Wynik wyszukiwania
Zapytanie: FOTOEMISJA
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000104508   
Ambience-related adsorbates on CuPc surface - photoemission and thermal desorption spectroscopy studies for control of organic electronics degradation processes.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, Maciej Krzywiecki.
-Synth. Met. 2015 vol. 210 pt. B, s. 141-147, bibliogr. 53 poz.. Impact Factor 2.299. Punktacja MNiSW 30.000

elektronika organiczna ; ftalocyjanina ; proces degradacji ; właściwości powierzchniowe ; fotoemisja ; desorpcja termiczna

organic electronics ; phthalocyanine ; degradation process ; surface properties ; photoemission ; thermal desorption

2/3
Nr opisu: 0000123726   
On the correlation between morphology and electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, Jerzy** Żak, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2003 vol. 436 iss. 1, s. 70-75, bibliogr. 23 poz.
Referat wygłoszony na: 3rd International Seminar on Semiconductor Gas Sensors. SGS'2002, Ustroń, Poland, 19-22 September 2002. Impact Factor 1.598

ftalocyjanina miedzi ; cienka powłoka ; fotoemisja ; mikroskop sił atomowych

copper phthalocyanine ; thin film ; photoemission ; atomic force microscope

3/3
Nr opisu: 0000011696   
On the correlation between the morphology and the electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, Jerzy** Żak, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2003 vol. 436 iss. 1, s. 70-75, bibliogr. 23 poz.. Impact Factor 1.598

ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; fotoemisja ; mikroskop sił atomowych

copper phthalocyanine ; thin film ; photoemission ; atomic force microscope

stosując format:
Nowe wyszukiwanie