Wynik wyszukiwania
Zapytanie: MIKROSKOPIA SIŁ ATOMOWYCH
Liczba odnalezionych rekordów: 32



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/32
Nr opisu: 0000130586
Assessment of tribological properties of low friction thin layers produced by vacuum methods.
[Aut.]: Agnieszka Paradecka, Krzysztof Lukaszkowicz, J. Sondor.
W: Functional thin films and special coatings. Eds.: Tomasz Tański, Przemysław Snopiński. Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2019, s. 125-140 (Solid State Phenomena ; vol. 293 1662-9779)

mikroskopia sił atomowych ; AFM ; współczynnik tarcia ; cienkie warstwy o niskim tarciu ; SEM

atomic force microscopy ; AFM ; friction coefficient ; low friction thin layers ; SEM

2/32
Nr opisu: 0000130587
Comparison of the structure of AlCrSiN coating produced by planar and rotating arc technology.
[Aut.]: Justyna Galeja, Krzysztof Lukaszkowicz.
W: Functional thin films and special coatings. Eds.: Tomasz Tański, Przemysław Snopiński. Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2019, s. 141-153 (Solid State Phenomena ; vol. 293 1662-9779)

AlCrSiN ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; powłoka ; technologia planarna ARC ; PVD ; technologia rotacyjna LARC ; skaningowa mikroskopia elektronowa ; SEM ; transmisyjna mikroskopia elektronowa ; TEM ; trybologia

AlCrSiN ; atomic force microscopy ; AFM ; coating ; planar ARC technology ; PVD ; Rotating LARC Technology ; scanning electron microscopy ; SEM ; transmission electron microscopy ; TEM ; tribology

3/32
Nr opisu: 0000122026
Analiza powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych.
[Aut.]: Bogusław Ziębowicz, Marcin Staszuk, Paweł Jarka.
-LAB Laboratoria Apar. Bad. 2018 nr 1, s. 18-22, bibliogr. 7 poz.. Punktacja MNiSW 5.000

mikroskopia sił atomowych ; AFM ; badanie powierzchni ; cienka warstwa organiczna

atomic force microscopy ; AFM ; surface exploration ; thin organic film

4/32
Nr opisu: 0000124713
Multi-scale characterization and biological evaluation of composite surface layers produced under glow discharge conditions on NiTi shape memory alloy for potential cardiological application.
[Aut.]: A. Chlanda, J. Witkowska, J. Morgiel, Katarzyna Nowińska, E. Choińska, W. Swieszkowski, T. Wierzchoń.
-Micron 2018 vol. 114, s. 14-22, bibliogr. 47 poz.. Impact Factor 1.530. Punktacja MNiSW 30.000

mikroskopia sił atomowych ; spektroskopia sił ; utlenianie jarzeniowe ; proces RFCVD ; stop z pamięcią kształtu

atomic force microscopy ; force spectroscopy ; glow discharge oxidizing ; RFCVD process ; shape memory alloy

5/32
Nr opisu: 0000124893
The method of determining the characteristic features of graphene oxides by atomic force microscopy.
[Aut.]: Sabina Drewniak, R. Muzyka.
W: 13th Conference on Integrated Optics: Sensors, Sensing Structures, and Methods. Eds.: Przemyslaw Struk, Tadeusz Pustelny. Bellingham : SPIE, 2018, paper 1083011 s. 1-7 (Proceedings of SPIE ; vol. 10830 0277-786X)

mikroskopia sił atomowych ; zredukowany tlenek grafenu ; grafit ; metoda utleniania

atomic force microscopy ; reduced graphene oxide ; graphite ; method of oxidation

6/32
Nr opisu: 0000120189   
Thermal characterization of metal phthalocyanine layers using photothermal radiometry and scanning thermal microscopy methods.
[Aut.]: Dominika Trefon-Radziejewska, Justyna Juszczyk, A. Fleming, N. Horny, J. S. Antoniow, M. Chirtoc, Anna Kaźmierczak-Bałata, Jerzy Bodzenta.
-Synth. Met. 2017 vol. 232, s. 72-78, bibliogr. 43 poz.. Impact Factor 2.526. Punktacja MNiSW 30.000

półprzewodnik organiczny ; metaloftalocyjanina ; przewodność cieplna ; skaningowa mikroskopia termiczna ; mikroskopia sił atomowych ; radiometria fototermiczna

organic semiconductor ; metal phthalocyanine ; thermal conductivity ; scanning thermal microscopy ; atomic force microscopy ; photothermal radiometry

7/32
Nr opisu: 0000106201   
Mechanical properties of atomic layer deposition (ALD) TiO2 layers on stainless steel substrates.
[Aut.]: Marcin Basiaga, Marcin Staszuk, Witold Walke, Zbigniew Opilski.
-Materialwissensch. Werkstofftech. 2016 vol. 47 iss. 5/6, s. 512-520, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 0.524. Punktacja MNiSW 15.000

316 LVM ; TiO2 ; osadzanie warstw atomowych ; próba zarysowania ; nanotwardość ; elipsometria ; mikroskopia sił atomowych ; AFM

316 LVM ; TiO2 ; atomic layer deposition ; scratch test ; nanohardness ; ellipsometry ; atomic force microscopy ; AFM

8/32
Nr opisu: 0000115077
Mikroskopia sił atomowych w badaniach powierzchni materiałów stosowanych w protetyce stomatologicznej.
[Aut.]: Bogusław Ziębowicz, Anna Ziębowicz.
W: Biomateriały i mechanika w stomatologii. XVI konferencja, Ustroń, 13-16 października 2016 r. Program i streszczenia referatów. Red. Jacek Kasperski, Grzegorz Chladek, Sewer Kruczkowski. Ustroń : [b.w.], 2016, s. 85

materiał dentystyczny ; mikroskopia sił atomowych

dental material ; atomic force microscopy

9/32
Nr opisu: 0000116007
The study of parameters of the organic photovoltaic cells.
[Aut.]: Paweł Jarka, Tomasz Tański, B. Hajduk, M. Domański.
W: 1st International Conference InterNanoPoland 2016. International Conference Center, Katowice, 14-15 June, 2016. Abstracts book. Ed. Agnieszka Piekara, Karol Lemański. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2016, s. [33], bibliogr. 2 poz.

organiczne ogniwo fotowoltaiczne ; mikroskopia sił atomowych ; spektroskopia UV-Vis ; charakterystyka prądowo-napięciowa

organic solar cell ; atomic force microscopy ; UV-Vis spectroscopy ; current-voltage characteristic ; bulk heterojunction

10/32
Nr opisu: 0000116182
UV-VIS analysis of PVP/SiO2 thin films.
[Aut.]: Wiktor Matysiak, Sebastian Zieliński, Tomasz Tański.
W: 1st International Conference InterNanoPoland 2016. International Conference Center, Katowice, 14-15 June, 2016. Abstracts book. Ed. Agnieszka Piekara, Karol Lemański. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2016, s. [48], bibliogr. 3 poz.

cienka powłoka ; UV-Vis ; nanokompozyt PVP/SiO2 ; mikroskopia sił atomowych

thin film ; UV-Vis ; PVP/SiO2 nanocomposite ; atomic force microscopy

11/32
Nr opisu: 0000101974   
Badanie warstw powierzchniowych z zastosowaniem mikroskopu sił atomowych.
[Aut.]: E. Kotas, Marcin Staszuk.
W: Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'15". Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2015, s. 67-74, bibliogr. 15 poz. (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska nr 39)

mikroskopia sił atomowych ; warstwa powierzchniowa ; PVD

atomic force microscopy ; surface layer ; PVD

12/32
Nr opisu: 0000096044   
Correlation between morphology and local thermal properties of iron (II) phthalocyanine thin layers.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grządziel, Justyna Juszczyk, Anna Kaźmierczak-Bałata, A. Erbe, Jerzy Bodzenta.
-J. Phys., D Appl. Phys. 2014 vol. 47 iss. 33, Art. nr 335304, s. 1-7, bibliogr. 47. Impact Factor 2.721. Punktacja MNiSW 35.000

półprzewodnik organiczny ; morfologia FePc ; mikroskopia sił atomowych ; skaningowa mikroskopia termiczna ; warstwa cienka ; właściwości termiczne ; ftalocyjaniny żelaza

organic semiconductor ; FePc morphology ; atomic force microscopy ; scanning thermal microscopy ; thin film ; thermal properties ; iron phthalocyanine

13/32
Nr opisu: 0000093679   
Metoda atomowego osadzania cienkich warstw optycznych.
[Aut.]: Paulina Boryło, Marek Szindler, Magdalena Szindler.
W: Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'14". Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2014, s. 3-8, bibliogr. 12 poz. (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska nr 30)

atomowe osadzanie warstw ; mikroskopia sił atomowych ; elipsometria

atomic layer deposition ; atomic force microscopy ; ellipsometry

14/32
Nr opisu: 0000100976   
Metody charakteryzacji grafenu wykorzystywanego w sensorowych układach rezystancyjnych.
[Aut.]: Sabina Drewniak, Tadeusz Pustelny, W. Strupiński, I. Pasternak, Zbigniew Opilski.
-Pr. Nauk. PŚl., Elektr. 2014 R. 60 z. 2/3, s. 63-72, bibliogr. 15 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

grafen ; czujnik gazowy ; mikroskopia sił atomowych ; spektroskopia Ramana

graphene ; gas sensor ; atomic force microscopy ; Raman spectroscopy

15/32
Nr opisu: 0000094441   
Application of scanning microscopy to study correlation between thermal properties and morphology of BaTiO3 thin films.
[Aut.]: Anna Kaźmierczak-Bałata, Jerzy Bodzenta, Maciej Krzywiecki, Justyna Juszczyk, J. Szmidt, P. Firlek.
-Thin Solid Films 2013 vol. 545, s. 217-221, bibliogr. 26 poz.. Impact Factor 1.867. Punktacja MNiSW 30.000

mikroskopia sił atomowych ; tytanian baru ; warstwa cienka ; skaningowa mikroskopia termiczna ; właściwości termiczne

atomic force microscopy ; barium titanate ; thin film ; scanning thermal microscopy ; thermal properties

16/32
Nr opisu: 0000080338   
Influence of natural organic matter on fouling and ultrafiltration membranes properties - AFM analysis.
[Aut.]: Aleksandra* Płatkowska-Siwiec, Michał** Bodzek.
-Ecol. Chem. Eng. A 2012 vol. 19 no. 12, s. 1561-1570, bibliogr. 16 poz.. Punktacja MNiSW 7.000

fouling ; ultrafiltracja ; naturalna substancja organiczna ; mikroskopia sił atomowych

fouling ; ultrafiltration ; natural organic matter ; atomic force microscopy

17/32
Nr opisu: 0000078463   
Rozwój i zastosowanie zaawansowanych technik mikroskopii sił atomowych w diagnostyce materiałów elektrotechnicznych. Wybrane zagadnienia.
[Aut.]: Andrzej Sikora.
Warszawa : Instytut Elektrotechniki, 2012, 185 s., bibliogr. 419 poz.
(Prace Instytutu Elektrotechniki ; R. 59, z. 257 0032-6216)

mikroskopia sił atomowych ; diagnostyka powierzchni ; nanoskala ; elektrotechnika

atomic force microscopy ; surface diagnostics ; nanoscale ; electrotechnics

18/32
Nr opisu: 0000083538
Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych w badaniach cienkich warstw.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Dariusz Łukowiec.
W: Proceedings of the Eighteenth International Scientific Conference on Contemporary Achievements in Mechanics, Manufacturing and Materials Science. CAM3S'2012, Gliwice - Ustroń, 27th - 29th February 2012. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2012, s. 43, bibliogr. 3 poz.

mikroskopia sił atomowych ; warstwa cienka ; morfologia powierzchni

atomic force microscope ; thin film ; surface morphology

19/32
Nr opisu: 0000071375   
Changes of semifusinite and fusinite surface roughness during heat treatment determined by atomic force microscopy.
[Aut.]: Rafał Morga.
-Int. J. Coal Geol. 2011 vol. 88 iss. 4, s. 218-226, bibliogr.. Impact Factor 2.542. Punktacja MNiSW 30.000

węgiel ; inertynit ; semifuzynit ; fuzynit ; mikroskopia sił atomowych

coal ; inertinite ; semifusinite ; fusinite ; atomic force microscopy

20/32
Nr opisu: 0000077215   
Comparative study of surface morphology of copper phthalocyanine ultra thin films deposited on Si (111) native and RCA-cleaned substrates.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grządziel, Jerzy Bodzenta, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2012 vol. 520 iss. 11, s. 3965-3970, bibliogr. 35 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; obróbka RCA

organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy ; RCA treatment ; silicon native substrate

21/32
Nr opisu: 0000059306   
Carbon nanomaterials from carbon monoxide using nickel and cobalt catalysts.
[Aut.]: B. Liszka, A. Krztoń, Mirosława Pawlyta.
-Acta Phys. Pol. A 2010 vol. 118 no. 3, s. 471-474, bibliogr. 22 poz.. Impact Factor 0.467

nanocząstki ; tlenek węgla ; kataliza niklu ; kataliza kobaltu ; mikroskopia sił atomowych ; skaningowa mikroskopia elektronowa

nanoparticles ; carbon monoxide ; nickel catalysis ; cobalt catalysis ; atomic force microscopy ; scanning electron microscopy

22/32
Nr opisu: 0000063356   
Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2010 vol. 256 iss. 19, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz.. Impact Factor 1.795

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; podłoże krzemowe ; morfologia powierzchni ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS

tin dioxide ; L-CVD thin film ; surface morphology ; atomic force microscopy ; AFM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS

23/32
Nr opisu: 0000057727   
Studying of polyoxadiazole with Si atom in the backbone.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Paweł Jarka, Jan** Weszka, M. Bruma, J. Jurusik, Małgorzata* Chwastek, D. Mańkowski.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2010 vol. 42 nr 2, s. 77-84, bibliogr. 15 poz.

spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia sił atomowych ; spektroskopia w podczerwieni ; metoda spin-coating

UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy ; IR spectroscopy ; spin-coating method

24/32
Nr opisu: 0000056850   
Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, L. Ottaviano, Lucyna Grządziel, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 5, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.

półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; właściwości powierzchniowe ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; mikroskopia sił atomowych

organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; surface properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy

25/32
Nr opisu: 0000056438   
Local surface morphology and chemistry of SnO2 thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application.
[Aut.]: L. Ottaviano, Monika Kwoka, F. Bisti, P. Parisse, V. Grossi, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 22, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 1.727

dwutlenek cyny ; RGTO ; podłoże krzemowe ; stechiometria ; dyfrakcja rentgenowska ; wytrzymałość na zginanie ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów

tin dioxide ; Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO) ; surface morphology ; stoichiometry ; X-ray diffraction ; scanning electron microscopy ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy

26/32
Nr opisu: 0000056458   
Structure-property relationships in dimethacrylate networks based on Bis-GMA, UDMA and TEGDMA.
[Aut.]: Izabela Barszczewska-Rybarek.
-Dent. Mater. 2009 vol. 25 iss. 9, s. 1082-1089, bibliogr. 27 poz.. Impact Factor 2.882

dimetakrylan ; sieć polimerowa ; niejednorodność strukturalna ; właściwości mechaniczne ; mikroskopia sił atomowych ; proszkowa dyfrakcja rentgenowska

dimethacrylate ; polymer network ; structural heterogeneity ; mechanical properties ; atomic force microscopy ; X-ray powder diffraction

27/32
Nr opisu: 0000039992   
AFM study of the surface morphology of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2007 vol. 515 iss. 23, s. 8328-8331, bibliogr. 14 poz.. Impact Factor 1.693

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; mikroskopia sił atomowych ; morfologia powierzchni

tin dioxide ; L-CVD thin film ; atomic force microscopy ; surface morphology

28/32
Nr opisu: 0000039060
Structure, physical properties and multifractal characteristics of the PVD and CVD coatings deposition onto the Al2O3 + TiC ceramics.
[Aut.]: Waldemar Kwaśny, M. Woźniak, Jarosław Mikuła, Leszek** Dobrzański.
-Int. J. Comput. Mater. Sci. Surf. Eng. 2007 vol. 1 no. 1, s. 97-113, bibliogr. 16 poz.

analiza ; modelowanie ; komputerowa nauka o materiałach ; powłoka PVD ; geometria multifraktalna ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; powłoka CVD ; ceramika narzędziowa ; skład fazowy ; własności mechaniczne ; badanie grubości ; badanie twardości ; badanie chropowatości ; struktura powierzchni ; topografia powierzchni

analysis ; modelling ; computational materials science ; PVD coating ; multifractal geometry ; atomic force microscopy ; AFM ; CVD coating ; tool ceramics ; phase composition ; mechanical properties ; thickness test ; hardness test ; roughness test ; surface structure ; surface topography

29/32
Nr opisu: 0000036413   
Studies of surface properties of L-CVD SnO2 thin films. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Monika Kwoka.
Gliwice, 2007, 128 k., bibliogr. 84 poz. + zał.: 46 k.
Politechnika Śląska. Wydział Matematyczno-Fizyczny. Promotor: prof. dr hab. inż. Jacek Szuber

cienka warstwa SnO2 ; cienka powłoka L-CVD ; dwutlenek cyny ; spektroskopia fotoelektronowa ; mikroskopia sił atomowych ; chemia powierzchni ; własności elektronowe ; morfologia powierzchni ; osadzanie

SnO2 thin film ; L-CVD thin film ; tin dioxide ; photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy ; surface chemistry ; electronic properties ; surface morphology ; deposition

30/32
Nr opisu: 0000007979
Badania odporności korozyjnej stentów wieńcowych z uwzględnieniem specyfiki układu naczyń wieńcowych.
[Aut.]: Zbigniew Paszenda, Jadwiga** Tyrlik-Held, Z. Nawrat, Jerzy** Żak, K. Wilczek.
-Inż. Biomater. 2004 R. 7 nr 34, s. 26-33, bibliogr. 19 poz.
Tekst równoległy w jęz. ang.

stenty wieńcowe ; warstwa pasywno-węglowa ; stal Cr-Ni-Mo ; badanie korozyjne ; badanie zmęczeniowe ; mikroskopia sił atomowych

coronary stents ; passive-carbon layer ; Cr-Ni-Mo steel ; corrosion test ; fatigue test ; atomic force microscopy

31/32
Nr opisu: 0000015135   
Usefulness of passive-carbon layer for implants applied in interventional cardiology.
[Aut.]: Zbigniew Paszenda, Jadwiga** Tyrlik-Held, Z. Nawrat, Jerzy** Żak, K. Wilczek.
-J. Mater. Process. Technol. 2004 vol. 157/158, s. 399-404, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 0.578

stent wieńcowy ; warstwa pasywno-węglowa ; stal Cr-Ni-Mo ; korozja ; badanie zmęczeniowe ; mikroskopia sił atomowych

coronary stent ; passive-carbon layer ; Cr-Ni-Mo steel ; corrosion ; fatigue test ; atomic force microscopy

32/32
Nr opisu: 0000011623   
Surface morphology of the polyurethane-based pervaporation membrane studies by atomic force microscopy.. [Cz.] 1: Effect of the polyurethane molecular structure.
[Aut.]: A. Wolińska, Jerzy** Żak, A. Jankowski, J. Muszyński.
-J. Macromol. Sci. - Pure Appl. Chem. 2003 vol. A40 iss. 3, s. 225-237, bibliogr. 14 poz.. Impact Factor 0.681

poliuretan ; mikroskopia sił atomowych ; morfologia

polyurethane ; atomic force microscopy ; morphology

stosując format:
Nowe wyszukiwanie