Wynik wyszukiwania
Zapytanie: MIKROSKOP ELEKTRONOWY
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000096757   
Characteristic features of fine-grained coatings deposited on magnesium alloys.
[Aut.]: Tomasz Tański, Leszek** Dobrzański, S. Rusz, Wiktor Matysiak, M. Kraus.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2014 vol. 66 nr 1, s. 13-20, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 13.000

stop magnezu ; nanoszenie powłok ; metoda PVD ; mikroskop elektronowy

magnesium alloy ; coating deposition ; PVD method ; electron microscope

2/3
Nr opisu: 0000090970   
Characteristic of gradient/monolithic coatings deposited on magnesium alloys by PVD process.
[Aut.]: Tomasz Tański, Krzysztof Labisz, Krzysztof Lukaszkowicz.
W: 7o Congresso Brasileiro de Engenharia de Fabricacao. 7o COBEF, Penedo, Brasil, 20 a 24 de maio de 2013 = 7th Brazilian Congress on Manufacturing Engineering. [Dokument elektroniczny]. Rio de Janeiro : Associacao Brasileira de Engenharia e Ciencias Mecanicas - ABCM, 2013, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-7, bibliogr. 10 poz. (Anais do Congresso Brasileiro de Engenharia de Fabricacao ; 2236-0395)

stop magnezu ; metoda PVD ; mikroskop elektronowy ; osadzanie warstwy

magnesium alloy ; PVD method ; electron microscope ; coating deposition

3/3
Nr opisu: 0000084539
Electron microscope investigation of PVD coated aluminium alloy surface layer.
[Aut.]: Tomasz Tański, Krzysztof Labisz.
W: Electron microscopy XIV. Selected peer reviewed papers from the XIV International Conference on Electron Microscopy (EM 2011), Wisla, Poland, June 26-30, 2011. Ed. by D. Stróż and K. Prusik. Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2012, s. 192-197, bibliogr. 7 poz. (Solid State Phenomena ; vol. 186). Punktacja MNiSW 10.000

stop aluminium ; nakładanie powłok ; PVD ; mikroskop elektronowy ; warstwa wierzchnia

aluminium alloy ; coatings deposition ; PVD ; electron microscope ; surface layer

stosując format:
Nowe wyszukiwanie