Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SIARKOWANIE
Liczba odnalezionych rekordów: 5



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/5
Nr opisu: 0000116252   
Characterization of Desulfovibrio desulfuricans biofilm on high-alloyed stainless steel: XPS and electrochemical studies.
[Aut.]: W. Dec, M. Mosiałek, R. Socha, M. Jaworska-Kik, Wojciech Simka, Joanna Kamila Michalska.
-Mater. Chem. Phys. 2017 vol. 195, s. 28-39, bibliogr. 34 poz.. Impact Factor 2.210. Punktacja MNiSW 35.000

bakterie redukujące siarczany ; biofilm ; siarkowanie ; wysokostopowa stal nierdzewna

sulphate-reducing bacteria ; biofilm ; sulphidation ; high-alloyed stainless steel

2/5
Nr opisu: 0000059660   
Wpływ SO2 na wysokotemperaturowe utlenianie stopu Ti-46Al-7Nb-0,7Cr-0,1Si-0,2Ni.
[Aut.]: J. Małecka, Adam** Hernas.
-Ochr. przed Koroz. 2010 R. 53 nr 10, s. 486-488, bibliogr. 18 poz.

korozja wysokotemperaturowa ; faza międzymetaliczna ; utlenianie izotermiczne ; utlenianie cykliczne ; siarkowanie

high-temperature corrosion ; intermetallic phase ; isothermal oxidation ; cyclic oxidation ; sulphidation

3/5
Nr opisu: 0000023850
Wpływ składu chemicznego atmosfery korozyjnej na odporność stopów na osnowie fazy Fe3Al.
[Aut.]: Barbara** Dytkowicz, Adam** Hernas.
W: XXXIV Szkoła Inżynierii Materiałowej, Kraków - Krynica, 26-29 IX 2006. Akademia Górniczo-Hutnicza im. St. Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. [Kraków] : [Edukacja], [2006], s. 305-310, bibliogr. 9 poz.

faza międzymetaliczna Fe-Al ; utlenianie ; korozja wysokotemperaturowa ; siarkowanie ; chlorowanie

Fe-Al intermetallics ; oxidation ; high-temperature corrosion ; sulfidation ; chlorination

4/5
Nr opisu: 0000025453   
XPS analysis of surface chemistry of near surface region of epiready GaAs(1 0 0) surface treated with (NH4)2Sx solution.
[Aut.]: Sebastian* Arabasz, E. Bergignat, G. Hollinger, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7659-7663, bibliogr. 32 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005. Impact Factor 1.436

GaAs ; pasywacja ; XPS ; siarkowanie

GaAs ; passivation ; XPS ; sulfidation

5/5
Nr opisu: 0000025543   
XPS study of surface chemistry of epiready GaAs(1 0 0) surface after (NH4)2Sx passivation.
[Aut.]: Sebastian* Arabasz, E. Bergignat, G. Hollinger, Jacek Szuber.
-Vacuum 2006 vol. 80 iss. 8, s. 888-893, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 0.834

GaAs ; siarkowanie ; pasywacja ; XPS ; półprzewodnik

GaAs ; sulfidation ; passivation ; XPS ; semiconductor

stosując format:
Nowe wyszukiwanie