Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ULTRATHIN FILM
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000103131   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation after air exposure.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, A. Grzeszczak, Jacek Szuber.
-Cryst. Res. Technol. 2015 vol. 50 iss. 11, s. 884-890, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 0.908. Punktacja MNiSW 20.000

tlenek indu ; In2O3 ; powłoka cienka ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM

indium oxide ; In2O3 ; ultrathin film ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM

2/3
Nr opisu: 0000080672   
The effect of Si substrate preparation on surface morphology and surface composition of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz, Erwin Maciak, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2012 vol. 258 iss. 21, s. 8419-8424, bibliogr. 34 poz.. Impact Factor 2.112. Punktacja MNiSW 30.000

powłoka cienka ; RGVO ; XPS ; AFM ; tlenek indu

ultrathin film ; RGVO ; XPS ; AFM ; indium oxide

3/3
Nr opisu: 0000071525   
X-ray photoelectron spectroscopy and thermal desorption spectroscopy comparative studies of L-CVD SnO2 ultra thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, Natalia Waczyńska, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 913-917, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

dwutlenek cyny ; L-CVD ; powłoka cienka ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; profilowanie głębokościowe ; spektroskopia termodesorpcyjna ; chemia powierzchni

tin dioxide ; L-CVD ; ultrathin film ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; depth profiling ; thermal desorption spectroscopy ; surface chemistry

stosując format:
Nowe wyszukiwanie