Wynik wyszukiwania
Zapytanie: TEST
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000117369
Jak oceniać testy na przykładzie MCT.
[Aut.]: Piotr Dudzik, Ewa Terczyńska, Krzysztof Tytkowski.
W: Proceedings of 24th Conference Geometry Graphics Computer. Conference CGGC, Lodz, 3rd - 6th July 2017. Geometry and Engineering Graphics Centre. Silesian University of Technology, Department of Spatial Management and Geomatics. Institute of Environmental Engineering and Building Installations. Faculty of Civil Engineering Architecture and Environmental Engineering. Lodz University of Technology, Polish Society for Geometry and Engineering Graphics. Gliwice : [Silesian University of Technology. Geometry and Engineering Graphics Centre], 2017, s. 24-29, bibliogr. 6 poz.

MCT ; test ; ocena

MCT ; test ; evaluation

2/3
Nr opisu: 0000108198
Testing station-related railway control systems - functional and failure-response tests.
[Aut.]: Szymon Surma, M. Gołębiewski.
W: Intelligent transport systems and travel behaviour. 13th Scientific and Technical Conference "Transport Systems. Theory and Practice 2016", Katowice, Poland, September 19-21, 2016. Selected papers. Ed. Grzegorz Sierpiński. Cham : Springer, 2017, s. 195-204, bibliogr. 12 poz. (Advances in Intelligent Systems and Computing ; vol. 505 2194-5357)

droga kolejowa ; sterowanie ; system ; test ; sygnał świetlny

railway ; control ; system ; test ; signal light

3/3
Nr opisu: 0000117529   
Initialisation of BIST circuits based on rule 60 Cellular Automata.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
W: IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems (PDS 2000), Ostrava, Czech Republic, 8-9 February 2000. Oxford : Elsevier, 2000, s. 123-128, bibliogr. 9 poz. (IFAC Proceedings Volumes ; vol. 33, iss. 1 1474-6670)

rejestr ; stan początkowy ; test ; generowanie testów ; testowalność ; projektowanie VLSI

register ; initial state ; test ; test generation ; testability ; design VLSI

stosując format:
Nowe wyszukiwanie