Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PAMIĘĆ TYLKO DO ODCZYTU
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000028977   
Test pattern generator for delay faults.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki, Andrzej** Hławiczka.
-Theor. Appl. Informat. 2007 vol. 19 no. 1, s. 19-36, bibliogr. 6 poz.

uszkodzenie opóźnieniowe ; pary testowe ; MISR ; pamięć tylko do odczytu ; generator obrazu kontrolnego ; generator par testowych

delay fault ; test pairs ; MISR ; Read-Only Memory ; test pattern generator ; ROM

stosując format:
Nowe wyszukiwanie