Wynik wyszukiwania
Zapytanie: DWUTLENEK CYNY
Liczba odnalezionych rekordów: 25



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/25
Nr opisu: 0000114163   
Comparative analysis of physico-chemical and gas sensing characteristics of two different forms of SnO2 films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, J. Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2017 vol. 401, s. 256-261, bibliogr. 19 poz.. Impact Factor 4.439. Punktacja MNiSW 35.000

dwutlenek cyny ; technologia RGTO ; krystaliczność ; morfologia ; chemia ; XRD ; SEM ; AFM ; XPS ; sensoryka NO2

tin dioxide ; RGTO technology ; crystallinity ; morphology ; chemistry ; XRD ; SEM ; AFM ; XPS ; NO2 sensor

2/25
Nr opisu: 0000113629
Nowe trendy w rozwoju czujników gazów toksycznych opartych na dwutlenku cyny.
[Aut.]: Monika Kwoka.
W: Prace Komisji Naukowych. z. 39-40. Katowice : Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach, 2016, s. 325-327

dwutlenek cyny ; czujnik gazu

tin dioxide ; gas sensor

3/25
Nr opisu: 0000096287   
Comparative analysis of physico-chemical and gas sensing characteristics of two different forms of SnO2 films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2014 vol. 326, s. 27-31, bibliogr. 20 poz.. Impact Factor 2.711. Punktacja MNiSW 35.000

dwutlenek cyny ; morfologia ; chemia ; odpowiedź czujnika

tin dioxide ; morphology ; chemistry ; sensor response

4/25
Nr opisu: 0000101036
Comparative analysis of the surface properties of tin dioxide SnO2 one-dimensional and two-diemnsional nanostructures. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Michał* Sitarz.
Gliwice, 2014, 79 k., bibliogr. 61 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: prof. dr hab. inż. Jacek Szuber, dr Monika Kwoka

nanostruktura SnO2 ; SnO2 ; dwutlenek cyny ; właściwości powierzchniowe ; analiza porównawcza

SnO2 nanostructure ; SnO2 ; tin dioxide ; surface properties ; comparative analysis

5/25
Nr opisu: 0000093503   
Niskowymiarowe nanostruktury dwutlenku cyny SnO2 w sensoryce gazów.
[Aut.]: Monika Kwoka, Jacek Szuber.
-Elektronika 2014 R. 55 nr 9, s. 39-44, bibliogr. 4 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

dwutlenek cyny ; SnO2 ; nanostruktura niskowymiarowa ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; charakterystyka sensorowa ; czujnik gazu

tin dioxide ; SnO2 ; low dimensional nanostructure ; surface chemistry ; surface morphology ; sensor characteristic ; gas sensor

6/25
Nr opisu: 0000093862
Niskowymiarowe nanostruktury SnO2 w sensoryce gazów.
[Aut.]: Monika Kwoka, Jacek Szuber.
W: Trzynasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 09-13.06.2014]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2014, s. 99
Pełny tekst na CD-ROM

struktura 2D ; struktura 1D ; dwutlenek cyny ; chemia ogólna ; morfologia ; sensoryka NO2

2D structure ; 1D structure ; tin dioxide ; general chemistry ; morphology ; NO2 sensor

7/25
Nr opisu: 0000096259   
XPS, TDS, and AFM studies of surface chemistry and morphology of Ag-covered L-CVD SnO2 nanolayers.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Piotr* Kościelniak, Jacek Szuber.
-Nanoscale Res. Lett. 2014 vol. 9 iss. 1, s. 1-6, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 2.779. Punktacja MNiSW 35.000

dwutlenek cyny ; SnO2 ; powłoki cienkie L-CVD ; domieszkowanie Ag ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; XPS ; TDS ; AFM

tin dioxide ; SnO2 ; L-CVD thin films ; Ag-doping ; surface chemistry ; surface morphology ; XPS ; TDS ; AFM

8/25
Nr opisu: 0000087782   
Badania wybranych nanostruktur SnO2 w aspekcie zastosowań sensorowych.
[Aut.]: Monika Kwoka, Jacek Szuber.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 9, s. 17-19, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

tlenek przewodzący ; dwutlenek cyny ; nanostruktura ; właściwości sensorowe

conductive oxide ; tin dioxide ; nanostructure ; sensor properties

9/25
Nr opisu: 0000087639   
Cienkie warstwy dwutlenku cyny w aspekcie zastosowań w mikroelektronice.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2013, 134 s., bibliogr. 19 poz.
(Monografia ; [Politechnika Śląska] nr 488)
Rozprawa habilitacyjna

dwutlenek cyny ; mikroelektronika ; warstwa cienka ; nanowarstwa

tin dioxide ; microelectronics ; thin coating ; nanolayer

10/25
Nr opisu: 0000075136
Optymalizacja technologii reotaksjalnego osadzania cienkich warstw wybranych tlenków przewodzących w aspekcie zastosowań sensorowych.
[Aut.]: Jacek Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz.
W: Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne. COE'2012. XII Konferencja naukowa, Karpacz, 24-27 czerwca 2012. Politechnika Wrocławska. [B.m] : [b.w.], 2012, s. 38, bibliogr. 5 poz.

tlenki przewodzące ; dwutlenek cyny ; trójtlenek indu ; technologia RGTO ; nanowarstwa

conductive oxides ; tin dioxide ; indium trioxide ; RGTO technology ; nanolayer

11/25
Nr opisu: 0000082832   
Photoemission studies of the surface electronic properties of L-CVD SnO2 ultra thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2012 vol. 258 iss. 21, s. 8425-8429, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 2.112. Punktacja MNiSW 30.000

cienka powłoka L-CVD ; poziom Fermiego ; dwutlenek cyny

L-CVD thin film ; Fermi level ; tin dioxide

12/25
Nr opisu: 0000071525   
X-ray photoelectron spectroscopy and thermal desorption spectroscopy comparative studies of L-CVD SnO2 ultra thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, Natalia Waczyńska, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 913-917, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

dwutlenek cyny ; L-CVD ; powłoka cienka ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; profilowanie głębokościowe ; spektroskopia termodesorpcyjna ; chemia powierzchni

tin dioxide ; L-CVD ; ultrathin film ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; depth profiling ; thermal desorption spectroscopy ; surface chemistry

13/25
Nr opisu: 0000063356   
Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2010 vol. 256 iss. 19, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz.. Impact Factor 1.795

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; podłoże krzemowe ; morfologia powierzchni ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS

tin dioxide ; L-CVD thin film ; surface morphology ; atomic force microscopy ; AFM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS

14/25
Nr opisu: 0000070273   
Nanowarstwy dwutlenku cyny SnO2 w aspekcie zastosowań w mikroelektronice.
[Aut.]: Jacek Szuber, Monika Kwoka.
W: IV Krajowa Konferencja Nanotechnologii. NANO 2010, Poznań, 28.06-02.07 2010. Program i streszczenia. Wydział Fizyki Technicznej Politechniki Poznańskiej [et al.].. Poznań : [b.w.], 2010, s. 68, bibliogr. 11 poz.

mikroelektronika ; dwutlenek cyny ; nanowarstwa ; warstwa cienka

microelectronics ; tin dioxide ; nanolayer ; thin coating

15/25
Nr opisu: 0000056438   
Local surface morphology and chemistry of SnO2 thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application.
[Aut.]: L. Ottaviano, Monika Kwoka, F. Bisti, P. Parisse, V. Grossi, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 22, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 1.727

dwutlenek cyny ; RGTO ; podłoże krzemowe ; stechiometria ; dyfrakcja rentgenowska ; wytrzymałość na zginanie ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów

tin dioxide ; Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO) ; surface morphology ; stoichiometry ; X-ray diffraction ; scanning electron microscopy ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy

16/25
Nr opisu: 0000050150   
Response to oxygen and chemical properties of SnO2 thin-film gas sensors.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Weronika Izydorczyk, Jacek Izydorczyk, Andrzej** Klimasek, Wiesław Jakubik, J. Żywicki.
-Vacuum 2008 vol. 82 iss. 10, s. 966-970, bibliogr. 16 poz.. Impact Factor 1.114

dwutlenek cyny ; RGTO ; adsorpcja tlenu ; spektroskopia elektronów Augera ; czujnik gazowy

tin dioxide ; RGTO technology ; oxygen adsorption ; Auger electron spectroscopy ; gas sensor

17/25
Nr opisu: 0000047687   
XPS study of the surface chemistry of Ag-covered L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2008 vol. 254 iss. 24, s. 8089-8092, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 1.576

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; domieszkowanie Ag ; XPS ; chemia powierzchni ; profilowanie głębokościowe

tin dioxide ; L-CVD thin film ; Ag-doping ; XPS ; surface chemistry ; depth profiling

18/25
Nr opisu: 0000039992   
AFM study of the surface morphology of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2007 vol. 515 iss. 23, s. 8328-8331, bibliogr. 14 poz.. Impact Factor 1.693

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; mikroskopia sił atomowych ; morfologia powierzchni

tin dioxide ; L-CVD thin film ; atomic force microscopy ; surface morphology

19/25
Nr opisu: 0000036413   
Studies of surface properties of L-CVD SnO2 thin films. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Monika Kwoka.
Gliwice, 2007, 128 k., bibliogr. 84 poz. + zał.: 46 k.
Politechnika Śląska. Wydział Matematyczno-Fizyczny. Promotor: prof. dr hab. inż. Jacek Szuber

cienka warstwa SnO2 ; cienka powłoka L-CVD ; dwutlenek cyny ; spektroskopia fotoelektronowa ; mikroskopia sił atomowych ; chemia powierzchni ; własności elektronowe ; morfologia powierzchni ; osadzanie

SnO2 thin film ; L-CVD thin film ; tin dioxide ; photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy ; surface chemistry ; electronic properties ; surface morphology ; deposition

20/25
Nr opisu: 0000025450   
Comparative photoemission study of the electronic properties of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7734-7738, bibliogr. 23 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005. Impact Factor 1.436

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; nakładanie L-CVD ; właściwości elektroniczne warstwy ładunku przestrzennego ; poziom Fermiego ; elektroniczne pasmo wzbronione

tin dioxide ; thin film ; L-CVD deposition ; electronic properties of space charge layer ; Fermi level ; electronic band gap

21/25
Nr opisu: 0000040010   
Phenomenological and spectroscopic studies on gas detection mechanism of selected gases with tin dioxide based sensors. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Dorota* Koziej.
Gliwice, 2006, 137 k., bibliogr. 160 poz. + zał. : 36 k.
Politechnika Śląska. Wydział Matematyczno-Fizyczny. University of Tubingen. Faculty of Chemistry and Pharmacy. Promotor: prof. dr hab. inż. Jacek Szuber, dr hab. U. Weimar

fenomenologia ; spektroskopia ; czujnik gazu ; detekcja gazu ; dwutlenek cyny

phenomenology ; spectroscopy ; gas sensor ; gas detection ; tin dioxide

22/25
Nr opisu: 0000025442   
XPS depth profiling studies of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7730-7733, bibliogr. 14 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005. Impact Factor 1.436

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; profilowanie głębokościowe ; XPS

tin dioxide ; thin film ; depth profiling ; XPS

23/25
Nr opisu: 0000021691   
Complementary phenomenological and spectroscopic studies of propane sensing with tin dioxide based sensors.
[Aut.]: Dorota* Koziej, N. Barsan, V. Hoffmann, Jacek Szuber, U. Weimar.
-Sens. Actuators, B Chem. 2005 vol. 108 iss. 1/2, s. 75-83, bibliogr. 32 poz.. Impact Factor 2.646

DRIFTS ; dwutlenek cyny ; propan ; sonda Kelvina

DRIFTS ; tin dioxide ; propane ; Kelvin probe

24/25
Nr opisu: 0000021700   
On the correlation between morphology and gas sensing properties of RGTO SnO2 thin films.
[Aut.]: Jacek Szuber, Jerzy Uljanow, Teresa** Buczek-Karczewska, Wiesław Jakubik, Krzysztof Waczyński, Monika Kwoka, Sławomir** Kończak.
-Thin Solid Films 2005 vol. 490 iss. 1, s. 54-58, bibliogr. 18 poz.. Impact Factor 1.569

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; osadzanie ; utlenianie

tin dioxide ; thin film ; deposition ; oxidation

25/25
Nr opisu: 0000021704   
XPS study of the surface chemistry of L-CVD SnO2 thin films after oxidation.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Grzegorz* Czempik, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2005 vol. 490 iss. 1, s. 36-42, bibliogr. 18 poz.. Impact Factor 1.569

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; osadzanie ; utlenianie

tin dioxide ; thin film ; deposition ; oxidation

stosując format:
Nowe wyszukiwanie