Wynik wyszukiwania
Zapytanie: MISR
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000124788   
A method to support diagnostics of dynamic faults in networks of interconnections.
[Aut.]: Tomasz Garbolino.
-Int. J. Electron. Telecommun. 2018 vol. 64 nr 3, s. 407-420, bibliogr. 20 poz.. Punktacja MNiSW 15.000

sieć połączeń ; system-on-chip ; diagnostyka ; MISR ; kompakcja ; sygnatura ; chińskie twierdzenie o resztach

network of interconnections ; system-on-chip ; diagnostics ; MISR ; compaction ; signature ; Chinese Remainder Theorem

2/6
Nr opisu: 0000057268   
An algorithm of the test pairs minimization by means of the incompatibility graph.
[Aut.]: Robert Czerwiński, Tomasz Rudnicki.
-Pomiary Autom. Kontr. 2010 vol. 56 nr 6, s. 573-575, bibliogr. 6 poz.

MISR ; uszkodzenie opóźnieniowe ; testowanie ; pary testowe

MISR ; delay fault ; two-pattern testing

3/6
Nr opisu: 0000059081   
Zmodyfikowany generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki.
W: Informatyka - sztuka czy rzemiosło. KNWS'09, Rydzyna, 3-5 czerwca 2009. Materiały 6. konferencji naukowej. Preprint. Zielona Góra : Instytut Informatyki i Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Informatyki i Telekomunikacji. Uniwersytet Zielonogórski, 2009, s. 48-50, bibliogr. 10 poz.

generator obrazu kontrolnego ; uszkodzenie opóźnieniowe ; MISR ; pary testowe

test pattern generator ; delay fault ; MISR ; test pairs

4/6
Nr opisu: 0000029358   
Generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki.
-Pomiary Autom. Kontr. 2007 nr 7, s. 95-97, bibliogr. 3 poz.

MISR ; pary testowe ; pokrycie uszkodzeń ; CUT ; ROM

MISR ; test pairs ; cover of delay faults ; CUT ; ROM

5/6
Nr opisu: 0000028977   
Test pattern generator for delay faults.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki, Andrzej** Hławiczka.
-Theor. Appl. Informat. 2007 vol. 19 no. 1, s. 19-36, bibliogr. 6 poz.

uszkodzenie opóźnieniowe ; pary testowe ; MISR ; pamięć tylko do odczytu ; generator obrazu kontrolnego ; generator par testowych

delay fault ; test pairs ; MISR ; Read-Only Memory ; test pattern generator ; ROM

6/6
Nr opisu: 0000014398
On detection of interconnect faults by a MISR compactor - unknown problems and new solutions.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
-Arch. Informat. Teor. Stosow. 2005 t. 17 z. 2, s. 109-126, bibliogr. 19 poz.

BIST ; generator obrazu kontrolnego ; MISR

BIST ; test pattern generator ; MISR

stosując format:
Nowe wyszukiwanie