Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PRZESŁUCH
Liczba odnalezionych rekordów: 7



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/7
Nr opisu: 0000099068   
New structure of test pattern generator stimulating crosstalks in bus-type connections.
[Aut.]: Tomasz Garbolino.
-Int. J. Electron. Telecommun. 2015 vol. 61 no. 1, s. 67-75, bibliogr. 38 poz.. Punktacja MNiSW 15.000

zintegrowane połączenia obwodu ; przesłuch ; generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; System on Chip

integrated circuit interconnections ; crosstalk ; test pattern generator ; built-in self test ; system-on-chip

2/7
Nr opisu: 0000100129   
NF-kB and IRF pathways: cross-regulation on target genes promoter level.
[Aut.]: Marta Iwanaszko, Marek Kimmel.
-BMC Genomics 2015 vol. 16, art. nr 307 s. 1-8, bibliogr. 38 poz.. Impact Factor 3.867. Punktacja MNiSW 40.000

NF-kB ; IRF3 ; czynnik transkrypcyjny ; przesłuch ; nieswoista odpowiedź odpornościowa

NF-kB ; IRF3 ; transcription factor ; crosstalk ; innate immune response

3/7
Nr opisu: 0000091808   
Designing of test pattern generators for stimulation of crosstalk faults in bus-type connections.
[Aut.]: Tomasz Garbolino.
W: Proceedings of the 2014 IEEE 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS, Warsaw, Poland, April 23-25, 2014. Eds.: Witold Pleskacz, Michel Renovell, Dominik Kasprowicz, Lukas Sekanina, Serge Bernard. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, s. 270-273, bibliogr. 22 poz.

układ scalony ; przesłuch ; generator obrazu kontrolnego ; system jednoukładowy ; wbudowane samotestowanie

integrated circuit ; crosstalk ; test pattern generator ; System on Chip ; built-in self test

4/7
Nr opisu: 0000056440   
Effective BIST for crosstalk faults in interconnects.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
W: Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS'2009, Liberec, Czech Republic, April 15-17, 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 164-169, bibliogr. 29 poz.

interkonekt ; przesłuch ; błąd dynamiczny ; tester wbudowany ; IBIST ; LFSR

interconnect ; crosstalk ; dynamic fault ; Interconnect Built-In Self-Test ; IBIST ; LFSR

5/7
Nr opisu: 0000048018   
Interconnect faults identification and localization using modified ring LFSRs.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 247-250, bibliogr. 12 poz.

LFSR ; diagnostyka błędów ; przesłuch ; wykrywanie błędów

LFSR ; fault diagnosis ; crosstalk ; fault detection

6/7
Nr opisu: 0000031907   
Crosstalk-insensitive method for testing of delay faults in interconnects between cores in SoCs.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, M. Kopeć, Andrzej** Hławiczka.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [Łódź] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007, s. 496-500, bibliogr. 10 poz.

test połączeń ; uszkodzenie opóźnieniowe ; przesłuch ; lokalizacja uszkodzeń ; identyfikacja uszkodzeń ; metoda test-per-clock

interconnect test ; delay fault ; crosstalk ; fault location ; fault identification ; test-per-clock method

7/7
Nr opisu: 0000031531   
LNA design for on-chip RF test.
[Aut.]: R. Ramzan, L. Zou, Jerzy** Dąbrowski.
W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 4236-4239, bibliogr. 8 poz.

bitowa stopa błędów ; testowanie układu ; przesłuch ; wykrywanie uszkodzeń ; transceiver

bit error rate ; circuit testing ; crosstalk ; fault detection ; transceiver

stosując format:
Nowe wyszukiwanie