Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ELIPSOMETRIA
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000106201   
Mechanical properties of atomic layer deposition (ALD) TiO2 layers on stainless steel substrates.
[Aut.]: Marcin Basiaga, Marcin Staszuk, Witold Walke, Zbigniew Opilski.
-Materialwissensch. Werkstofftech. 2016 vol. 47 iss. 5/6, s. 512-520, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 0.524. Punktacja MNiSW 15.000

316 LVM ; TiO2 ; osadzanie warstw atomowych ; próba zarysowania ; nanotwardość ; elipsometria ; mikroskopia sił atomowych ; AFM

316 LVM ; TiO2 ; atomic layer deposition ; scratch test ; nanohardness ; ellipsometry ; atomic force microscopy ; AFM

2/3
Nr opisu: 0000093679   
Metoda atomowego osadzania cienkich warstw optycznych.
[Aut.]: Paulina Boryło, Marek Szindler, Magdalena Szindler.
W: Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'14". Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2014, s. 3-8, bibliogr. 12 poz. (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska nr 30)

atomowe osadzanie warstw ; mikroskopia sił atomowych ; elipsometria

atomic layer deposition ; atomic force microscopy ; ellipsometry

3/3
Nr opisu: 0000067731   
Optical properties of silica antireflective films formed in sol-gel processes.
[Aut.]: J. Jaglarz, Paweł Karasiński, E. Skoczek.
-Phys. Status Solidi, C Curr. Top. Solid State Phys. 2011 vol. 8 iss. 9, s. 2645-2648, bibliogr. 9 poz.

antyrefleksyjna powłoka ; krzemionka porowata ; elipsometria ; zol-żel

antireflective coating ; porous silica ; ellipsometry ; sol-gel

stosując format:
Nowe wyszukiwanie