Wynik wyszukiwania
Zapytanie: VOLTAGE-CONTROLLED OSCILLATOR
Liczba odnalezionych rekordów: 4



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu: 0000124370   
Application of neural network for testing selected specification parameters of voltage-controlled oscillator.
[Aut.]: Damian Grzechca, Sebastian Temich.
-Int. J. Electron. Telecommun. 2018 vol. 64 nr 2, s. 203-207, bibliogr. 12 poz.. Punktacja MNiSW 15.000

testowanie sterowane specyfikacją ; oscylator sterowany napięciem ; oscylator pierścieniowy ; sztuczna sieć neuronowa

specification driven testing ; voltage-controlled oscillator ; ring oscillator ; artificial neural network

2/4
Nr opisu: 0000127773   
Identification of the specification parameters for a voltage controlled oscillator using an artificial neural network with a genetic algorithm.
[Aut.]: Sebastian Temich, Łukasz Chruszczyk, Damian Grzechca.
-Elektron. Elektrotech. 2018 vol. 24 no. 6, s. 42-49, bibliogr. 26 poz.. Impact Factor 1.088. Punktacja MNiSW 15.000

oscylator sterowany napięciem ; parametry specyfikacji projektowej ; identyfikacja uszkodzeń ; algorytm genetyczny ; optymalizacja ; sztuczna sieć neuronowa

voltage-controlled oscillator ; specification parameters ; identification ; genetic algorithm ; optimisation ; artificial neural network

3/4
Nr opisu: 0000125326   
Spot defect analysis to identify the functional parameters of a Voltage Controlled Oscillator.
[Aut.]: Sebastian Temich, Damian Grzechca, Łukasz Chruszczyk, Krzysztof Tokarz.
W: 15th IFAC Conference on Programmable Devices and Embedded Systems. PDeS 2018, Ostrava, Czech Republic, 23-25 May 2018. Ed. by Zdenek Slanina. Amsterdam : Elsevier, 2018 (IFAC-PapersOnLine ; vol. 51, iss. 6 2405-8963)

elektronika analogowo-cyfrowa ; testowanie analogowo-cyfrowe ; oscylator sterowany napięciem ; algorytm genetyczny ; sztuczna sieć neuronowa ; wada punktowa

mixed-signal electronics ; mixed-signal testing ; voltage-controlled oscillator ; genetic algorithm ; artificial neural network ; spot defect

4/4
Nr opisu: 0000116530   
Application of Neural Network for Testing Voltage-Controlled Oscillators.
[Aut.]: Sebastian Temich, Damian Grzechca.
W: 14th IFAC Conference on Programmable Devices and Embedded Systems. PDES 2016 Brno, Czech Republic, 5-7 October 2016. Ed. by Zdenek Bradac. Amsterdam : Elsevier, 2016, s. 407-412, bibliogr. 14 poz. (IFAC-PapersOnLine ; vol. 49, iss. 25 2405-8963)

pętla synchronizacji fazowej ; pompa zasilająca ; oscylator sterowany napięciem ; sieć neuronowa

phase locked loop ; charge-pump ; voltage-controlled oscillator ; neural network

stosując format:
Nowe wyszukiwanie