Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SKANINGOWA MIKROSKOPIA TERMICZNA
Liczba odnalezionych rekordów: 14



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/14
Nr opisu: 0000131144
Scanning thermal microscopy - a tool for thermal measurement in the nanoscale.
[Aut.]: Jerzy Bodzenta.
W: Nanostructured thin films. Fundamentals and applications. Ed. by Maria Benelmekki, Andreas Erbe. Amsterdam : Elsevier, 2019, s. 181-213, bibliogr. 127 poz. (Frontiers of Nanoscience ; vol. 14 1876-2778)

pomiar termiczny w nanoskali ; mikroskopia sond skanujących ; skaningowa mikroskopia termiczna ; SPM ; SThM ; transport termiczny w nanoskali

nanoscale thermal measurement ; scanning probe microscopy ; scanning thermal microscopy ; SPM ; SThM ; thermal transport at nanoscale

2/14
Nr opisu: 0000114170   
Measuring thermal conductivity of thin films by Scanning Thermal Microscopy combined with thermal spreading resistance analysis.
[Aut.]: Justyna Juszczyk, Anna Kaźmierczak-Bałata, P. Firek, Jerzy Bodzenta.
-Ultramicroscopy 2017 vol. 175, s. 81-86, bibliogr. 28 poz.. Impact Factor 2.929. Punktacja MNiSW 50.000

skaningowa mikroskopia termiczna ; przewodność cieplna ; pomiar cieplny ; próbnik termiczny ; powłoka cienka

scanning thermal microscopy ; thermal conductivity ; thermal measurement ; thermal probe ; thin film ; thermal spreading resistance

3/14
Nr opisu: 0000120924
Microfabricated stage for scanning thermal microscopy calibration.
[Aut.]: M. Rudek, Anna Ziębowicz, Bogusław Ziębowicz, P. Janus, A. Sierakowski, T. Gotszalk, D Szmigiel.
W: 5th Conference on Nano- and Micromechanics, Wrocław, Poland, 4-6th July 2017. CNM 2017. [B.m.] : [b.w.], 2017, s. 170-171, bibliogr. 4 poz.

dwutlenek cyrkonu ; AFM ; SThM ; skaningowa mikroskopia termiczna ; kalibracja termiczna

zirconium dioxide ; AFM ; SThM ; scanning thermal microscopy ; thermal calibration

4/14
Nr opisu: 0000120189   
Thermal characterization of metal phthalocyanine layers using photothermal radiometry and scanning thermal microscopy methods.
[Aut.]: Dominika Trefon-Radziejewska, Justyna Juszczyk, A. Fleming, N. Horny, J. S. Antoniow, M. Chirtoc, Anna Kaźmierczak-Bałata, Jerzy Bodzenta.
-Synth. Met. 2017 vol. 232, s. 72-78, bibliogr. 43 poz.. Impact Factor 2.526. Punktacja MNiSW 30.000

półprzewodnik organiczny ; metaloftalocyjanina ; przewodność cieplna ; skaningowa mikroskopia termiczna ; mikroskopia sił atomowych ; radiometria fototermiczna

organic semiconductor ; metal phthalocyanine ; thermal conductivity ; scanning thermal microscopy ; atomic force microscopy ; photothermal radiometry

5/14
Nr opisu: 0000116219
Local thermal measurement at nanoscale by scanning thermal microscopy.
[Aut.]: Jerzy Bodzenta, Justyna Juszczyk-Synowiec, Anna Kaźmierczak-Bałata, Paulina Powroźnik, M. Chirtoc.
W: 1st International Conference InterNanoPoland 2016. International Conference Center, Katowice, 14-15 June, 2016. Abstracts book. Ed. Agnieszka Piekara, Karol Lemański. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2016, s. [62]

lokalne właściwości cieplne ; skaningowa mikroskopia termiczna ; przewodność cieplna ; warstwa cienka ; nanomateriały

local thermal properties ; scanning thermal microscopy ; thermal conductivity ; thin layer ; nanomaterials

6/14
Nr opisu: 0000106991   
Quantitative thermal microscopy measurement with thermal probe driven by dc+ac current.
[Aut.]: Jerzy Bodzenta, Justyna Juszczyk, Anna Kaźmierczak-Bałata, P. Firek, A. Fleming, M. Chirtoc.
-Int. J. Thermophys. 2016 vol. 37 iss. 7, s. 1-17, bibliogr. 60 poz.. Impact Factor 0.745. Punktacja MNiSW 20.000

metoda elementów skończonych ; analiza numeryczna ; skaningowa mikroskopia termiczna ; pomiar przewodności cieplnej ; warstwa cienka

finite element method ; numerical analysis ; scanning thermal microscopy ; thermal conductivity measurement ; thin layer

7/14
Nr opisu: 0000096044   
Correlation between morphology and local thermal properties of iron (II) phthalocyanine thin layers.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grządziel, Justyna Juszczyk, Anna Kaźmierczak-Bałata, A. Erbe, Jerzy Bodzenta.
-J. Phys., D Appl. Phys. 2014 vol. 47 iss. 33, Art. nr 335304, s. 1-7, bibliogr. 47. Impact Factor 2.721. Punktacja MNiSW 35.000

półprzewodnik organiczny ; morfologia FePc ; mikroskopia sił atomowych ; skaningowa mikroskopia termiczna ; warstwa cienka ; właściwości termiczne ; ftalocyjaniny żelaza

organic semiconductor ; FePc morphology ; atomic force microscopy ; scanning thermal microscopy ; thin film ; thermal properties ; iron phthalocyanine

8/14
Nr opisu: 0000097650
Numerical simulations and experimental results of quantitative SThM measurements for thin layer samples.
[Aut.]: Justyna Juszczyk, Jerzy Bodzenta.
W: THERMAM 2014. International Conference on Thermophysical and Mechanical Properties of Advanced Materials & 3rd Rostocker Symposium on Thermophysical Properties for Technical Thermodynamics, 12-15 June 2014, Izmir, Turkey. Abstracts proceedings. [B.m.] : [b.w.], 2014, s. 33
Toż na CD-ROM

metoda elementów skończonych ; skaningowa mikroskopia termiczna ; właściwości termiczne ; cienka powłoka

finite element method ; scanning thermal microscopy ; thermal properties ; thin layer

9/14
Nr opisu: 0000097453   
Photothermal measurement by the use of scanning thermal microscopy.
[Aut.]: Jerzy Bodzenta, Justyna Juszczyk, Anna Kaźmierczak, G. Wielgoszewski.
-Int. J. Thermophys. 2014 vol. 35 iss. 12, s. 2316-2327, bibliogr. 28 poz.. Impact Factor 0.963. Punktacja MNiSW 20.000

metoda elementów skończonych ; sonda nanotermiczna ; efekt fototermiczny ; skaningowa mikroskopia termiczna

finite element method ; nanothermal probe ; photothermal effect ; scanning thermal microscopy

10/14
Nr opisu: 0000097652
The thermal conductivity measurement with DC+AC driven nanothermal probe.
[Aut.]: Jerzy Bodzenta, M. Chirtoc, Justyna Juszczyk.
W: THERMAM 2014. International Conference on Thermophysical and Mechanical Properties of Advanced Materials & 3rd Rostocker Symposium on Thermophysical Properties for Technical Thermodynamics, 12-15 June 2014, Izmir, Turkey. Abstracts proceedings. [B.m.] : [b.w.], 2014, s. 32
Toż na CD-ROM

skaningowa mikroskopia termiczna ; przewodnictwo cieplne ; pomiar cieplny

scanning thermal microscopy ; thermal conductivity ; thermal measurement

11/14
Nr opisu: 0000094441   
Application of scanning microscopy to study correlation between thermal properties and morphology of BaTiO3 thin films.
[Aut.]: Anna Kaźmierczak-Bałata, Jerzy Bodzenta, Maciej Krzywiecki, Justyna Juszczyk, J. Szmidt, P. Firlek.
-Thin Solid Films 2013 vol. 545, s. 217-221, bibliogr. 26 poz.. Impact Factor 1.867. Punktacja MNiSW 30.000

mikroskopia sił atomowych ; tytanian baru ; warstwa cienka ; skaningowa mikroskopia termiczna ; właściwości termiczne

atomic force microscopy ; barium titanate ; thin film ; scanning thermal microscopy ; thermal properties

12/14
Nr opisu: 0000094419
Application of scanning thermal microscopy for investigation of thermal boundaries in multilayered photonic structures.
[Aut.]: Justyna Juszczyk, Maciej Krzywiecki, R. Kruszka, Jerzy Bodzenta.
-Ultramicroscopy 2013 vol. 135, s. 95-98, bibliogr. 17 poz.. Impact Factor 2.745. Punktacja MNiSW 50.000

struktura warstwowa ; skaningowa mikroskopia termiczna ; granica termiczna ; odwzorowanie cieplne ; struktura fotoniczna

layered structure ; scanning thermal microscopy ; thermal boundary ; thermal imaging ; photonic structure

13/14
Nr opisu: 0000095298   
DC experiments in quantitative scanning thermal microscopy.
[Aut.]: Justyna Juszczyk, Mateusz* Wojtol, Jerzy Bodzenta.
-Int. J. Thermophys. 2013 vol. 34 iss. 4, s. 620-628, bibliogr. 9 poz.. Impact Factor 0.623. Punktacja MNiSW 20.000

metoda elementów skończonych ; nanosonda cieplna ; ilościowe pomiary termiczne ; skaningowa mikroskopia termiczna ; przewodnictwo cieplne ; NThP

finite element method ; nanofabricated thermal probe ; quantitative thermal measurements ; scanning thermal microscopy ; thermal conductivity ; NThP

14/14
Nr opisu: 0000063743   
Analysis of possibilities of application of nanofabricated thermal probes to quantitative thermal measurements.
[Aut.]: Jerzy Bodzenta, Anna Kaźmierczak-Bałata, M. Lorenc, J. Juszczyk.
-Int. J. Thermophys. 2010 vol. 31 nr 1, s. 150-162, bibliogr. 24 poz.. Impact Factor 0.750

analiza elementów skończonych ; skaningowa mikroskopia termiczna ; przewodnictwo cieplne ; pomiar termiczny

finite element analysis ; scanning thermal microscopy ; thermal conductivity ; thermal measurement

stosując format:
Nowe wyszukiwanie