Wynik wyszukiwania
Zapytanie: RENTGENOWSKA SPEKTROSKOPIA FOTOELEKTRONÓW
Liczba odnalezionych rekordów: 32



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/32
Nr opisu: 0000129783
Electrochemical characterization of Al 84 Ni 9 Y 7 metallic glass after annealing process.
[Aut.]: Rafał Babilas, A. Bajorek, Monika Spilka, Wojciech Łoński, Dawid Szyba.
-J. Non-Cryst. Solids 2019 vol. 518, s. 24-35, bibliogr. 40 poz.. Impact Factor 2.600. Punktacja MNiSW 70.000

elektrochemiczna spektroskopia impedancyjna ; szkło metaliczne ; skaningowa mikroskopia elektronowa ; dyfrakcja rentgenowska ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów

electrochemical impedance spectroscopy ; metallic glass ; scanning electron microscopy ; X-ray diffraction ; X-ray photoelectron spectroscopy

2/32
Nr opisu: 0000127077   
Structural study of amorphous and nanocrystalline Mg-based metallic glass examined by neutron diffraction, X-ray photoelectron spectroscopy, Reverse Monte Carlo calculations and high-resolution electron microscopy.
[Aut.]: Rafał Babilas, A. Bajorek, L. Temleitner.
-J. Non-Cryst. Solids 2019 vol. 505, s. 421-430, bibliogr. 43 poz.. Impact Factor 2.600. Punktacja MNiSW 70.000

szkło metaliczne ; dyfrakcja neutronowa ; odwrócona symulacja Monte Carlo ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; mikroskopia elektronowa

metallic glass ; neutron diffraction ; reverse Monte Carlo simulation ; X-ray photoelectron spectroscopy ; electron microscopy

3/32
Nr opisu: 0000125508   
Atomic and electronic structure of graphene oxide/Cu interface.
[Aut.]: D. W. Boukhvalov, E. Z. Kurmaev, Ewelina Urbańczyk, G. Dercz, Agnieszka Stolarczyk, Wojciech Simka, A. I. Kukharenko, I. S. Zhidkov, A. I. Slesarev, A. F. Zatsepin, S. O. Cholakh.
-Thin Solid Films 2018 vol. 665, s. 91-108, bibliogr. 59 poz.. Impact Factor 1.888. Punktacja MNiSW 30.000

grafen ; tlenek grafenu ; zredukowany tlenek grafenu ; teoria funkcjonału gęstości ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; przewodność

graphene ; graphene oxide ; reduced graphene oxide ; Density Functional Theory ; X-ray photoelectron spectroscopy ; conductivity

4/32
Nr opisu: 0000122366   
Corrosion resistance of resorbable Ca-Mg-Zn-Yb metallic glasses in Ringer's solution.
[Aut.]: Rafał Babilas, A. Bajorek, Piotr Sakiewicz, Aneta Kania, Dawid Szyba.
-J. Non-Cryst. Solids 2018 vol. 488, s. 69-78, bibliogr. 33 poz.. Impact Factor 2.600. Punktacja MNiSW 30.000

stop na osnowie Ca ; masywne szkło metaliczne ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; badanie elektrochemiczne ; wydzielanie wodoru ; elektrochemiczna spektroskopia impedancyjna

Ca-based alloy ; bulk metallic glass ; X-ray photoelectron spectroscopy ; electrochemical study ; hydrogen evolution ; electrochemical impedance spectroscopy

5/32
Nr opisu: 0000122723   
Cyclodextrin inhibits zinc corrosion by destabilizing point defect formation in the oxide layer.
[Aut.]: A. Altin, Maciej Krzywiecki, A. Sarfraz, C. Toparli, C. Laska, P. Kerger, A. Zeradjanin, K. J. J. Mayrhofer, M. Rohwerder, A. Erbe.
-Beilstein J. Nanotechnol. 2017 vol. 9, s. 936-944, bibliogr. 49 poz.. Impact Factor 2.269. Punktacja MNiSW 35.000

schemat pasmowy ; chemia defektów ; organiczne inhibitory korozji ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; korozja cynku

band diagram ; defect chemistry ; organic corrosion inhibitors ; X-ray photoelectron spectroscopy ; zinc corrosion

6/32
Nr opisu: 0000107994   
Characterisation of anodic oxide films on zirconium formed in sulphuric acid: XPS and corrosion resistance investigations.
[Aut.]: Maciej Sowa, D. Łastówka, A. I. Kukharenko, D. M. Korotin, E. Z. Kurmaev, S. O. Cholakh, Wojciech Simka.
-J. Solid State Electrochem. 2017 vol. 21 iss. 1, s. 203-210, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 2.509. Punktacja MNiSW 30.000

cyrkon ; utlenianie anodowe ; odporność na korozję ; kwas siarkowy ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów

zirconium ; anodic oxidation ; corrosion resistance ; sulphuric acid ; X-ray photoelectron spectroscopy

7/32
Nr opisu: 0000119497   
Corrosion study of resorbable Ca60Mg15Zn25 bulk metallic glasses in physiological fluids.
[Aut.]: Rafał Babilas, A. Bajorek, Adrian Radoń, Ryszard** Nowosielski.
-Prog. Nat. Sci. 2017 vol. 27 iss. 5, s. 627-634, bibliogr. 34 poz.. Impact Factor 2.572. Punktacja MNiSW 30.000

szkło metaliczne na osnowie Ca ; odporność korozyjna ; spektroskopia FTIR ; dyfrakcja promieniowania rentgenowskiego ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów

Ca-based metallic glasses ; corrosion resistance ; FTIR spectroscopy ; X-ray diffraction ; X-ray photoelectron spectroscopy ; hydrogen evaluation

8/32
Nr opisu: 0000107284   
Corrosion behavior of bioresorbable Ca-Mg-Zn bulk metallic glasses.
[Aut.]: Ryszard** Nowosielski, A. Bajorek, Rafał Babilas.
-J. Non-Cryst. Solids 2016 vol. 447, s. 126-133, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 2.124. Punktacja MNiSW 30.000

szkło metaliczne na osnowie Ca ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; odporność na korozję

Ca-based metallic glass ; X-ray photoelectron spectroscopy ; corrosion resistance ; hydrogen evaluation

9/32
Nr opisu: 0000106634   
Study on corrosion behavior of Mg-based bulk metallic glasses in NaCl solution.
[Aut.]: Rafał Babilas, A. Bajorek, Wojciech Simka, Dorota Babilas.
-Electrochim. Acta 2016 vol. 209, s. 632-642, bibliogr. 35 poz.. Impact Factor 4.798. Punktacja MNiSW 40.000

masywne szkło metaliczne ; dyfrakcja rentgenowska ; mikroskopia elektronowa ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; odporność na korozję

bulk metallic glass ; X-ray diffraction ; electron microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy ; corrosion resistance

10/32
Nr opisu: 0000102782   
Processes of removing zinc from water using zero-valent iron.
[Aut.]: Tomasz Suponik, A. Winiarski.
-Water Air Soil Pollut. 2015 vol. 226, art. no. 360 s. 1-11, bibliogr. 21 poz.. Impact Factor 1.551. Punktacja MNiSW 25.000

żelazo metaliczne ; cynk ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; dyfrakcja ; ładunek powierzchniowy

zero-valent iron ; zinc ; X-ray photoelectron spectroscopy ; diffraction ; surface charge

11/32
Nr opisu: 0000103707   
Self-assembled monolayers of partially fluorinated alcohols on Si(001): XPS and UV-photoemission study.
[Aut.]: A. Szwajca, Maciej Krzywiecki, H. Koroniak.
-J. Fluorine Chem. 2015 vol. 180, s. 248-256, bibliogr. 35 poz.. Impact Factor 2.213. Punktacja MNiSW 30.000

rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; nadfioletowa spektroskopia fotoelektronowa ; obliczenia kwantowo-chemiczne ; analiza powierzchni Si ; alkohole polifluorowane

X-ray photoelectron spectroscopy ; UV photoelectron spectroscopy ; quantum chemical calculation ; Si surface analysis ; polyfluorinated alcohols

12/32
Nr opisu: 0000100485   
Species formed on iron surface during removal of copper ions from aqueous solutions.
[Aut.]: Tomasz Suponik, A. Winiarski, J. Szade.
-Physicochem. Probl. Miner. Process. 2015 vol. 51 iss. 2, s. 731-743, bibliogr. 19 poz.. Impact Factor 0.977. Punktacja MNiSW 25.000

woda ; żelazo metaliczne ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; dyfrakcja ; miedź

water ; zero-valent iron ; X-ray photoelectron spectroscopy ; diffraction ; copper

13/32
Nr opisu: 0000093253   
Influence of electropolishing and anodic oxidation on morphology, chemical composition and corrosion resistance of niobium.
[Aut.]: Maciej Sowa, K. Greń, A. I. Kukharenko, D. M. Korotin, Joanna Kamila Michalska, L. Szyk-Warszyńska, M. Mosiałek, Jerzy** Żak, E. Pamuła, E. Z. Kurmaev, S. O. Cholakh, Wojciech Simka.
-Mater. Sci. Eng., C Mater. Biol. Appl. 2014 vol. 42, s. 529-537, bibliogr. 55 poz.. Impact Factor 3.088. Punktacja MNiSW 30.000

niob ; utlenianie anodowe ; polerowanie elektrolityczne ; odporność na korozję ; kwas fosforowy ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów

niobium ; anodic oxidation ; electropolishing ; corrosion resistance ; phosphoric acid ; X-ray photoelectron spectroscopy

14/32
Nr opisu: 0000086701   
Physicochemical and electrochemical properties of AISI 316L stainless steel used for implants in human urinary system.
[Aut.]: Witold Walke, Joanna** Przondziono.
-Arch. Metall. Mater. 2013 vol. 58 iss. 2, s. 625-630, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.763. Punktacja MNiSW 30.000

stal AISI 316L ; stal nierdzewna ; spektroskopia elektrochemicznej impedancji ; EIS ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; skaningowa mikroskopia elektronowa ; SEM

AlSI 316L steel ; stainless steel ; electrochemical impedance spectroscopy ; EIS ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; scanning electron microscopy ; SEM

15/32
Nr opisu: 0000075128
Physical and chemical studies of bacterial bioaerosols at wastewater treatment plant using scanning electron mikroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy.
[Aut.]: J. Płoszaj, E. Talik, Z. Piotrowska-Seget, Józef Pastuszka.
W: Electron microscopy XIV. Selected peer reviewed papers from the XIV International Conference on Electron Microscopy (EM 2011), Wisla, Poland, June 26-30, 2011. Ed. by D. Stróż and K. Prusik. Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2012, s. 32-36, bibliogr. 11 poz. (Solid State Phenomena ; vol. 186). Punktacja MNiSW 10.000

bioaerozol ; bakterie ; oczyszczalnia ścieków ; skaningowa mikroskopia elektronowa ; SEM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; cryo-SEM

bioaerosol ; bacteria ; wastewater treatment plant ; scanning electron microscopy ; SEM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; cryo-SEM

16/32
Nr opisu: 0000077215   
Comparative study of surface morphology of copper phthalocyanine ultra thin films deposited on Si (111) native and RCA-cleaned substrates.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grządziel, Jerzy Bodzenta, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2012 vol. 520 iss. 11, s. 3965-3970, bibliogr. 35 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; obróbka RCA

organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy ; RCA treatment ; silicon native substrate

17/32
Nr opisu: 0000063754   
Influence of ambient air exposure on surface chemistry and electronic properties of thin copper phthalocyanine sensing layers.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, Maciej Krzywiecki, H. Peisert, T. Chasse, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 519 iss. 7, s. 2187-2192, bibliogr. 41 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; właściwości elektroniczne ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; spektroskopia fotoelektronów w nadfiolecie

organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; electronic properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; ultraviolet photoelectron spectroscopy

18/32
Nr opisu: 0000071525   
X-ray photoelectron spectroscopy and thermal desorption spectroscopy comparative studies of L-CVD SnO2 ultra thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, Natalia Waczyńska, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 913-917, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

dwutlenek cyny ; L-CVD ; powłoka cienka ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; profilowanie głębokościowe ; spektroskopia termodesorpcyjna ; chemia powierzchni

tin dioxide ; L-CVD ; ultrathin film ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; depth profiling ; thermal desorption spectroscopy ; surface chemistry

19/32
Nr opisu: 0000063356   
Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2010 vol. 256 iss. 19, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz.. Impact Factor 1.795

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; podłoże krzemowe ; morfologia powierzchni ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS

tin dioxide ; L-CVD thin film ; surface morphology ; atomic force microscopy ; AFM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS

20/32
Nr opisu: 0000063606   
Struktura i własności gradientowych powłok PVD na spiekanych materiałach narzędziowych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Ludwina* Żukowska.
Gliwice, 2010, 78 k., bibliogr. 167 poz. + zał.: 101 k. tabl.
Politechnika Śląska. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Promotor: prof. zw. dr hab. inż. Leszek** Dobrzański

materiały narzędziowe ; powłoka PVD ; powłoka gradientowa ; spektroskopia elektronów Augera ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów

tool materials ; PVD coating ; gradient coating ; Auger electron spectroscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy

21/32
Nr opisu: 0000056850   
Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, L. Ottaviano, Lucyna Grządziel, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 5, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.

półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; właściwości powierzchniowe ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; mikroskopia sił atomowych

organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; surface properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy

22/32
Nr opisu: 0000056438   
Local surface morphology and chemistry of SnO2 thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application.
[Aut.]: L. Ottaviano, Monika Kwoka, F. Bisti, P. Parisse, V. Grossi, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 22, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 1.727

dwutlenek cyny ; RGTO ; podłoże krzemowe ; stechiometria ; dyfrakcja rentgenowska ; wytrzymałość na zginanie ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów

tin dioxide ; Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO) ; surface morphology ; stoichiometry ; X-ray diffraction ; scanning electron microscopy ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy

23/32
Nr opisu: 0000048134   
X-ray photoelectron spectroscopy and full potential studies of the electronic density of state of ternary oxyborate Na3La9O3(BO3)8.
[Aut.]: A. H. Reshak, S. Auluck, Iwan* Kityk.
-J. Alloys Compd. 2009 vol. 472 iss. 1/2, s. 30-34

rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; struktura elektronowa ; obliczenia DFT ; metoda LDA ; metoda FP LAPW

X-ray photoelectron spectroscopy ; electronic structure ; DFT calculations ; LDA method ; FP LAPW method

24/32
Nr opisu: 0000056910   
XPS analysis of sonochemically prepared SbSl ethanogel.
[Aut.]: Marian** Nowak, E. Talik, Piotr Szperlich, D. Stróż.
-Appl. Surf. Sci. 2009 vol. 255 iss. 17, s. 7689-7694, bibliogr. 48 poz.. Impact Factor 1.616

rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; nanoprzewody ; półprzewodnik ; sonochemia

X-ray photoelectron spectroscopy ; nanowires ; semiconductor ; sonochemistry

25/32
Nr opisu: 0000047661   
A novel III-V semiconductor material for NO2 detection and monitoring.
[Aut.]: K. Wierzbowska, L. Bideux, Bogusława Adamowicz, A. Pauly.
-Sens. Actuators, A Phys. 2008 vol. 142 iss. 1, s. 237-241, bibliogr. 9 poz.

NO2 ; dwutlenek azotu ; InP ; fosforek indu ; XPS ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; spektroskopia elektronów Augera

NO2 ; nitrogen dioxide ; InP ; indium phosphide ; XPS ; X-ray photoelectron spectroscopy ; Auger electron spectroscopy

26/32
Nr opisu: 0000047690   
Analysis of mechanism of carbon removal from GaAs(1 0 0) surface by atomic hydrogen.
[Aut.]: Paweł* Tomkiewicz, A. Winkler, Maciej Krzywiecki, T. Chasse, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2008 vol. 254 iss. 24, s. 8035-8040, bibliogr. 42 poz.. Impact Factor 1.576

GaAs ; oczyszczanie ; wytrawianie ; wodór atomowy ; spektroskopia elektronów Augera ; spektrometria mas ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów

GaAs ; cleaning ; etching ; atomic hydrogen ; Auger electron spectroscopy ; mass spectrometry ; X-ray photoelectron spectroscopy

27/32
Nr opisu: 0000039951   
Influence of vehicular traffic on concentration and particle surface composition of PM10 and PM2.5 in Zabrze, Poland.
[Aut.]: Wioletta* Rogula-Kozłowska, Józef Pastuszka, E. Talik.
-Pol. J. Environ. Stud. 2008 vol. 17 no. 4, s. 539-548, bibliogr. 50 poz.. Impact Factor 0.963

aerozol atmosferyczny ; PM10 ; PM2.5 ; skład chemiczny ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; ruch drogowy

atmospheric aerosol ; PM10 ; PM2.5 ; chemical composition ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; road traffic

28/32
Nr opisu: 0000050262   
XPS and AES analysis of PVD coatings.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Ludwina* Żukowska, J. Kubacki, Klaudiusz Gołombek, Jarosław Mikuła.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2008 vol. 32 iss. 2, s. 99-102, bibliogr. 15 poz.

rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; spektroskopia elektronów Augera ; powłoka PVD

X-ray photoelectron spectroscopy ; Auger electron spectroscopy ; PVD coating

29/32
Nr opisu: 0000029516   
Chemical composition of passive layers formed on metallic biomaterials.
[Aut.]: Marcin Kaczmarek, Witold Walke, Wojciech Kajzer.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2007 vol. 28 nr 5, s. 273-276, bibliogr. 16 poz.

stop metaliczny ; biomateriały ; XPS ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; warstwa pasywna

metallic alloy ; biomaterials ; XPS ; X-ray photoelectron spectroscopy ; passive layer

30/32
Nr opisu: 0000031734
Chemical composition of surface layer of PM1, PM1-2.5, PM2.5-10.
[Aut.]: K. Klejnowski, E. Talik, Józef Pastuszka, Wioletta* Rogula, A. Krasa.
-Arch. Ochr. Środ. 2007 vol. 33 nr 3, s. 89-95, bibliogr. 11 poz.

aerozol atmosferyczny ; skład chemiczny ; warstwa powierzchniowa ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; PM1 ; PM2.5 ; PM10

atmospheric aerosol ; chemical composition ; surface layer ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; PM1 ; PM2.5 ; PM10

31/32
Nr opisu: 0000031735
Concentration level and surface chemical composition of urban airborne particles near crossroads in Zabrze, Poland.
[Aut.]: Wioletta* Rogula, Józef Pastuszka, E. Talik.
-Arch. Ochr. Środ. 2007 vol. 33 nr 2, s. 23-34, bibliogr. 28 poz.

zanieczyszczenie powietrza ; aerozol atmosferyczny ; PM10 ; PM2.5 ; pojazd samochodowy ; emisja spalin ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS

air pollution ; atmospheric aerosol ; PM10 ; PM2.5 ; motor vehicle ; exhaust gas emission ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS

32/32
Nr opisu: 0000031207   
Optical and chemical characteristics of the atmospheric aerosol in four towns in southern Poland.
[Aut.]: Józef Pastuszka, A. Wawroś, E. Talik, K. Paw U.
-Sci. Total Environ. 2003 vol. 309 iss. 1/3, s. 237-251, bibliogr. 31 poz.. Impact Factor 1.455

aerozol atmosferyczny ; filtr ; odbicie ; absorpcja ; XPS ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów

atmospheric aerosol ; filter ; reflection ; absorption ; XPS ; X-ray photoelectron spectroscopy

stosując format:
Nowe wyszukiwanie