Wynik wyszukiwania
Zapytanie: USZKODZENIE OPÓŹNIENIOWE
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000057268   
An algorithm of the test pairs minimization by means of the incompatibility graph.
[Aut.]: Robert Czerwiński, Tomasz Rudnicki.
-Pomiary Autom. Kontr. 2010 vol. 56 nr 6, s. 573-575, bibliogr. 6 poz.

MISR ; uszkodzenie opóźnieniowe ; testowanie ; pary testowe

MISR ; delay fault ; two-pattern testing

2/6
Nr opisu: 0000059081   
Zmodyfikowany generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki.
W: Informatyka - sztuka czy rzemiosło. KNWS'09, Rydzyna, 3-5 czerwca 2009. Materiały 6. konferencji naukowej. Preprint. Zielona Góra : Instytut Informatyki i Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Informatyki i Telekomunikacji. Uniwersytet Zielonogórski, 2009, s. 48-50, bibliogr. 10 poz.

generator obrazu kontrolnego ; uszkodzenie opóźnieniowe ; MISR ; pary testowe

test pattern generator ; delay fault ; MISR ; test pairs

3/6
Nr opisu: 0000049584   
Zmodyfikowany generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki.
-Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 7, s. 435-437, bibliogr. 10 poz.

uszkodzenie opóźnieniowe ; rejestr MISR ; pary testowe ; generator obrazu kontrolnego

delay fault ; MISR ; test pairs ; test pattern generator ; TPG

4/6
Nr opisu: 0000031907   
Crosstalk-insensitive method for testing of delay faults in interconnects between cores in SoCs.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, M. Kopeć, Andrzej** Hławiczka.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [Łódź] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007, s. 496-500, bibliogr. 10 poz.

test połączeń ; uszkodzenie opóźnieniowe ; przesłuch ; lokalizacja uszkodzeń ; identyfikacja uszkodzeń ; metoda test-per-clock

interconnect test ; delay fault ; crosstalk ; fault location ; fault identification ; test-per-clock method

5/6
Nr opisu: 0000028977   
Test pattern generator for delay faults.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki, Andrzej** Hławiczka.
-Theor. Appl. Informat. 2007 vol. 19 no. 1, s. 19-36, bibliogr. 6 poz.

uszkodzenie opóźnieniowe ; pary testowe ; MISR ; pamięć tylko do odczytu ; generator obrazu kontrolnego ; generator par testowych

delay fault ; test pairs ; MISR ; Read-Only Memory ; test pattern generator ; ROM

6/6
Nr opisu: 0000023173   
Generatory par testowych dla układów cyfrowych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki.
Gliwice, 2006
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: dr hab. inż. Andrzej** Hławiczka

generator tekstu ; uszkodzenie opóźnieniowe ; układ scalony ; liniowy rejestr liczący ; układ cyfrowy ; pary testowe

text generator ; delay fault ; integrated circuit ; line numbering register ; digital circuit ; two-pattern testing

stosując format:
Nowe wyszukiwanie