Wynik wyszukiwania
Zapytanie: OBWÓD ELEKTRONICZNY
Liczba odnalezionych rekordów: 8



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/8
Nr opisu: 0000076455
Komputerowa analiza obwodów elektrycznych z wykorzystaniem programu SPICE. Zagadnienia podstawowe.
[Aut.]: Janusz** Walczak, Marian Pasko. Wyd. 4.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2012, 151 s., bibliogr. 8 poz.

obwód elektroniczny ; obwód elektryczny ; metoda CAD ; symulator elektroniczny

electronic circuit ; electric circuit ; CAD method ; electronic simulator

2/8
Nr opisu: 0000065478
Elementy liniowych obwodów elektrycznych i elektronicznych.
[Aut.]: Marian Pasko, Tomasz Adrikowski. Wyd. 2 popr..
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2011, 170 s., bibliogr.

obwód elektryczny ; obwód elektroniczny ; układ pasywny ; układ aktywny ; filtr dopasowany ; dwójnik

electric circuit ; electronic circuit ; passive system ; active system ; two-terminal network

3/8
Nr opisu: 0000065596
Zastosowanie programu SPICE w analizie obwodów elektrycznych i elektronicznych.
[Aut.]: Janusz** Walczak, Marian Pasko. Wyd. 2.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2011, 250 s., bibliogr. 12 poz.

obwód elektryczny ; obwód elektroniczny ; modelowanie ; symulator ; SPICE ; metoda CAD

electric circuit ; electronic circuit ; modelling ; simulator ; SPICE ; CAD method

4/8
Nr opisu: 0000052019
Elementy liniowych obwodów elektrycznych i elektronicznych. Synteza układów pasywnych.
[Aut.]: Marian Pasko, Tomasz Adrikowski.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2009, 170 s., bibliogr. 34 poz.

obwód elektryczny ; obwód elektroniczny ; układ pasywny ; układ aktywny ; filtr dopasowany ; dwójnik

electric circuit ; electronic circuit ; passive system ; active system ; matched filter ; two-terminal network

5/8
Nr opisu: 0000055677   
Fault diagnosis in analog electronic circuits - the SVM approach.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Metrol. Meas. Syst. 2009 vol. 16 nr 4, s. 582-597, bibliogr. 29 poz.

diagnostyka uszkodzeń ; obwód elektroniczny ; Maszyna Wektorów Nośnych ; SVM

fault diagnosis ; electronic circuit ; Support Vector Machine ; SVM

6/8
Nr opisu: 0000049105   
Specialised excitation and wavelet feature extraction in fault diagnosis of analog electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2008, Malta, 31st August - 3rd September 2008. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 242-246, bibliogr. 9 poz.

testowanie układu ; obwód elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; ekstrakcja cech ; pomiar czasu ; ocena efektywności

circuit testing ; electronic circuit ; fault diagnosis ; fault location ; feature extraction ; time measurement ; performance evaluation

7/8
Nr opisu: 0000025502   
Wprowadzenie do zagadnień analizy jakości energii elektrycznej.
[Aut.]: Marian Pasko, Marcin Maciążek, Dawid Buła.
-Wiad. Elektrot. 2007 R. 75 nr 4, s. 4-9, bibliogr. 17 poz.

jakość energii elektrycznej ; teoria mocy ; obwód elektroniczny

electric power quality ; power theory ; electronic circuit

8/8
Nr opisu: 0000007766
Recenzja. [Aut.]: Jerzy Barglik. -Śl. Wiad. Elektr. 2004 R. 11 nr 1, s. 60
[Praca recenzowana]: Zastosowanie programu SPICE w analizie obwodów elektrycznych i elektronicznych / J. Walczak, M. Pasko. Gliwice 2003

SPICE ; recenzja ; obwód elektroniczny ; obwód elektryczny

SPICE ; review ; electronic circuit ; electric circuit

stosując format:
Nowe wyszukiwanie