Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SPEKTROMETR UV VIS
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000102675   
Cienkie warstwy polimerowe stosowane w fotowoltaice.
[Aut.]: Magdalena Szindler, Katarzyna Basa.
W: II Interdyscyplinarna Sesja Wyjazdowa Doktorantów Politechniki Śląskiej, Gliwice - Szczyrk, 2015. Red.: Mirosław Bonek, Tomasz Gaweł, Dawid Cichocki. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2015, s. 296-307, bibliogr. 30 poz. (Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej w Gliwicach ; )

materiały polimerowe ; cienka warstwa przewodząca prąd elektryczny ; mikroskop sił atomowych ; spektrometr UV/VIS ; metoda spin-coating

polymeric materials ; electrically conductive thin film ; atomic force microscopy ; spin-coating method

2/3
Nr opisu: 0000097325   
Wytworzenie oraz charakterystyka cienkich warstw SiO2 osadzonych metodą wirową na szkle.
[Aut.]: Jakub* Sitek, Marek Szindler.
W: Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'15". Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2015, s. 53-62, bibliogr. 11 poz. (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska nr 35)

cienka warstwa krzemowa ; tlenek krzemu ; spin-coating ; metoda wirowa ; mikroskopia konfokalna ; AFM ; spektrometr UV/VIS

thin silica film ; silicon oxide ; spin-coating ; spin-coating method ; confocal microscopy ; AFM ; spectrometer UV/VIS

3/3
Nr opisu: 0000090820   
Influence of solvent on the surface morphology and optoelectronic properties of a spin coated polymer thin films.
[Aut.]: Jan** Weszka, Magdalena Szindler, Magdalena* Szczęsna, Marek Szindler.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2013 vol. 61 iss. 2, s. 302-307, bibliogr. 18 poz.. Punktacja MNiSW 12.000

MEH-PPV ; spin-powłoka ; spektrometr UV/VIS ; mikroskopowa siła atomowa

MEH-PPV ; spin-coating ; spectrometer UV/VIS ; atomic force microscope

stosując format:
Nowe wyszukiwanie