Wynik wyszukiwania
Zapytanie: DIAGNOSTYKA BŁĘDÓW
Liczba odnalezionych rekordów: 4



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu: 0000094229
Statistical approach to fault diagnosis of electrical circuits.
[Aut.]: Jan Machniewski, Lucjan** Karwan.
W: XXXVI Międzynarodowa Konferencja z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów. IC-SPETO 2013, Gliwice - Ustroń, 22-25.05.2013 = 36th International Conference on Fundamentals of Electrotechnics and Circuit Theory. Instytut Elektrotechniki i Informatyki Politechniki Śląskiej, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Systemów Informatyczno-Pomiarowych Politechniki Warszawskiej, Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej PTETiS. Oddział Gliwice-Opole. Gliwice : [Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Przemysłowej. Politechnika Śląska], 2013, s. 95-96, bibliogr. 5 poz.
Toż na CD-ROM

diagnostyka błędów ; parametry statystyczne ; wrażliwość

fault diagnosis ; statistical parameters ; sensitivity

2/4
Nr opisu: 0000048021   
Excitation optimization in fault diagnosis of analog electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 279-282, bibliogr. 9 poz.

układ analogowy ; diagnostyka błędów ; symulacja obwodów elektronicznych ; transformata falkowa

analog circuit ; fault diagnosis ; circuit system simulation ; wavelet transform

3/4
Nr opisu: 0000048018   
Interconnect faults identification and localization using modified ring LFSRs.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 247-250, bibliogr. 12 poz.

LFSR ; diagnostyka błędów ; przesłuch ; wykrywanie błędów

LFSR ; fault diagnosis ; crosstalk ; fault detection

4/4
Nr opisu: 0000048020   
The influence of global parametric faults on analogue electronic circuits time domain response features.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 299-303, bibliogr. 8 poz.

analogowy układ scalony ; analiza w dziedzinie czasu ; diagnostyka błędów

analog integrated circuit ; time domain analysis ; fault diagnosis

stosując format:
Nowe wyszukiwanie