Wynik wyszukiwania
Zapytanie: TESTOWANIE ANALOGOWO-CYFROWE
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000125326   
Spot defect analysis to identify the functional parameters of a Voltage Controlled Oscillator.
[Aut.]: Sebastian Temich, Damian Grzechca, Łukasz Chruszczyk, Krzysztof Tokarz.
W: 15th IFAC Conference on Programmable Devices and Embedded Systems. PDeS 2018, Ostrava, Czech Republic, 23-25 May 2018. Ed. by Zdenek Slanina. Amsterdam : Elsevier, 2018 (IFAC-PapersOnLine ; vol. 51, iss. 6 2405-8963)

elektronika analogowo-cyfrowa ; testowanie analogowo-cyfrowe ; oscylator sterowany napięciem ; algorytm genetyczny ; sztuczna sieć neuronowa ; wada punktowa

mixed-signal electronics ; mixed-signal testing ; voltage-controlled oscillator ; genetic algorithm ; artificial neural network ; spot defect

stosując format:
Nowe wyszukiwanie