Wynik wyszukiwania
Zapytanie: TWO-PATTERN TESTING
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000057268   
An algorithm of the test pairs minimization by means of the incompatibility graph.
[Aut.]: Robert Czerwiński, Tomasz Rudnicki.
-Pomiary Autom. Kontr. 2010 vol. 56 nr 6, s. 573-575, bibliogr. 6 poz.

MISR ; uszkodzenie opóźnieniowe ; testowanie ; pary testowe

MISR ; delay fault ; two-pattern testing

2/2
Nr opisu: 0000023173   
Generatory par testowych dla układów cyfrowych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki.
Gliwice, 2006
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: dr hab. inż. Andrzej** Hławiczka

generator tekstu ; uszkodzenie opóźnieniowe ; układ scalony ; liniowy rejestr liczący ; układ cyfrowy ; pary testowe

text generator ; delay fault ; integrated circuit ; line numbering register ; digital circuit ; two-pattern testing

stosując format:
Nowe wyszukiwanie