibliogr. 16 poz.. Impact Factor 0.178

przepływ ciepła w skali mikro ; warstwa cienka ; laser impulsowy ; modelowanie numeryczne

microscale heat transfer ; thin film ; pulsed laser ; numerical modelling

46/56
Nr opisu: 0000056802   
Spectrogoniometric determination of refractive indices of GaSe.
[Aut.]: Mirosława Kępińska, Marian** Nowak, Piotr Duka, B. Kauch.
-Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 13, s. 3792-3796, bibliogr. 23 poz.

warstwa cienka ; selenek galu ; materiał anizotropowy ; współczynnik załamania ; spektrogoniometria

thin film ; selenide gallium ; anisotropic material ; refractive index ; spectrogoniometry

47/56
Nr opisu: 0000050085   
Studying of kinetic growth of organic thin films.
[Aut.]: Jan** Weszka, Paweł Jarka, Daniel Pakuła, Leszek** Dobrzański, M. Domański, J. Jurusik.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2009 vol. 35 iss. 1, s. 29-36, bibliogr. 15 poz.

polimer inżynierski ; warstwa cienka ; szybkość osadzania

engineering polymer ; thin film ; deposition rate

48/56
Nr opisu: 0000056361   
Studying of spin-coated oxad-Si properties.
[Aut.]: Jan** Weszka, Leszek** Dobrzański, Paweł Jarka, J. Jurusik, Barbara* Hajduk, M. Bruma, Jarosław Konieczny, D. Mańkowski.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2009 vol. 37 iss. 2, s. 505-511, bibliogr. 13 poz.

warstwa cienka ; morfologia ; mikroskopia AFM ; metoda spin-coating ; absorbancja ; oxad-Si

thin film ; morphology ; AFM microscopy ; spin-coating method ; absorbance ; oxad-Si

49/56
Nr opisu: 0000052103   
Teoretyczna analiza adsorpcji tlenu na powierzchni ziaren SnO2 o geometrii płaskiej.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 45-48, bibliogr. 20 poz.

warstwa cienka ; nanowarstwa ; adsorpcja tlenu ; warstwa zubożona

thin film ; nanolayer ; oxygen adsorption ; depletion layer

50/56
Nr opisu: 0000048128   
XPS study of air exposed copper phthalocyanine ultra-thin films deposited on Si(111) native substrates.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, L. Grzadziel, L. Ottaviano, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Mater. Sci. Pol. 2008 vol. 26 no. 2, s. 287-294, bibliogr. 21 poz.. Impact Factor 0.368

ftalocyjanina miedzi ; CuPc ; warstwa cienka ; chemia powierzchni

copper phthalocyanine ; CuPc ; thin film ; surface chemistry

51/56
Nr opisu: 0000039011   
Computer analysis of oxygen adsorption at SnO2 thin films.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Bogusława Adamowicz.
-Opt. Appl. 2007 vol. 37 no. 4, s. 377-385, bibliogr. 23 poz.. Impact Factor 0.284

SnO2 ; warstwa cienka ; nanowarstwa ; adsorpcja tlenu ; warstwa zubożona ; struktura sensorowa ; modelowanie

SnO2 ; thin film ; nanolayer ; oxygen adsorption ; depletion layer ; sensor structure ; modelling

52/56
Nr opisu: 0000029196   
Computation of the acoustic-waves propagation-parameters and the subsequent elastic constants derivation in a single layer on a substrate.
[Aut.]: Tomasz Błachowicz, M. Beghi.
-Mol. Quantum Acoust. 2006 vol. 27, s. 49-61, bibliogr. 3 poz.

stała sprężystości ; warstwa cienka ; Fala Rayleigha ; rozpraszanie Brillouina

elastic constant ; thin layer ; Rayleigh wave ; Brillouin light scattering

53/56
Nr opisu: 0000019345   
Corrosion behavior of Ti6Al7Nb alloy after different surface treatments.
[Aut.]: Wojciech* Chrzanowski.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2006 vol. 18 iss. 1/2, s. 67-70, bibliogr. 13 poz.

biomateriały ; warstwa cienka ; powłoka gruba ; obróbka powierzchni

biomaterials ; thin coating ; thick coating ; surface treatment

54/56
Nr opisu: 0000022807   
Improvement of tool materials by deposition of gradient and multilayers coatings.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Klaudiusz Gołombek, Jarosław Mikuła, Daniel Pakuła.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2006 vol. 19 iss. 2, s. 86-91, bibliogr. 18 poz.

warstwa cienka ; powłoka gruba ; materiały narzędziowe ; cięcie ; PVD ; CVD

thin coating ; thick coating ; tool materials ; cutting ; PVD ; CVD

55/56
Nr opisu: 0000022959
Transport ciepła w cienkich warstwach i pomiary ich właściwości cieplnych.
[Aut.]: Jerzy Bodzenta.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2006, 162 s., bibliogr. 348 poz.

termokinetyka ; warstwa cienka ; transport ciepła ; przewodnictwo cieplne

thermokinetics ; thin layer ; heat transport ; thermal conductivity

56/56
Nr opisu: 0000011696   
On the correlation between the morphology and the electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, Jerzy** Żak, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2003 vol. 436 iss. 1, s. 70-75, bibliogr. 23 poz.. Impact Factor 1.598

ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; fotoemisja ; mikroskop sił atomowych

copper phthalocyanine ; thin film ; photoemission ; atomic force microscope

stosując format:
Nowe wyszukiwanie