Wynik wyszukiwania
Zapytanie: DIAGNOSTYKA UKŁADÓW ANALOGOWYCH
Liczba odnalezionych rekordów: 12



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/12
Nr opisu: 0000075211   
Dobór pobudzenia testującego PWL za pomocą algorytmu SA z neuronową funkcją celu.
[Aut.]: Damian Grzechca.
-Prz. Elektrot. 2012 R. 88 nr 11b, s. 64-67, bibliogr. 9 poz.. Punktacja MNiSW 15.000

diagnostyka układów analogowych ; samoorganizująca się sieć neuronowa ; algorytm symulowanego wyżarzania ; optymalizacja pobudzenia

analog circuit diagnosis ; self-organizing neural network ; simulated annealing algorithm ; optimization of excitation

2/12
Nr opisu: 0000082692
Dobór pobudzenia testującego PWL za pomocą algorytmu SA z neuronową funkcją celu.
[Aut.]: Damian Grzechca.
W: Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012, s. 66
Pełny tekst na CD-ROM

diagnostyka układów analogowych ; samoorganizująca się sieć neuronowa ; algorytm symulowanego wyżarzania ; optymalizacja pobudzenia

analog circuit diagnosis ; self-organizing neural network ; simulated annealing algorithm ; optimization of excitation

3/12
Nr opisu: 0000082690
Zastosowanie transformaty Walsha-Hadamarda do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos.
W: Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012, s. 64
Pełny tekst na CD-ROM

analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka układów analogowych ; transformata Walsha-Hadamarda ; korelacja Pearsona ; regresja liniowa

analog electronic circuit ; analog circuit diagnosis ; Walsh-Hadamard transform ; Pearson correlation ; linear regression

4/12
Nr opisu: 0000052095   
Ewolucyjna metoda identyfikacji diagnostycznego stanu liniowego układu analogowego.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Prz. Elektrot. 2009 R. 85 nr 11, s. 135-138, bibliogr. 7 poz.. Impact Factor 0.196

diagnostyka układów analogowych ; ewolucja różnicowa ; transmitancja operatorowa

analog fault diagnosis ; differential evolution ; transfer function

5/12
Nr opisu: 0000031051
Ewolucyjny dobór częstotliwości sygnałów testujących z rozmytą inicjalizacją systemu.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 101-106, bibliogr. 12 poz.

diagnostyka układów analogowych ; obliczenia ewolucyjne ; zbiór rozmyty ; testowanie układu analogowego ; optymalizacja ewolucyjna

analog circuit diagnosis ; evolutionary computation ; fuzzy set ; analogue circuit testing ; evolutionary optimization ; evolutionary computations

6/12
Nr opisu: 0000031049
Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobudzenia testującego analogowe układy elektroniczne.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 83-88, bibliogr. 5 poz.

symulowane wyżarzanie ; optymalizacja pobudzenia ; testowanie układu analogowego ; diagnostyka układów analogowych ; algorytm symulowanego wyżarzania

simulated annealing ; optimization of excitation ; analogue circuit testing ; simulated annealing algorithm ; analog circuit diagnosis

7/12
Nr opisu: 0000031023
Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 71-76, bibliogr. 13 poz.

analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka układów analogowych ; klasyfikator neuronowy ; RBF ; sieć neuronowa ; słownik uszkodzeń ; metoda BKS ; modularna sieć neuronowa

analogue electronic circuit ; analog circuit diagnosis ; neural classifier ; RBF ; neural network ; dictionary of damages ; BKS method ; analog electronic circuit ; modular neural network ; dictionary of faults

8/12
Nr opisu: 0000016941
Creation of functional test - the neural network utilization.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Methods of artificial intelligence. AI-METH 2005. [Proceedings of the Symposium on Methods of Artificial Intelligence AI-METH 2005 and the Workshop on Knowledge Acquisition in Mechanical Engineering, Gliwice, Poland, 16-18 November 2005]. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, Polish Association for Computational Mechanics. [Gliwice] : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2005, s. 57-58, bibliogr. 5 poz.

sieć neuronowa ; perceptron wielowarstwowy ; analogowe wykrywanie usterek ; diagnostyka układów analogowych ; wykrywanie błędów

neural network ; multilayer perceptron ; analog faults detection ; analog fault diagnosis ; fault detection

9/12
Nr opisu: 0000017094
Creation of functional test - the neural network utilization.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Recent developments in artificial intelligence methods. AI-METH 2005. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, Polish Association for Computational Mechanics. Gliwice : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2005, s. 95-98, bibliogr. 8 poz.
pełny tekst na CD-ROM

sieć neuronowa ; perceptron wielowarstwowy ; analogowe wykrywanie usterek ; diagnostyka układów analogowych

neural network ; multilayer perceptron ; analog faults detection ; analog fault diagnosis

10/12
Nr opisu: 0000011198   
Entropy-based optimum test points selection for analog fault dictionary techniques.
[Aut.]: J. Starzyk, D. Liu, Z. Liu, D. Nelson, Jerzy** Rutkowski.
-IEEE Trans. Instrum. Meas. 2004 vol. 53 iss. 3, s. 754-761, bibliogr. 19 poz.. Impact Factor 0.446

diagnostyka układów analogowych ; słownik uszkodzeń ; teoria zbiorów przybliżonych ; punkt pomiarowy

analog fault diagnosis ; fault dictionary ; rough set theory ; test point

11/12
Nr opisu: 0000013970
Zastosowanie ewolucji różnicowej do projektowania odcinkowo-liniowego pobudzenia testującego analogowe układy elektroniczne.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 151-156, bibliogr. 7 poz.

diagnostyka układów analogowych ; pobudzenie testujące ; ewolucja różnicowa ; populacja ; genotyp

analog circuit diagnosis ; testing stimuli ; differential evolution ; population ; genotype

12/12
Nr opisu: 0000013074   
Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych do projektowania i diagnozowania analogowych układów elektronicznych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Tomasz Golonek.
Gliwice, 2003, 98 s., bibliogr. 53 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski

elektronika analogowa ; układ elektroniczny ; diagnostyka układów analogowych ; ewolucyjne techniki obliczeniowe ; programowanie genetyczne

analogue electronics ; electronic system ; analog circuit diagnosis ; evolutionary computational techniques ; genetic programming

stosując format:
Nowe wyszukiwanie