Wynik wyszukiwania
Zapytanie: GENERATOR OBRAZU KONTROLNEGO
Liczba odnalezionych rekordów: 12



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/12
Nr opisu: 0000099068   
New structure of test pattern generator stimulating crosstalks in bus-type connections.
[Aut.]: Tomasz Garbolino.
-Int. J. Electron. Telecommun. 2015 vol. 61 no. 1, s. 67-75, bibliogr. 38 poz.. Punktacja MNiSW 15.000

zintegrowane połączenia obwodu ; przesłuch ; generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; System on Chip

integrated circuit interconnections ; crosstalk ; test pattern generator ; built-in self test ; system-on-chip

2/12
Nr opisu: 0000091808   
Designing of test pattern generators for stimulation of crosstalk faults in bus-type connections.
[Aut.]: Tomasz Garbolino.
W: Proceedings of the 2014 IEEE 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS, Warsaw, Poland, April 23-25, 2014. Eds.: Witold Pleskacz, Michel Renovell, Dominik Kasprowicz, Lukas Sekanina, Serge Bernard. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, s. 270-273, bibliogr. 22 poz.

układ scalony ; przesłuch ; generator obrazu kontrolnego ; system jednoukładowy ; wbudowane samotestowanie

integrated circuit ; crosstalk ; test pattern generator ; System on Chip ; built-in self test

3/12
Nr opisu: 0000081926   
Optimal on-line built-in self-test structure for system-reliability improvement.
[Aut.]: G. Papa, Tomasz Garbolino.
W: IEEE Congress on Evolutionary Computation, New Orleans, June 5-8, 2011. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 222-229, bibliogr. 29 poz.

generator obrazu kontrolnego ; algorytm genetyczny ; obwód ; sprzęt komputerowy

test pattern generator ; genetic algorithm ; circuit ; hardware

4/12
Nr opisu: 0000063532   
Genetic algorithm for test pattern generator design. Automatic evolution of circuits.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, G. Papa.
-Appl. Intell. 2010 vol. 32 nr 2, s. 193-204, bibliogr. 42 poz.. Impact Factor 0.893

optymalizacja ; algorytm genetyczny ; projekt ; generator obrazu kontrolnego

optimization ; genetic algorithm ; design ; test pattern generator

5/12
Nr opisu: 0000061262   
Testing of crosstalk-type dynamic faults in interconnection networks with use of ring LFSRs.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
-Prz. Elektrot. 2010 R. 86 nr 11a, s. 133-137, bibliogr. 22 poz.. Impact Factor 0.242

liniowy rejestr pierścieniowy ; generator obrazu kontrolnego ; system jednoukładowy ; przesłuchy ; sieć połączeń

linear ring register ; test pattern generator ; System on Chip ; crosstalks ; interconnection network

6/12
Nr opisu: 0000050838   
Testowanie dynamicznych uszkodzeń typu przesłuchy w sieciach połączeń przy użyciu rejestrów pierścieniowych R-LFSR.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino.
-Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 8, s. 572-574, bibliogr. 8 poz.

generator obrazu kontrolnego ; liniowy rejestr pierścieniowy ; przesłuchy ; sieć połączeń ; BIST ; LFSR ; R-LFSR

test pattern generator ; linear ring register ; crosstalks ; interconnection network ; BIST ; LFSR ; R-LFSR

7/12
Nr opisu: 0000059081   
Zmodyfikowany generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki.
W: Informatyka - sztuka czy rzemiosło. KNWS'09, Rydzyna, 3-5 czerwca 2009. Materiały 6. konferencji naukowej. Preprint. Zielona Góra : Instytut Informatyki i Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Informatyki i Telekomunikacji. Uniwersytet Zielonogórski, 2009, s. 48-50, bibliogr. 10 poz.

generator obrazu kontrolnego ; uszkodzenie opóźnieniowe ; MISR ; pary testowe

test pattern generator ; delay fault ; MISR ; test pairs

8/12
Nr opisu: 0000049584   
Zmodyfikowany generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki.
-Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 7, s. 435-437, bibliogr. 10 poz.

uszkodzenie opóźnieniowe ; rejestr MISR ; pary testowe ; generator obrazu kontrolnego

delay fault ; MISR ; test pairs ; test pattern generator ; TPG

9/12
Nr opisu: 0000028977   
Test pattern generator for delay faults.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki, Andrzej** Hławiczka.
-Theor. Appl. Informat. 2007 vol. 19 no. 1, s. 19-36, bibliogr. 6 poz.

uszkodzenie opóźnieniowe ; pary testowe ; MISR ; pamięć tylko do odczytu ; generator obrazu kontrolnego ; generator par testowych

delay fault ; test pairs ; MISR ; Read-Only Memory ; test pattern generator ; ROM

10/12
Nr opisu: 0000014398
On detection of interconnect faults by a MISR compactor - unknown problems and new solutions.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
-Arch. Informat. Teor. Stosow. 2005 t. 17 z. 2, s. 109-126, bibliogr. 19 poz.

BIST ; generator obrazu kontrolnego ; MISR

BIST ; test pattern generator ; MISR

11/12
Nr opisu: 0000098366
Integration of a long pattern generator composed of T-type flip-flops into a scan path.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
W: IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems. PDS 2003, Ostrava, Czech Republik, February 11th-13th, 2003. Preprints. Ostrava : VSB - Technicka univerzita Ostrava, 2003, s. 441-446, bibliogr. 7 poz.

generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; ścieżka skanowania ; skanowanie w trybie quasi ; przerzutnik

test pattern generator ; built-in self test ; scan path ; quasi-scan mode ; flip-flop

12/12
Nr opisu: 0000006309
Integration of a long test pattern generator composed of T-type flip-flops into a scan path.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
W: Programmable devices and systems 2003. (PDS 2003). A proceedings volume from the 6th IFAC Workshop, Ostrava, Czech Republik, 11-13 February 2003. Ed. by: V. Srovnal, K. Vlcek. Oxford : Pergamon Press, 2003, s. 281-286, bibliogr. 7 poz.

generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; ścieżka skanowania ; skanowanie w trybie quasi ; przerzutnik bistabilny typu T

test pattern generator ; built-in self test ; scan path ; quasi-scan mode ; T-type flip-flop

stosując format:
Nowe wyszukiwanie