Wynik wyszukiwania
Zapytanie: RGVO
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000115278
Impact of air exposure and annealing on the chemical and electronic properties of the surface of SnO2 nanolayers deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Monika Kwoka, Maciej Krzywiecki.
-Beilstein J. Nanotechnol. 2017 vol. 8, s. 514-521, bibliogr. 41 poz.. Impact Factor 2.968. Punktacja MNiSW 35.000

RGVO ; tlenek cyny ; XPS

RGVO ; tin oxide ; XPS

2/6
Nr opisu: 0000100782   
Rheotaxial growth and vacuum oxidation - novel technique of tin oxide deposition. In situ monitoring of oxidation process.
[Aut.]: Monika Kwoka, Maciej Krzywiecki.
-Mater. Lett. 2015 vol. 154, s. 1-4, bibliogr. 16 poz.. Impact Factor 2.437. Punktacja MNiSW 35.000

SnO2 ; RGVO ; nanowarstwa ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; XPS ; AFM

SnO2 ; RGVO ; nanolayer ; surface chemistry ; surface morphology ; XPS ; AFM

3/6
Nr opisu: 0000103131   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation after air exposure.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, A. Grzeszczak, Jacek Szuber.
-Cryst. Res. Technol. 2015 vol. 50 iss. 11, s. 884-890, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 0.908. Punktacja MNiSW 20.000

tlenek indu ; In2O3 ; powłoka cienka ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM

indium oxide ; In2O3 ; ultrathin film ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM

4/6
Nr opisu: 0000080672   
The effect of Si substrate preparation on surface morphology and surface composition of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz, Erwin Maciak, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2012 vol. 258 iss. 21, s. 8419-8424, bibliogr. 34 poz.. Impact Factor 2.112. Punktacja MNiSW 30.000

powłoka cienka ; RGVO ; XPS ; AFM ; tlenek indu

ultrathin film ; RGVO ; XPS ; AFM ; indium oxide

5/6
Nr opisu: 0000071524   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, Ł. Pawela, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

In2O3 ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM

In2O3 ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM

6/6
Nr opisu: 0000071753   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, L. Pawela, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2010 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 1.935

In2O3 ; RGVO ; XPS ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; AFM

In2O3 ; RGVO ; XPS ; surface chemistry ; surface morphology ; AFM

stosując format:
Nowe wyszukiwanie