Wynik wyszukiwania
Zapytanie: XPS
Liczba odnalezionych rekordów: 61



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/61
Nr opisu: 0000128259   
Effect of Au addition on the corrosion activity of Ca-Mg-Zn bulk metallic glasses in Ringer's solution.
[Aut.]: Rafał Babilas, R. Bajorek, P. Włodarczyk, Wojciech Łoński, Dawid Szyba, Dorota Babilas.
-Mater. Chem. Phys. 2019 vol. 226, s. 51-58, bibliogr. 39 poz.. Impact Factor 2.210. Punktacja MNiSW 35.000

szkło metaliczne na osnowie Ca ; korozja ; XPS ; ICP-AES

Ca-based bulk metallic glasse ; corrosion ; XPS ; ICP-AES ; hydrogen evaluation

2/61
Nr opisu: 0000120163   
Electronic structure and laser induced piezoelectricity of a new quaternary compound TlInGe3S8.
[Aut.]: O. Y. Khyzhun, A. O. Fedorchuk, I. V. Kityk, M. Piasecki, M. Yu. Mozolyuk, L. V. Piskach, O. V. Parasyuk, A. M. ElNaggar, A. A. Albassam, Paweł Karasiński.
-Mater. Chem. Phys. 2018 vol. 204, s. 336-344, bibliogr. 48 poz.. Impact Factor 2.210. Punktacja MNiSW 35.000

chalkogenidy ; struktura kryształu ; wzrost kryształów ; XPS ; piezoelektryczność

chalcogenides ; crystal structure ; crystal growth ; XPS ; piezoelectricity

3/61
Nr opisu: 0000121550   
Surface properties of nanostructured, porous ZnO thin films prepared by direct current reactive magnetron sputtering.
[Aut.]: Monika Kwoka, Barbara Łysoń-Sypień, Anna Kuliś, M. A. Borysiewicz, E. Kamińska, Jacek Szuber.
-Materials 2018 vol. 11 iss. 1, art. no 131 s. 1-11, bibliogr. 31 poz.. Impact Factor 2.467. Punktacja MNiSW 35.000

nanostruktura ZnO ; reaktywne rozpylanie magnetronowe ; XPS ; chemia powierzchni

ZnO nanostructure ; reactive magnetron sputtering ; XPS ; surface chemistry

4/61
Nr opisu: 0000122443   
The influence of atomic layer deposition process temperature on ZnO thin film structure.
[Aut.]: Paulina Boryło, Krzysztof Matus, Krzysztof Lukaszkowicz, J. Kubacki, K. Balin, Marcin Basiaga, Magdalena Szindler, Jarosław Mikuła.
-Appl. Surf. Sci. 2018 vol. 474, s. 177-186, bibliogr. 28 poz.. Impact Factor 4.439. Punktacja MNiSW 35.000

ZnO ; ALD ; TEM ; UV-Vis ; XPS ; ToF-SIMS

ZnO ; ALD ; TEM ; UV-Vis ; XPS ; ToF-SIMS

5/61
Nr opisu: 0000114163   
Comparative analysis of physico-chemical and gas sensing characteristics of two different forms of SnO2 films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, J. Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2017 vol. 401, s. 256-261, bibliogr. 19 poz.. Impact Factor 4.439. Punktacja MNiSW 35.000

dwutlenek cyny ; technologia RGTO ; krystaliczność ; morfologia ; chemia ; XRD ; SEM ; AFM ; XPS ; sensoryka NO2

tin dioxide ; RGTO technology ; crystallinity ; morphology ; chemistry ; XRD ; SEM ; AFM ; XPS ; NO2 sensor

6/61
Nr opisu: 0000115278
Impact of air exposure and annealing on the chemical and electronic properties of the surface of SnO2 nanolayers deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Monika Kwoka, Maciej Krzywiecki.
-Beilstein J. Nanotechnol. 2017 vol. 8, s. 514-521, bibliogr. 41 poz.. Impact Factor 2.968. Punktacja MNiSW 35.000

RGVO ; tlenek cyny ; XPS

RGVO ; tin oxide ; XPS

7/61
Nr opisu: 0000116389
Influence of oxygen-plasma treatment on AlGaN/GaN metal-oxide-semiconductor heterostructure field-effect transistors with HfO2 by atomic layer deposition: leakage current and density of states reduction.
[Aut.]: R. Stoklas, D. Gregusova, M. Blaho, K. Frohlich, J. Novak, Maciej* Matys, Z. Yatabe, P. Kordos, T. Hashizume.
-Semicond. Sci. Technol. 2017 vol. 32 iss. 4, art. no. 045018, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 2.280. Punktacja MNiSW 30.000

AlGaN/GaN ; stany międzypowierzchni ; dielektryk HfO2 ; XPS ; ALD

AlGaN/GaN ; interface states ; HfO2 dielectric ; XPS ; ALD ; oxygen-plasma treatment

8/61
Nr opisu: 0000120834   
Pure and highly Nb-doped titanium dioxide nanotubular arrays: characterization of local surface properties.
[Aut.]: Monika Kwoka, V. Galstyan, E. Comini, Jacek Szuber.
-Nanomaterials 2017 vol. 7 iss. 12, art. no. 456 s. 1-13, bibliogr. 43 poz.. Impact Factor 3.504. Punktacja MNiSW 35.000

nanorurki TiO2 ; domieszkowanie Nb ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; SEM

TiO2 nanotubes ; Nb-doping ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; SEM

9/61
Nr opisu: 0000107391   
Structure and properties of Al2O3 thin films deposited by ALD process.
[Aut.]: Paulina Boryło, Krzysztof Lukaszkowicz, Marek Szindler, J. Kubacki, K. Balin, Marcin Basiaga, Janusz Szewczenko.
-Vacuum 2016 vol. 131, s. 319-326, bibliogr. 26 poz.. Impact Factor 1.530. Punktacja MNiSW 25.000

powłoka cienka ; ALD ; adhezja ; korozja ; XPS ; AES ; SEM ; ToF-SIMS

thin film ; ALD ; adhesion ; corrosion ; XPS ; AES ; SEM ; ToF-SIMS

10/61
Nr opisu: 0000094448   
Electrochemical characterisation of X10CrNi 18-8 steel in artificial plasma.
[Aut.]: Joanna** Przondziono, Witold Walke.
-Metalurgija 2015 vol. 54 iss. 1, s. 63-66, bibliogr. 14 poz.. Punktacja MNiSW 25.000

stal X10CrNi18-8 ; sterylizacja parą wodną ; EIS ; XPS ; drut ; kardiologia inwazyjna

X10CrNi18-8 steel ; steam sterilization ; EIS ; XPS ; wire ; invasive cardiology

11/61
Nr opisu: 0000097729   
Potentiodynamic and XPS studies of X10CrNi18-8 steel after ethylene oxide sterilization.
[Aut.]: Witold Walke, Joanna** Przondziono.
-Mater. Tehnol. 2015 vol. 49 iss. 2, s. 223-227, bibliogr. 14 poz.. Impact Factor 0.439. Punktacja MNiSW 15.000

korozja wżerowa ; XPS ; sterylizacja tlenkiem etylenu ; stal austenityczna ; stal X10CrNi18-8

pitting corrosion ; XPS ; EO sterilization ; austenitic steel ; X10CrNi18-8 steel

12/61
Nr opisu: 0000100782   
Rheotaxial growth and vacuum oxidation - novel technique of tin oxide deposition. In situ monitoring of oxidation process.
[Aut.]: Monika Kwoka, Maciej Krzywiecki.
-Mater. Lett. 2015 vol. 154, s. 1-4, bibliogr. 16 poz.. Impact Factor 2.437. Punktacja MNiSW 35.000

SnO2 ; RGVO ; nanowarstwa ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; XPS ; AFM

SnO2 ; RGVO ; nanolayer ; surface chemistry ; surface morphology ; XPS ; AFM

13/61
Nr opisu: 0000103131   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation after air exposure.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, A. Grzeszczak, Jacek Szuber.
-Cryst. Res. Technol. 2015 vol. 50 iss. 11, s. 884-890, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 0.908. Punktacja MNiSW 20.000

tlenek indu ; In2O3 ; powłoka cienka ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM

indium oxide ; In2O3 ; ultrathin film ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM

14/61
Nr opisu: 0000094660   
Characteristics of CrAlSiN + DLC coating deposited by lateral rotating cathode arc PVD and PACVD process.
[Aut.]: Krzysztof Lukaszkowicz, J. Sondor, K. Balin, J. Kubacki.
-Appl. Surf. Sci. 2014 vol. 312, s. 126-133, bibliogr. 25 poz.. Impact Factor 2.711. Punktacja MNiSW 35.000

powłoka CrAlSiN ; powłoka DLC ; HRTEM ; SEM ; XPS ; AES ; ToF-SIMS ; AFM ; skład chemiczny ; właściwości tribologiczne

CrAlSiN film ; DLC film ; HRTEM ; SEM ; XPS ; AES ; ToF-SIMS ; AFM ; chemical composition ; tribological properties

15/61
Nr opisu: 0000092253
Electrochemical properties of AISI 316L after EO sterilization.
[Aut.]: Witold Walke, Joanna** Przondziono, J. Szade.
-Exp. Clin. Cardiol. 2014 vol. 20 iss. 6, s. 139-144, bibliogr. 15 poz.. Punktacja MNiSW 15.000

AISI 316L ; sterylizacja tlenkiem etylenu ; pasywacja chemiczna ; test potencjodynamiczny ; EIS ; XPS

AISI 316L ; EO sterilization ; chemical passivation ; potentiodynamic test ; EIS ; XPS

16/61
Nr opisu: 0000091089   
Surface chemistry of SnO2 nanowires on Ag-catalyst-covered Si substrate studied using XPS and TDS methods.
[Aut.]: Michał* Sitarz, Monika Kwoka, E. Comini, D. Zappa, Jacek Szuber.
-Nanoscale Res. Lett. 2014 vol. 9 iss. 1, s. 1-6, bibliogr. 24 poz.. Impact Factor 2.779. Punktacja MNiSW 35.000

SnO2 ; nanodruty ; Ag ; chemia powierzchni ; XPS ; TDS ; morfologia powierzchni ; SEM

SnO2 ; nanowires ; Ag ; surface chemistry ; XPS ; TDS ; surface morphology ; SEM

17/61
Nr opisu: 0000094194   
Surface properties of particles emitted from selected coal-fired heating plants and electric power stations in Poland. Preliminary results.
[Aut.]: Józef Pastuszka, J. Konieczyński, E. Talik.
-Arch. Environ. Prot. 2014 vol. 40 no. 3, s. 13-27, bibliogr. 41 poz.. Impact Factor 0.855. Punktacja MNiSW 15.000

emisja cząstek ; elektrownia węglowa ; ciepłownia węglowa ; chemia powierzchni ; pochłanianie właściwe ; XPS

particle emission ; coal-fired power station ; coal-fired heating station ; surface chemical composition ; specific absorption ; XPS

18/61
Nr opisu: 0000096259   
XPS, TDS, and AFM studies of surface chemistry and morphology of Ag-covered L-CVD SnO2 nanolayers.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Piotr* Kościelniak, Jacek Szuber.
-Nanoscale Res. Lett. 2014 vol. 9 iss. 1, s. 1-6, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 2.779. Punktacja MNiSW 35.000

dwutlenek cyny ; SnO2 ; powłoki cienkie L-CVD ; domieszkowanie Ag ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; XPS ; TDS ; AFM

tin dioxide ; SnO2 ; L-CVD thin films ; Ag-doping ; surface chemistry ; surface morphology ; XPS ; TDS ; AFM

19/61
Nr opisu: 0000086701   
Physicochemical and electrochemical properties of AISI 316L stainless steel used for implants in human urinary system.
[Aut.]: Witold Walke, Joanna** Przondziono.
-Arch. Metall. Mater. 2013 vol. 58 iss. 2, s. 625-630, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.763. Punktacja MNiSW 30.000

stal AISI 316L ; stal nierdzewna ; spektroskopia elektrochemicznej impedancji ; EIS ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; skaningowa mikroskopia elektronowa ; SEM

AlSI 316L steel ; stainless steel ; electrochemical impedance spectroscopy ; EIS ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; scanning electron microscopy ; SEM

20/61
Nr opisu: 0000087489   
Structural and phase analysis of CrAlSiN/DLC deposited by hybrid PVD/PACVD method.
[Aut.]: Krzysztof Lukaszkowicz, Leszek** Dobrzański.
-Inż. Mater. 2013 R. 34 nr 4, s. 320-323, bibliogr. 6 poz.. Punktacja MNiSW 13.000

powłoka CrAlSiN/DLC ; HRTEM ; AFM ; XPS

CrAlSiN/DLC coating ; HRTEM ; AFM ; XPS

21/61
Nr opisu: 0000075814
Badanie aerozoli bakteryjnych z oczyszczalni ścieków za pomocą elektronowego mikroskopu skaningowego z przystawką Cryo i spektroskopu fotoelektronów (XPS).
[Aut.]: J. Płoszaj-Pyrek, E. Talik, Józef Pastuszka, Z. Piotrowska-Seget.
W: Pierwsze Śląskie Seminarium Aerozolowe. Praca zbiorowa. Pod red. Józefa S. Pastuszki, Janusz Janeczka. Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2012, s. 43-47, bibliogr. 2 poz.

bioaerozol ; oczyszczalnia ścieków ; mikroskop elektronowy skaningowy ; XPS

bioaerosol ; sewage treatment plant ; scanning electron microscope ; XPS

22/61
Nr opisu: 0000077168   
Electrochemical polishing of Ti-13Nb-13Zr alloy.
[Aut.]: Wojciech Simka, M. Mosiałek, Ginter** Nawrat, P. Nowak, Jerzy** Żak, J. Szade, A. Winiarski, Artur Maciej, L. Szyk-Warszyńska.
-Surf. Coat. Technol. 2012 vol. 213, s. 239-246, bibliogr. 51 poz.. Impact Factor 1.941. Punktacja MNiSW 40.000

polerowanie elektrolityczne ; stop bezwanadowy ; Ti-13Nb-13Zr ; XPS ; EIS

electropolishing ; vanadium free alloy ; Ti-13Nb-13Zr ; XPS ; EIS

23/61
Nr opisu: 0000075128
Physical and chemical studies of bacterial bioaerosols at wastewater treatment plant using scanning electron mikroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy.
[Aut.]: J. Płoszaj, E. Talik, Z. Piotrowska-Seget, Józef Pastuszka.
W: Electron microscopy XIV. Selected peer reviewed papers from the XIV International Conference on Electron Microscopy (EM 2011), Wisla, Poland, June 26-30, 2011. Ed. by D. Stróż and K. Prusik. Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2012, s. 32-36, bibliogr. 11 poz. (Solid State Phenomena ; vol. 186). Punktacja MNiSW 10.000

bioaerozol ; bakterie ; oczyszczalnia ścieków ; skaningowa mikroskopia elektronowa ; SEM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; cryo-SEM

bioaerosol ; bacteria ; wastewater treatment plant ; scanning electron microscopy ; SEM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; cryo-SEM

24/61
Nr opisu: 0000080672   
The effect of Si substrate preparation on surface morphology and surface composition of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz, Erwin Maciak, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2012 vol. 258 iss. 21, s. 8419-8424, bibliogr. 34 poz.. Impact Factor 2.112. Punktacja MNiSW 30.000

powłoka cienka ; RGVO ; XPS ; AFM ; tlenek indu

ultrathin film ; RGVO ; XPS ; AFM ; indium oxide

25/61
Nr opisu: 0000082099
Optymalizacja technologii RGTO osadzania bardzo cienkich warstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
[Aut.]: Jacek Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 131
Pełny tekst na CD-ROM

tlenek przewodzący ; SnO2 ; In2O3 ; warstwa cienka ; nanowarstwa ; stechiometria ; morfologia powierzchni ; AFM ; XPS ; SEM

conductive oxide ; SnO2 ; In2O3 ; thin film ; nanolayer ; stoichiometry ; surface morphology ; AFM ; XPS ; SEM

26/61
Nr opisu: 0000071525   
X-ray photoelectron spectroscopy and thermal desorption spectroscopy comparative studies of L-CVD SnO2 ultra thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, Natalia Waczyńska, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 913-917, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

dwutlenek cyny ; L-CVD ; powłoka cienka ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; profilowanie głębokościowe ; spektroskopia termodesorpcyjna ; chemia powierzchni

tin dioxide ; L-CVD ; ultrathin film ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; depth profiling ; thermal desorption spectroscopy ; surface chemistry

27/61
Nr opisu: 0000071524   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, Ł. Pawela, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

In2O3 ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM

In2O3 ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM

28/61
Nr opisu: 0000063356   
Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2010 vol. 256 iss. 19, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz.. Impact Factor 1.795

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; podłoże krzemowe ; morfologia powierzchni ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS

tin dioxide ; L-CVD thin film ; surface morphology ; atomic force microscopy ; AFM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS

29/61
Nr opisu: 0000057772   
Physicochemical properties of Cr-Ni-Mo steel and Co-Cr-W-Ni alloy applied in urology.
[Aut.]: Witold Walke, Joanna** Przondziono.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2010 vol. 39 iss. 1, s. 27-34, bibliogr. 19 poz.

biomateriały ; sztuczny mocz ; odporność na korozję ; XPS

biomaterials ; artificial urine ; corrosion resistance ; XPS

30/61
Nr opisu: 0000071753   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, L. Pawela, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2010 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 1.935

In2O3 ; RGVO ; XPS ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; AFM

In2O3 ; RGVO ; XPS ; surface chemistry ; surface morphology ; AFM

31/61
Nr opisu: 0000050267   
Hard gradient (Ti,Al,Si)N coating deposited on composite tool materials.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Ludwina* Żukowska, Jarosław Mikuła, Klaudiusz Gołombek, T. Gawarecki.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2009 vol. 36 iss. 2, s. 69-75, bibliogr. 17 poz.

powłoka gradientowa ; XPS ; AES ; PVD ; ceramika tlenkowa

gradient coating ; XPS ; AES ; PVD ; oxide ceramics

32/61
Nr opisu: 0000047661   
A novel III-V semiconductor material for NO2 detection and monitoring.
[Aut.]: K. Wierzbowska, L. Bideux, Bogusława Adamowicz, A. Pauly.
-Sens. Actuators, A Phys. 2008 vol. 142 iss. 1, s. 237-241, bibliogr. 9 poz.

NO2 ; dwutlenek azotu ; InP ; fosforek indu ; XPS ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; spektroskopia elektronów Augera

NO2 ; nitrogen dioxide ; InP ; indium phosphide ; XPS ; X-ray photoelectron spectroscopy ; Auger electron spectroscopy

33/61
Nr opisu: 0000050509
Badania własności powłok PVD z wykorzystaniem technik AES i XPS.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Ludwina* Żukowska, Jarosław Mikuła.
W: Proceedings of the Fourteenth International Scientific Conference on Contemporary Achievements in Mechanics, Manufacturing and Materials Science. CAM3S'2008, Gliwice - Ryn, Poland, 22nd-25th June 2008. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2008, s. 34, bibliogr. 2 poz.

powłoka PVD ; AES ; XPS ; powłoka gradientowa

PVD coating ; AES ; XPS ; gradient coating

34/61
Nr opisu: 0000048131
Chemical, corrosion and topographical analysis of stainless steel implants after different implantation periods.
[Aut.]: Wojciech* Chrzanowski, A. Armitage, J. Knowles, J. Szade, W. Korlacki, Jan** Marciniak.
-J. Biomater. Appl. 2008 vol. 23 no. 1, s. 51-71. Impact Factor 1.635

stal nierdzewna 316L ; implant ; korozja ; klatka piersiowa lejkowata ; XPS ; AFM

316L stainless steel ; implant ; corrosion ; funnel chest ; XPS ; AFM

35/61
Nr opisu: 0000039951   
Influence of vehicular traffic on concentration and particle surface composition of PM10 and PM2.5 in Zabrze, Poland.
[Aut.]: Wioletta* Rogula-Kozłowska, Józef Pastuszka, E. Talik.
-Pol. J. Environ. Stud. 2008 vol. 17 no. 4, s. 539-548, bibliogr. 50 poz.. Impact Factor 0.963

aerozol atmosferyczny ; PM10 ; PM2.5 ; skład chemiczny ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; ruch drogowy

atmospheric aerosol ; PM10 ; PM2.5 ; chemical composition ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; road traffic

36/61
Nr opisu: 0000038739   
Physicochemical properties investigations of metallic urological stent after implantation.
[Aut.]: Jadwiga** Tyrlik-Held, Wojciech Kajzer, Witold Walke, J. Szade, A. Winiarski.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2008 vol. 27 iss. 2, s. 135-138, bibliogr. 12 poz.

biomateriały ; stent urologiczny ; XPS ; odporność korozyjna

biomaterials ; urological stent ; XPS ; corrosion resistance

37/61
Nr opisu: 0000038698   
Study on bioactivity of NiTinol after surface treatment.
[Aut.]: Wojciech* Chrzanowski, Witold Walke, D. Armitage, J. Knowles.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2008 vol. 31 iss. 1, s. 5-8, bibliogr. 21 poz.

stop nikiel-tytan ; utlenianie iskrowe ; bioaktywność ; AFM ; XPS ; odporność korozyjna

nickel-titanium alloy ; spark oxidation ; bioactivity ; AFM ; XPS ; corrosion resistance

38/61
Nr opisu: 0000047670   
X-ray photoelectron spectra and the electronic band structure for non-centrosymmetric Bi2ZnB2O7 nonlinear single crystal.
[Aut.]: A. H. Reshak, X. Chen, Iwan* Kityk, S. Auluck, K. Iliopoulos, S. Couris, R. Khenata.
-Curr. Opin. Solid State Mater. Sci. 2008 vol. 12 iss. 2, s. 26-31, bibliogr. 26 poz.. Impact Factor 2.976

Bi2ZnB2O7 ; XRD ; XPS ; DFT ; FPLAPW

Bi2ZnB2O7 ; XRD ; XPS ; DFT ; FPLAPW

39/61
Nr opisu: 0000047687   
XPS study of the surface chemistry of Ag-covered L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2008 vol. 254 iss. 24, s. 8089-8092, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 1.576

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; domieszkowanie Ag ; XPS ; chemia powierzchni ; profilowanie głębokościowe

tin dioxide ; L-CVD thin film ; Ag-doping ; XPS ; surface chemistry ; depth profiling

40/61
Nr opisu: 0000029516   
Chemical composition of passive layers formed on metallic biomaterials.
[Aut.]: Marcin Kaczmarek, Witold Walke, Wojciech Kajzer.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2007 vol. 28 nr 5, s. 273-276, bibliogr. 16 poz.

stop metaliczny ; biomateriały ; XPS ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; warstwa pasywna

metallic alloy ; biomaterials ; XPS ; X-ray photoelectron spectroscopy ; passive layer

41/61
Nr opisu: 0000031734
Chemical composition of surface layer of PM1, PM1-2.5, PM2.5-10.
[Aut.]: K. Klejnowski, E. Talik, Józef Pastuszka, Wioletta* Rogula, A. Krasa.
-Arch. Ochr. Środ. 2007 vol. 33 nr 3, s. 89-95, bibliogr. 11 poz.

aerozol atmosferyczny ; skład chemiczny ; warstwa powierzchniowa ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; PM1 ; PM2.5 ; PM10

atmospheric aerosol ; chemical composition ; surface layer ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; PM1 ; PM2.5 ; PM10

42/61
Nr opisu: 0000031735
Concentration level and surface chemical composition of urban airborne particles near crossroads in Zabrze, Poland.
[Aut.]: Wioletta* Rogula, Józef Pastuszka, E. Talik.
-Arch. Ochr. Środ. 2007 vol. 33 nr 2, s. 23-34, bibliogr. 28 poz.

zanieczyszczenie powietrza ; aerozol atmosferyczny ; PM10 ; PM2.5 ; pojazd samochodowy ; emisja spalin ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS

air pollution ; atmospheric aerosol ; PM10 ; PM2.5 ; motor vehicle ; exhaust gas emission ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS

43/61
Nr opisu: 0000029400   
Investigation of hard gradient PVD (Ti, Al, Si)N coating.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Ludwina* Wosińska, Klaudiusz Gołombek, T. Gawarecki.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2007 vol. 24 iss. 2, s. 59-62, bibliogr. 15 poz.

powłoka gradientowa ; XPS ; PVD ; ceramika tlenkowa ; wisker

gradient coating ; XPS ; PVD ; oxide ceramics ; whisker

44/61
Nr opisu: 0000031166
Nowoczesne technologie w termoizolacji stropodachów i fundamentów.
[Aut.]: E. Kosmala, Tomasz Steidl.
-Energ. i Budynek 2007 nr 6, s. 36-44

termoizolacja ; stropodach ; fundament ; XPS ; polistyren ekstrudowany

thermal insulation ; slab roof ; foundation ; XPS ; extruded polystyrene

45/61
Nr opisu: 0000028637   
Promoted cobalt oxide catalyst on the metallic structured reactor filling for VOC combustion as an alternative to noble metal catalysts.
[Aut.]: J. Łojewska, A. Kołodziej, Jerzy** Żak.
-Pol. J. Chem. Technol. 2007 vol. 9 nr 1, s. 15-19, bibliogr. 16 poz.

technika Langmuira-Blodgett'a ; spektroskopia Ramana ; XPS

Langmuir-Blodgett technique ; Raman spectroscopy ; XPS ; structured carrier ; wash-coat layer

46/61
Nr opisu: 0000025453   
XPS analysis of surface chemistry of near surface region of epiready GaAs(1 0 0) surface treated with (NH4)2Sx solution.
[Aut.]: Sebastian* Arabasz, E. Bergignat, G. Hollinger, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7659-7663, bibliogr. 32 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005. Impact Factor 1.436

GaAs ; pasywacja ; XPS ; siarkowanie

GaAs ; passivation ; XPS ; sulfidation

47/61
Nr opisu: 0000025442   
XPS depth profiling studies of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7730-7733, bibliogr. 14 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005. Impact Factor 1.436

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; profilowanie głębokościowe ; XPS

tin dioxide ; thin film ; depth profiling ; XPS

48/61
Nr opisu: 0000025543   
XPS study of surface chemistry of epiready GaAs(1 0 0) surface after (NH4)2Sx passivation.
[Aut.]: Sebastian* Arabasz, E. Bergignat, G. Hollinger, Jacek Szuber.
-Vacuum 2006 vol. 80 iss. 8, s. 888-893, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 0.834

GaAs ; siarkowanie ; pasywacja ; XPS ; półprzewodnik

GaAs ; sulfidation ; passivation ; XPS ; semiconductor

49/61
Nr opisu: 0000025436   
XPS, electric and photoluminescence-based analysis of the GaAs (1 0 0) nitridation.
[Aut.]: Z. Benamara, N. Mecirdi, B. Bouiadjra, L. Bideux, B. Gruzza, C. Robert, Marcin** Miczek, Bogusława Adamowicz.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 22, s. 7890-7894, bibliogr. 14 poz.. Impact Factor 1.436

azotowanie ; XPS ; pomiar wielkości elektrycznych ; fotoluminescencja

nitridation ; XPS ; electrical measurement ; photoluminescence

50/61
Nr opisu: 0000012509
Badania struktury warstwy pasywnej na implantach ze stali Cr-Ni-Mo.
[Aut.]: Zbigniew Paszenda, Jadwiga** Tyrlik-Held, J. Lelątko.
W: Materials, mechanical and manufacturing engineering. MMME'2005. Proceedings of the third scientific conference on the occasion of the 60th Anniversary of the Faculty of Mechanical Engineering of the Silesian University of Technology, Gliwice - Wisła, Poland, [16-19 maja 2005]. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : Organising Committee of the International Scientific Conferences Institute of Engineering Materials and Biomaterials of the Silesian University of Technology, 2005, s. 335-340, bibliogr. 11 poz.

stal Cr-Ni-Mo ; warstwa pasywna ; XPS ; wysokorozdzielcza mikroskopia elektronowa

Cr-Ni-Mo steel ; passive layer ; XPS ; high resolution electron microscopy

51/61
Nr opisu: 0000012018
Badania struktury warstwy pasywnej na implantach ze stali Cr-Ni-Mo.
[Aut.]: Zbigniew Paszenda, Jadwiga** Tyrlik-Held, J. Lelątko.
-NIT Nauka Innow. Tech. 2005 nr 2, s. 79-82, bibliogr. 11 poz.

stal Cr-Ni-Mo ; warstwa pasywna ; XPS ; wysokorozdzielcza mikroskopia elektronowa

Cr-Ni-Mo steel ; passive layer ; XPS ; high resolution electron microscopy

52/61
Nr opisu: 0000020040   
Chemical characterization of airborne bacteria using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and Fourier transform infrared spectroscopy (FTIRS).
[Aut.]: Józef Pastuszka, E. Talik, A. Hacura, J. Słoka, A. Wlazło.
-Aerobiologia 2005 vol. 21 no 3/4, s. 181-192, bibliogr. 32 poz.

bakterie zawieszone w powietrzu ; XPS ; FTIRS ; spektroskopia fourierowska

airborne bacteria ; XPS ; FTIRS ; Fourier spectroscopy

53/61
Nr opisu: 0000012723
Influence of the anodic oxidation on the physicochemical properties of the Ti6Al4V ELI alloy.
[Aut.]: Wojciech* Chrzanowski, Janusz Szewczenko, Jadwiga** Tyrlik-Held, Jerzy** Żak.
W: Achievements in mechanical and materials engineering. Proceedings of the 13th international scientific conference, Gliwice-Wisła, Poland, May 16-19, 2005. Ed. L. A. Dobrzański. Gliwice : Organising Committee of the International Scientific Conferences Institute of Engineering Materials and Biomaterials of the Silesian University of Technology, 2005, s. 71-78, bibliogr. 17 poz.

implant ; warstwa pasywna ; stop tytanu ; AFM ; chemiluminescencja ; XPS ; odporność korozyjna ; badanie

implant ; passive layer ; titanium alloy ; AFM ; chemiluminescence ; XPS ; corrosion resistance ; investigation

54/61
Nr opisu: 0000014791
Influence of the anodic oxidation on the physicochemical properties of the Ti6Al4V ELI alloy.
[Aut.]: Wojciech* Chrzanowski, Janusz Szewczenko, Jadwiga** Tyrlik-Held, Jerzy** Żak.
W: Worldwide Congress on Materials and Manufacturing Engineering and Technology. COMMENT'2005, Gliwice-Wisła, 16th-19th May 2005. [Dokument elektroniczny]. Congress proceedings - short papers. Ed. Leszek A. Dobrzański. [Gliwice] : [Komitet Organizacyjny Międzynarodowych Konferencji Naukowych Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej], [2005], dysk optyczny (CD-ROM) [Ref. 1.706 s. 1-8], bibliogr. 17 poz.

implant ; warstwa pasywna ; stop tytanu ; AFM ; chemiluminescencja ; XPS ; odporność korozyjna ; badanie

implant ; passive layer ; titanium alloy ; AFM ; chemiluminescence ; XPS ; corrosion resistance ; investigation

55/61
Nr opisu: 0000023386
Influence of the anodic oxidation on the physicochemical properties of the Ti6Al4V ELI alloy.
[Aut.]: Wojciech* Chrzanowski, Janusz Szewczenko, Jadwiga** Tyrlik-Held, Jan** Marciniak, Jerzy** Żak.
W: Programme & abstracts of the Worldwide Congress on Materials and Manufacturing Engineering and Technology. COMMENT'2005, Gliwice-Wisła, 16th-19th May 2005. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : Organising Committee of the International Scientific Conferences Institute of Engineering Materials and Biomaterials of the Silesian University of Technology, 2005, s. 92

implant ; warstwa pasywna ; stop tytanu ; AFM ; chemiluminescencja ; XPS ; odporność korozyjna ; badanie

implant ; passive layer ; titanium alloy ; AFM ; chemiluminescence ; XPS ; corrosion resistance ; investigation

56/61
Nr opisu: 0000016629   
Influence of the anodic oxidation on the physicochemical properties of the Ti6Al4V ELI alloy.
[Aut.]: Wojciech* Chrzanowski, Janusz Szewczenko, Jadwiga** Tyrlik-Held, Jan** Marciniak, Jerzy** Żak.
-J. Mater. Process. Technol. 2005 vol. 162/163, s. 163-168, bibliogr. 17 poz.
Zawiera materiały z: 8th International Scientific Conference on Advances in Materials & Processing Technologies &13th International Scientific Conference on Achievements in Mechanical & Materials Engineering in the framework of Worldwide Congress on Materials and Manufacturing Engineering and Technology, Gliwice-Wisła, Poland, 16-19 May 2005. Impact Factor 0.592

implant ; warstwa pasywna ; stop tytanu ; AFM ; XPS ; odporność korozyjna

implant ; passive layer ; titanium alloy ; AFM ; XPS ; corrosion resistance

57/61
Nr opisu: 0000021694   
Nitridation of InP(100) surface studied by synchrotron radiation.
[Aut.]: M. Petit, D. Baca, Sebastian* Arabasz, L. Bideux, N. Tsud, D. Fabik, B. Gruzza, V. Chab, V. Matolin, K. Prince.
-Surf. Sci. 2005 vol. 583 iss. 2/3, s. 205-212, bibliogr. 18 poz.. Impact Factor 1.780

azotowanie ; promieniowanie synchrotronowe ; XPS ; fosforek indu

nitridation ; synchrotron radiation ; XPS ; indium phosphide

58/61
Nr opisu: 0000021693   
Passivation of InP(100) substrates: first stages of nitridation by thin InN surface overlayers studied by electron spectroscopies.
[Aut.]: M. Petit, C. Robert-Goumet, L. Bideux, B. Gruzza, V. Matolin, Sebastian* Arabasz, Bogusława Adamowicz, D. Wawer, M. Bugajski.
-Surf. Interface Anal. 2005 vol. 37 iss. 7, s. 615-620, bibliogr. 20 poz.. Impact Factor 0.918

InN ; fosforek indu ; azotowanie ; AES ; XPS ; fotoluminescencja ; spektroskopia elektronowa

InN ; indium phosphide ; nitridation ; AES ; XPS ; photoluminescence ; electron spectroscopy

59/61
Nr opisu: 0000014969
Structure investigations of passive layer on Cr-Ni-Mo steel implants.
[Aut.]: Zbigniew Paszenda, Jadwiga** Tyrlik-Held, J. Lelątko.
W: Worldwide Congress on Materials and Manufacturing Engineering and Technology. COMMENT'2005, Gliwice-Wisła, 16th-19th May 2005. [Dokument elektroniczny]. Congress proceedings - short papers. Ed. Leszek A. Dobrzański. [Gliwice] : [Komitet Organizacyjny Międzynarodowych Konferencji Naukowych Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej], [2005], dysk optyczny (CD-ROM) [Ref. 4.858 s. 1-4], bibliogr. 11 poz.

stal Cr-Ni-Mo ; warstwa pasywna ; XPS ; HRM

Cr-Ni-Mo steel ; passive layer ; XPS ; HRM

60/61
Nr opisu: 0000031207   
Optical and chemical characteristics of the atmospheric aerosol in four towns in southern Poland.
[Aut.]: Józef Pastuszka, A. Wawroś, E. Talik, K. Paw U.
-Sci. Total Environ. 2003 vol. 309 iss. 1/3, s. 237-251, bibliogr. 31 poz.. Impact Factor 1.455

aerozol atmosferyczny ; filtr ; odbicie ; absorpcja ; XPS ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów

atmospheric aerosol ; filter ; reflection ; absorption ; XPS ; X-ray photoelectron spectroscopy

61/61
Nr opisu: 0000004815   
Seasonal variation in the chemical composition and morphology of aerosol particles in the centre of Katowice, Poland.
[Aut.]: A. Wawroś, E. Talik, Michał** Żelechower, Józef Pastuszka, D. Skrzypek, Z. Ujma.
-Pol. J. Environ. Stud. 2003 vol. 12 no. 5, s. 619-627, bibliogr. 19 poz.. Impact Factor 0.461

aerozol ; SEM ; EDS ; XPS ; EPR

aerosol ; SEM ; EDS ; XPS ; EPR

stosując format:
Nowe wyszukiwanie