Wynik wyszukiwania
Zapytanie: TRIANGULACJA DELAUNAYA
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000071521   
A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 110-113, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.244. Punktacja MNiSW 15.000

triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa

Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analogue electronic circuit ; artificial neural network

2/3
Nr opisu: 0000069623   
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 65-68, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

elektronika analogowa ; układ analogowy ; triangulacja Delaunaya ; testowanie sterowane specyfikacją

analogue electronics ; analogue circuit ; Delaunay's triangulation ; specification driven testing

3/3
Nr opisu: 0000082610
Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 231
Pełny tekst na CD-ROM

triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa

Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analog electronic circuit ; artificial neural network

stosując format:
Nowe wyszukiwanie