Wynik wyszukiwania
Zapytanie: THIN FILM
Liczba odnalezionych rekordów: 81



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/81
Nr opisu: 0000128802
Chemical characterization of SiO2:TiO2 waveguide films using Auger electron spectroscopy.
[Aut.]: Alina Domanowska.
W: 18th Conference on Optical Fibers and Their Application, 20-23 November 2018, Naleczow, Poland. Eds.: Ryszard S. Romaniuk, Waldemar Wójcik, Andrzej Smolarz. Bellingham : SPIE, 2019, s. 1104507-1 - 1104507-5, bibliogr. 25 poz. (Proceedings of SPIE ; vol. 11045 0277-786X)

zol-żel ; cienka powłoka ; falowód krzemionkowo-tytanowy ; czujnik fali zanikającej ; straty optyczne ; spektroskopia elektronów Augera

sol-gel ; thin film ; silica-titania waveguide ; evanescent wave sensor ; optical losses ; Auger electron spectroscopy

2/81
Nr opisu: 0000130579
Electrospinning as a versatile method of composite thin films fabrication for selected applications.
[Aut.]: Wiktor Matysiak, Tomasz Tański, Weronika Smok.
W: Functional thin films and special coatings. Eds.: Tomasz Tański, Przemysław Snopiński. Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2019, s. 35-49 (Solid State Phenomena ; vol. 293 1662-9779)

kompozyt ; elektroprzędzenie ; nanowłókno ; nanomateriały ; cienka powłoka

composite ; electrospinning ; nanofiber ; nanomaterials ; thin film

3/81
Nr opisu: 0000130577
Functional thin films and special coatings. Eds.: Tomasz Tański, Przemysław Snopiński.
Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2019, 166 s.
(Solid State Phenomena ; vol. 293 1662-9779)

powłoka ; wytwarzanie ; właściwości optyczne ; konwersja fotowoltaiczna ; technologia łuku obrotowego ; ogniwo słoneczne ; cienka powłoka ; warstwa cienka ; tribologia

coating ; fabrication ; optical properties ; photovoltaic conversion ; rotating arc technology ; solar cell ; thin film ; thin layer ; tribology

4/81
Nr opisu: 0000130582
Optical thin films of metal oxides produced by the sol-gel method for photovoltaic applications.
[Aut.]: Marek Szindler.
W: Functional thin films and special coatings. Eds.: Tomasz Tański, Przemysław Snopiński. Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2019, s. 83-95 (Solid State Phenomena ; vol. 293 1662-9779)

tlenek metalu ; zol-żel ; cienka powłoka

metal oxide ; sol-gel ; thin film

5/81
Nr opisu: 0000127253   
Thermophysical properties of methacrylic polymer films with guest-host and side-chain azobenzene.
[Aut.]: Dominika Trefon-Radziejewska, G. Hamaoui, M. Chirtoc, N. Horny, V. Smokal, A. Biitseva, O. Krupka, B. Derkowska-Zielińska.
-Mater. Chem. Phys. 2019 vol. 223, s. 700-707, bibliogr. 42 poz.. Impact Factor 2.781. Punktacja MNiSW 70.000

polimer ; azobenzen ; właściwości termofizyczne ; cienka powłoka ; nanomateriały

polymer ; azobenzene ; thermophysical properties ; thin film ; nanomaterials

6/81
Nr opisu: 0000122509   
Effect of temperature changes on parameters of the sol-gel derived silica-titania films.
[Aut.]: J. Nizioł, E. Gondek, Paweł Karasiński.
-Mater. Lett. 2018 vol. 223, s. 102-104, bibliogr. 12 poz.. Impact Factor 3.019. Punktacja MNiSW 35.000

metoda zol-żel ; powłoka krzemionkowo-tytanowa ; elipsometria spektroskopowa ; współczynnik załamania światła ; cienka powłoka ; falowód płaski

sol-gel method ; silica-titania film ; spectroscopic ellipsometry ; refractive index ; thin film ; slab waveguide

7/81
Nr opisu: 0000122195   
Manufacturing process and optical properties of zinc oxide thin films as photoanode in DSSC.
[Aut.]: Wiktor Matysiak, Tomasz Tański, Marta Zaborowska.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2018 vol. 86 iss. 1, s. 33-40, bibliogr. 31 poz.. Punktacja MNiSW 12.000

tlenek cynku ; powłoka cienka ; powlekanie wirowe ; właściwości optyczne ; DSSC

zinc oxide ; thin film ; spin coating ; optical properties ; DSSC

8/81
Nr opisu: 0000124790   
Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Marcin Skolik, T. Błaszczyk.
-Prz. Elektrot. 2018 R. 94 nr 8, s. 51-54, bibliogr. 12 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

spektrofotometria ; współczynnik załamania ; warstwa dielektryczna ; warstwa cienka ; widmo odbiciowe

spectrophotometry ; refractive index ; dielectric layer ; thin film ; reflectance spectra

9/81
Nr opisu: 0000125130
Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Marcin Skolik, T. Błaszczyk.
W: XVII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 03-07.06.2018. Program konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2018, pamięć USB (PenDrive) s. 1-7

spektrofotometria ; współczynnik załamania ; warstwa dielektryczna ; warstwa cienka ; widmo odbiciowe

spectrophotometry ; refractive index ; dielectric layer ; thin film ; reflectance spectra

10/81
Nr opisu: 0000126196
Modification of PES ultrafiltration membranes for removal of caffeine.
[Aut.]: Michał Adamczak, Gabriela Kamińska, Jolanta Bohdziewicz.
-Desalin. Water Treat. 2018 vol. 128, s. 351-357, bibliogr. 32 poz.. Impact Factor 1.234. Punktacja MNiSW 20.000

powłoka cienka ; polimeryzacja międzyfazowa ; nanorurki węglowe ; kofeina ; ultrafiltracja

thin film ; interfacial polymerization ; carbon nanotubes ; caffeine ; ultrafiltration

11/81
Nr opisu: 0000124104
Nanolayers in fiber-optic biosensing.
[Aut.]: M. Jędrzejewska-Szczerska, D. Majchrowicz, M. Hirsch, Przemysław Struk, R. Bogdanowicz, M. Bechelany, V. Tuchin.
W: Nanotechnology and biosensors. Ed. by Dimitrios P. Nikolelis, Georgia-Paraskevi Nikoleli. Amsterdam : Elsevier, 2018, s. 395-426

czujnik światłowodowy ; biosensor ; cienka powłoka ; osadzanie warstw atomowych ; ALD ; nanodiament ; NCD ; nanodiament domieszkowany borem ; B-NCD ; tlenek cynku ; ZnO ; dwutlenek tytanu ; TiO2 ; tlenek glinu ; Al2O3

fiber-optic sensor ; biosensor ; thin film ; atomic layer deposition ; ALD ; nanodiamond ; NCD ; boron-doped nanodiamond ; B-NCD ; zinc oxide ; ZnO ; titanium dioxide ; TiO2 ; aluminium oxide ; Al2O3

12/81
Nr opisu: 0000126364   
Preliminary evaluation of producing polymer cladding on glass fiber designated for fiber lasers.
[Aut.]: Piotr Olesik, Mateusz Kozioł, Bartłomiej Toroń, Piotr Szperlich.
-Compos. Theory Pract. 2018 vol. 18 nr 3, s. 140-144, bibliogr. 5 poz.. Punktacja MNiSW 11.000

światłowód ; laser włóknowy ; cienka powłoka ; żywica polimerowa ; płaszcz światłowodu

optical fibre ; fibre laser ; thin film ; polymer resin ; polymer cladding

13/81
Nr opisu: 0000127178
Thermophysical properties of methacrylic polymer films with guest-host and side-chain azobenzene.
[Aut.]: Dominika Trefon-Radziejewska, G. Hamaoui, M. Chirtoc, N. Horny, V. Smokal, A. Biitseva, O. Krupka, B. Derkowska-Zielińska.
-Mater. Chem. Phys. 2019 vol. 223, s. 700-707, bibliogr. 42 poz.. Impact Factor 2.781. Punktacja MNiSW 35.000

polimer ; azobenzen ; właściwości termofizyczne ; powłoka cienka ; nanomateriały

polymer ; azobenzene ; thermophysical properties ; thin film ; nanomaterials

14/81
Nr opisu: 0000123777
Ultrafiltracja kofeiny za pomocą membran TFC/TFN - wpływ procesu międzyfazowej polimeryzacji i dodatku nanorurek węglowych.
[Aut.]: Michał Adamczak, Gabriela Kamińska, Jolanta Bohdziewicz.
W: Membrany i procesy membranowe w ochronie środowiska. MEMPEP 2018. XII Konferencja naukowa, 13-16 czerwca 2018 r., Zakopane. Membranes and membrane processes in environmental protection. MEMPEP 2018. 12th Scientific conference, June 13-16, 2018, Zakopane, Poland. Red. Irena Korus i Mariola Rajca. Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2018, s. 84-85

membrana nanokompozytowa ; warstwa naskórkowa ; międzyfazowa polimeryzacja in situ ; nanorurki węglowe ; ultrafiltracja ; kofeina

nanocomposite membrane ; thin film ; interfacial polymerization in situ ; carbon nanotubes ; ultrafiltration ; caffeine

15/81
Nr opisu: 0000120094   
Angle and rotational direction dependent horizontal loop shift in epitaxial Co/CoO bilayers on MgO(100).
[Aut.]: A. Ehrmann, Tomasz Błachowicz.
-AIP Adv. 2017 vol. 7, art. nr 115223 s. 1-8, bibliogr. 21 poz.. Impact Factor 1.653. Punktacja MNiSW 25.000

związek chemiczny ; materiał magnetyczny ; epitaksja ; powłoka cienka

chemical compound ; magnetic material ; epitaxy ; thin film ; magnetic ordering

16/81
Nr opisu: 0000118917   
Comparison of surface morphology and structure of Al2O3 thin films deposited by sol-gel and ALD methods.
[Aut.]: Marek Szindler, L. A. Dobrzański, Magdalena Szindler, Mirosława Pawlyta, Tymoteusz* Jung.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2017 vol. 82 iss. 2, s. 49-57, bibliogr. 31 poz.. Punktacja MNiSW 12.000

zol-żel ; osadzanie warstw atomowych ; tlenek glinu ; powłoka cienka ; powłoka antyrefleksyjna

sol-gel ; atomic layer deposition ; aluminium oxide ; thin film ; antireflection coating

17/81
Nr opisu: 0000115498   
Flame-retardant carbon nanotube films.
[Aut.]: Dawid Janas, M. Rdest, K. K. K. Koziol.
-Appl. Surf. Sci. 2017 vol. 411, s. 177-181, bibliogr. 34 poz.. Impact Factor 4.439. Punktacja MNiSW 35.000

nanorurki węglowe ; cienka powłoka ; palność ; zarządzanie ciepłem

carbon nanotubes ; thin film ; flammability ; thermal management

18/81
Nr opisu: 0000115489   
Free-standing films from chirality-controlled carbon nanotubes.
[Aut.]: Dawid Janas, M. Rdest, K. K. K. Koziol.
-Mater. Design 2017 vol. 121, s. 119-125, bibliogr. 47 poz.. Impact Factor 4.525. Punktacja MNiSW 35.000

nanorurki węglowe ; powłoka cienka ; właściwości elektryczne ; chiralność

carbon nanotubes ; thin film ; electrical properties ; chirality

19/81
Nr opisu: 0000120570
Hydrogen sensing properties of SnO2 nanocrystalline thin films.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Natalia Niemiec, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow.
W: 41st International Microelectronics and Packaging IMAPS Poland 2017 Conference, September 11-13, 2017, Warsaw. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2017, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-5, bibliogr. 20 poz.

spin-coating ; czujnik ; cienka powłoka ; nanopowłoka SiO2

spin-coating ; sensor ; thin film ; SnO2 nanostructure

20/81
Nr opisu: 0000123054   
Hydrogen sensing properties of SnO2 nanocrystalline thin films.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Natalia Niemiec, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow.
W: Proceedings of the 21st European Microelectronics Packaging Conference (EMPC 2017). Eds. Andrzej Dziedzic, Piotr Jasiński. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2017, s. 1-5, bibliogr. 20 poz.

powlekanie wirowe ; nanostruktura SnO2 ; czujnik gazu ; cienka powłoka

spin coating ; SnO2 nanostructure ; gas sensor ; thin film

21/81
Nr opisu: 0000114170   
Measuring thermal conductivity of thin films by Scanning Thermal Microscopy combined with thermal spreading resistance analysis.
[Aut.]: Justyna Juszczyk, Anna Kaźmierczak-Bałata, P. Firek, Jerzy Bodzenta.
-Ultramicroscopy 2017 vol. 175, s. 81-86, bibliogr. 28 poz.. Impact Factor 2.929. Punktacja MNiSW 50.000

skaningowa mikroskopia termiczna ; przewodność cieplna ; pomiar cieplny ; próbnik termiczny ; powłoka cienka

scanning thermal microscopy ; thermal conductivity ; thermal measurement ; thermal probe ; thin film ; thermal spreading resistance

22/81
Nr opisu: 0000115971   
Multicriteria identification of parameters in microscale heat transfer.
[Aut.]: Wacław Kuś, Jolanta Dziatkiewicz.
-Int. J. Numer. Methods Heat Fluid Flow 2017 vol. 27 iss. 3, s. 587-597, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 2.450. Punktacja MNiSW 25.000

cienka powłoka ; przepływ ciepła w mikroskali ; identyfikacja wieloryterialna ; krótki impuls lasera ; model dwutemperaturowy

thin film ; microscale heat transfer ; multicriteria identification ; short laser pulse ; two-temperature model

23/81
Nr opisu: 0000118910   
Optical properties of PVP/ZnO composite thin films.
[Aut.]: Tomasz Tański, Wiktor Matysiak.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2017 vol. 82 iss. 1, s. 5-11, bibliogr. 25 poz.. Punktacja MNiSW 12.000

nanocząstka ZnO ; nanokompozyty ; powłoka cienka ; właściwości optyczne ; metoda powlekania wirowego

ZnO nanoparticle ; nanocomposites ; thin film ; optical properties ; spin coating method

24/81
Nr opisu: 0000109535   
Highly luminescence anthracene derivatives as promising materials for OLED applications.
[Aut.]: A. Slodek, M. Filapek, E. Schab-Balcerzak, M. Grucela, S. Kotowicz, H. Janeczek, K. Smolarek, S. Mackowski, J. Malecki, A. Jedrzejowska, G. Szafraniec-Gorol, Anna Chrobok, B. Marcol, S. Krompiec, M. Matussek.
-Eur. J. Org. Chem. 2016 iss. 23, s. 4020-4031, bibliogr. 41 poz.. Impact Factor 2.834. Punktacja MNiSW 35.000

luminescencja ; elektronika organiczna ; powłoka cienka ; sprzęganie krzyżowe ; areny ; kataliza heterogeniczna

luminescence ; organic electronics ; thin film ; cross-coupling ; arenes ; heterogeneous catalysis

25/81
Nr opisu: 0000116187
Influence of ZnO nanoparticles on the optical properties of PVP/ZnO composite thin films.
[Aut.]: Wiktor Matysiak, Tomasz Tański, Paweł Jarka, Przemysław Snopiński, Łukasz Krzemiński, Maciej Wiśniowski.
W: 1st International Conference InterNanoPoland 2016. International Conference Center, Katowice, 14-15 June, 2016. Abstracts book. Ed. Agnieszka Piekara, Karol Lemański. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2016, s. [49], bibliogr. 2 poz.

kompozyt polimerowy ; cienka powłoka ; PVP/ZnO ; metoda powlekania obrotowego ; właściwości optyczne ; przerwa energetyczna

polymer composite ; thin film ; PVP/ZnO ; spin coating method ; optical properties ; energy band gap

26/81
Nr opisu: 0000107391   
Structure and properties of Al2O3 thin films deposited by ALD process.
[Aut.]: Paulina Boryło, Krzysztof Lukaszkowicz, Marek Szindler, J. Kubacki, K. Balin, Marcin Basiaga, Janusz Szewczenko.
-Vacuum 2016 vol. 131, s. 319-326, bibliogr. 26 poz.. Impact Factor 1.530. Punktacja MNiSW 25.000

powłoka cienka ; ALD ; adhezja ; korozja ; XPS ; AES ; SEM ; ToF-SIMS

thin film ; ALD ; adhesion ; corrosion ; XPS ; AES ; SEM ; ToF-SIMS

27/81
Nr opisu: 0000110493   
Study of optical and electrical properties of thin films of the conducting comb-like graft copolymer of polymethylsiloxane with poly(3-hexyltiophene) and poly(ethylene) glycol side chains for low temperature NO2 sensing.
[Aut.]: Erwin Maciak, Marcin Procek, Kinga Kępska, Agnieszka Stolarczyk.
-Thin Solid Films 2016 vol. 618 Pt B, s. 277-285, bibliogr. 39 poz.
Referat wygłoszony na: IX International Workshop on Semiconductor Gas Sensors - SGS'2015. Impact Factor 1.879. Punktacja MNiSW 30.000

poli(3-heksylotiofen) ; polimer szczepiony ; czujnik gazu ; półprzewodnik organiczny ; powierzchniowy rezonans plazmonowy ; polimer przewodzący ; cienka powłoka ; chemirezystancyjny czujnik

poly(3-hexylthiophene) ; graft polymer ; gas sensor ; organic semiconductor ; surface plasmon resonance ; conducting polymer ; thin film ; chemoresistive sensor

28/81
Nr opisu: 0000115495   
The influence of metal nanoparticles on electrical properties of carbon nanotubes.
[Aut.]: Dawid Janas, K. K. K. Koziol.
-Appl. Surf. Sci. 2016 vol. 376, s. 74-78, bibliogr. 42 poz.. Impact Factor 3.387. Punktacja MNiSW 35.000

nanorurki węglowe ; właściwości elektryczne ; nanocząstki ; powłoka cienka

carbon nanotubes ; electrical properties ; nanoparticles ; thin film

29/81
Nr opisu: 0000116182
UV-VIS analysis of PVP/SiO2 thin films.
[Aut.]: Wiktor Matysiak, Sebastian Zieliński, Tomasz Tański.
W: 1st International Conference InterNanoPoland 2016. International Conference Center, Katowice, 14-15 June, 2016. Abstracts book. Ed. Agnieszka Piekara, Karol Lemański. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2016, s. [48], bibliogr. 3 poz.

cienka powłoka ; UV-Vis ; nanokompozyt PVP/SiO2 ; mikroskopia sił atomowych

thin film ; UV-Vis ; PVP/SiO2 nanocomposite ; atomic force microscopy

30/81
Nr opisu: 0000103491   
Atomic layer deposition of TiO2 onto porous biomaterials.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Anna* Dobrzańska-Danikiewicz, Marek Szindler, Anna* Achtelik-Franczak, Wojciech Pakieła.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2015 vol. 75 nr 1, s. 5-11, bibliogr. 19 poz. Punktacja MNiSW 13.000

materiał porowaty ; powłoka cienka ; tlenek tytanu ; atomowe osadzanie warstw

porous material ; thin film ; titanium oxide ; atomic layer deposition

31/81
Nr opisu: 0000095578   
Low loss, long time stable sol-gel derived silica-titania waveguide films.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Alina Domanowska, Anna Michalewicz, J. Mazur.
-Mater. Lett. 2015 vol. 143, s. 5-7, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 2.437. Punktacja MNiSW 35.000

materiał optoelektroniczny ; preparat sol-gel ; powłoka cienka ; falowód krzemionkowo-tytanowy ; straty optyczne

optoelectronic material ; sol-gel preparation ; thin film ; silica-titania waveguide ; optical losses ; time stable

32/81
Nr opisu: 0000103752   
Nonstandard optical methods as a tool for rough surface analysis.
[Aut.]: J. Jaglarz, Janusz Szewczenko, K. Marszałek, Marcin Basiaga, M. Marszałek.
W: 7th International Symposium on Macro- and Supramolecular Architectures and Materials, [Johannesburg, South Africa, 23-27 November 2014]. Ed. by Sabelo Mhlanga, Lucky Sikhwivhilu, Tshepo Malefetse and Richard Harris. Amsterdam : Elsevier, 2015, s. 4046-4052, bibliogr. 24 poz. (Materials Today: Proceedings ; vol. 2, iss. 7 2214-7853)

powłoka cienka ; dwukierunkowa funkcja rozkładu odbicia

thin film ; bidirectional reflection distribution function

33/81
Nr opisu: 0000096685   
Quantitative correlation between air induced changes of electronic parameters and morphological features of copper phthalocyanine thin film surfaces.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, Maciej Krzywiecki.
-Mater. Chem. Phys. 2015 vol. 149/150, s. 574-581, bibliogr. 37 poz.. Impact Factor 2.101. Punktacja MNiSW 35.000

powierzchnia ; powłoka cienka ; mikroskop sił atomowych ; spektroskopia fotoelektronowa ; adsorpcja ; utlenianie

surface ; thin film ; atomic force microscopy ; photoelectron spectroscopy ; adsorption ; oxidation

34/81
Nr opisu: 0000095576   
Solution processable double layer organic light emitting diodes (OLEDs) based on 6-N,N-arylsubstituted-1H-pyrazolo[3,4-b]quinolines.
[Aut.]: A. Danel, Ł. Chacaga, T. Uchacz, M. Pokladko-Kowar, E. Gondek, Paweł Karasiński, S. Bouchta.
-Adv. Device Mater. 2015 vol. 1 iss. 1, s. 17-22, bibliogr. 41 poz.. Punktacja MNiSW 5.000

związki organiczne ; powłoka cienka ; OLED ; zielona emisja

organic compounds ; thin film ; OLED ; green emission

35/81
Nr opisu: 0000103515   
Surface morphology and optical properties of Al2O3 thin films deposited by ALD method.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Magdalena Szindler.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2015 vol. 73 nr 1, s. 18-24, bibliogr. 26 poz.. Punktacja MNiSW 13.000

powłoka cienka ; tlenek glinu ; mikroskop sił atomowych ; elipsometria spektroskopowa

thin film ; aluminium oxide ; atomic force microscope ; spectroscopic ellipsometry

36/81
Nr opisu: 0000104661   
The impact of atomic layer deposition technological parameters on optical properties and morphology of Al2O3 thin films.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Magdalena Szindler, B. Hajduk, S. Kotowicz.
-Opt. Appl. 2015 vol. 45 no. 4, s. 573-583, bibliogr. 12 poz.. Impact Factor 0.637. Punktacja MNiSW 15.000

tlenek glinu ; atomowe osadzanie warstw ; powłoka cienka

aluminium oxide ; atomic layer deposition ; thin film

37/81
Nr opisu: 0000096044   
Correlation between morphology and local thermal properties of iron (II) phthalocyanine thin layers.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grządziel, Justyna Juszczyk, Anna Kaźmierczak-Bałata, A. Erbe, Jerzy Bodzenta.
-J. Phys., D Appl. Phys. 2014 vol. 47 iss. 33, Art. nr 335304, s. 1-7, bibliogr. 47. Impact Factor 2.721. Punktacja MNiSW 35.000

półprzewodnik organiczny ; morfologia FePc ; mikroskopia sił atomowych ; skaningowa mikroskopia termiczna ; warstwa cienka ; właściwości termiczne ; ftalocyjaniny żelaza

organic semiconductor ; FePc morphology ; atomic force microscopy ; scanning thermal microscopy ; thin film ; thermal properties ; iron phthalocyanine

38/81
Nr opisu: 0000092753   
Doping behaviour of electrochemically generated model bithiophene meta-substituted star shaped oligomer.
[Aut.]: Przemysław Ledwoń, Roman Turczyn, K. Idzik, R. Beckert, J. Frydel, Mieczysław Łapkowski, Wojciech Domagała.
-Mater. Chem. Phys. 2014 vol. 147 iss. 1/2, s. 254-260, bibliogr. 57 poz.. Impact Factor 2.259. Punktacja MNiSW 35.000

materiały optyczne ; półprzewodnik ; warstwa cienka ; technika elektrochemiczna ; rezonans elektronowy

optical materials ; semiconductor ; thin film ; electrochemical technique ; electron resonance

39/81
Nr opisu: 0000096041   
Energy level alignment at the Si(111)/RCA-SiO2/copper(II) phthalocyanine ultra-thin film interface.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grządziel.
-Appl. Surf. Sci. 2014 vol. 311, s. 740-748, bibliogr. 46 poz.. Impact Factor 2.711. Punktacja MNiSW 35.000

interfejs ; struktura elektronowa ; półprzewodnik ; powłoka cienka ; spektroskopia fotoelektronowa ; związki organiczne

interface ; electronic structure ; semiconductor ; thin film ; photoelectron spectroscopy ; organic compounds

40/81
Nr opisu: 0000096774   
Sol-gel Al2O3 antireflection coatings for silicon solar cells.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Magdalena Szindler, B. Hajduk.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2014 vol. 67 nr 1, s. 24-31, bibliogr. 25 poz.. Punktacja MNiSW 13.000

powłoka cienka ; tlenek glinu ; mikroskop sił atomowych ; elipsometria spektroskopowa ; spektroskopia UV-Vis

thin film ; aluminium oxide ; atomic force microscope ; spectroscopic ellipsometry ; UV-Vis spectroscopy

41/81
Nr opisu: 0000089658   
Surface states and space charge layer electronic parameters specification for long term air-exposed copper phthalocyanine thin films.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, Maciej Krzywiecki.
-Thin Solid Films 2014 vol. 550, s. 361-366, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 1.759. Punktacja MNiSW 30.000

półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; właściwości elektronowe powierzchni ; wydajność kwantowa fotoemisji ; dipol powierzchni ; efekt dipola

organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; surface electronic properties ; photoemission yield spectroscopy ; surface dipole ; dipole effect

42/81
Nr opisu: 0000096503   
Swift modification of resistively heated carbon nanotube films by the action of hydrogen peroxide.
[Aut.]: D. Janas, Artur* Herman, Sławomir Boncel, K. K. K. Koziol.
-Mater. Lett. 2014 vol. 119, s. 115-118, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 2.489. Punktacja MNiSW 35.000

nanorurki węglowe ; właściwości elektryczne ; modyfikacja powierzchni ; Raman ; powłoka cienka

carbon nanotubes ; electrical properties ; surface modification ; Raman ; thin film

43/81
Nr opisu: 0000093674   
Zastosowanie polerowania jonowego do preparatyki cienkich folii do badań na transmisyjnym mikroskopie elektronowym.
[Aut.]: J. Sitek, Krzysztof Labisz.
W: Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'14". Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2014, s. 69-76, bibliogr. 13 poz. (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska nr 29)

preparatyka ; transmisyjna mikroskopia elektronowa ; warstwa cienka

preparation ; transmission electron microscopy ; thin film

44/81
Nr opisu: 0000095129   
A facile method to tune electronic properties of carbon nanotube films.
[Aut.]: D. Janas, Sławomir Boncel, Adam Andrzej Marek, K. Kozioł.
-Mater. Lett. 2013 vol. 106, s. 137-140, bibliogr. 41 poz.. Impact Factor 2.269. Punktacja MNiSW 35.000

nanorurki węglowe ; właściwości elektryczne ; utlenianie ; Raman ; powłoka cienka

carbon nanotubes ; electrical properties ; oxidation ; Raman ; thin film

45/81
Nr opisu: 0000087576   
Al2O3 antireflection coatings for silicon solar cells.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2013 vol. 59 iss. 1, s. 13-19, bibliogr. 18 poz.. Punktacja MNiSW 12.000

warstwa antyrefleksyjna ; krzemowe ogniwo słoneczne ; atomowe osadzanie warstw ; warstwa cienka

antireflective coating ; silicon solar cell ; atomic layer deposition ; thin film

46/81
Nr opisu: 0000094441   
Application of scanning microscopy to study correlation between thermal properties and morphology of BaTiO3 thin films.
[Aut.]: Anna Kaźmierczak-Bałata, Jerzy Bodzenta, Maciej Krzywiecki, Justyna Juszczyk, J. Szmidt, P. Firlek.
-Thin Solid Films 2013 vol. 545, s. 217-221, bibliogr. 26 poz.. Impact Factor 1.867. Punktacja MNiSW 30.000

mikroskopia sił atomowych ; tytanian baru ; warstwa cienka ; skaningowa mikroskopia termiczna ; właściwości termiczne

atomic force microscopy ; barium titanate ; thin film ; scanning thermal microscopy ; thermal properties

47/81
Nr opisu: 0000091595
Badanie własności cienkich warstw poliazometin.
[Aut.]: Jan** Weszka, B. Hajduk.
W: Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013, s. 628-631 (Open Access Library ; vol. 10 (28) 2083-5191)

organiczne ogniwo fotowoltaiczne ; organiczna dioda elektroluminescencyjna ; nanoszenie warstw ; chemiczne osadzanie z fazy gazowej ; warstwa cienka ; własności elektryczne ; ćwiczenia laboratoryjne

organic solar cell ; organic light emitting diode ; film deposition ; chemical vapour deposition ; thin film ; electric properties ; laboratory exercises

48/81
Nr opisu: 0000091594
Badanie własności optycznych cienkich warstw.
[Aut.]: Aleksandra Drygała, Marek Szindler, Jan** Weszka.
W: Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013, s. 624-627 (Open Access Library ; vol. 10 (28) 2083-5191)

warstwa cienka ; własności optyczne ; nanoszenie warstw ; ćwiczenia laboratoryjne

thin film ; optical properties ; film deposition ; laboratory exercises

49/81
Nr opisu: 0000091591
Wpływ warunków nanoszenia na morfologię powierzchni i własności optyczne cienkich warstw polimer-fulleren.
[Aut.]: Jan** Weszka, Paweł Jarka.
W: Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013, s. 616-619 (Open Access Library ; vol. 10 (28) 2083-5191)

materiały polimerowe ; warstwa cienka ; złącze p-n ; nanoszenie warstw ; rozwirowanie z roztworu ; własności optyczne ; morfologia powierzchni ; ćwiczenia laboratoryjne

polymeric materials ; thin film ; p-n junction ; film deposition ; spin-coating ; optical properties ; surface morphology ; laboratory exercises

50/81
Nr opisu: 0000076579
Analiza wrażliwości kształtu cienkiej warstwy metalowej poddanej działaniu lasera.
[Aut.]: Ewa Majchrzak, Jolanta Dziatkiewicz, Grażyna Kałuża.
W: Modelowanie w mechanice. Program 51. sympozjonu, Ustroń, [25 lutego - 29 lutego] 2012 r. Zeszyt streszczeń. Polskie Towarzystwo Mechaniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gliwice, Komitet Mechaniki Polskiej Akademii Nauk, Katedra Mechaniki Stosowanej Politechniki Śląskiej. Ustroń : [b.w.], 2012, s. 99-100

laser ; wrażliwość kształtu ; warstwa cienka ; zjawiska cieplne ; metale

laser ; shape sensitivity ; thin film ; heat effects ; metals

51/81
Nr opisu: 0000072518
Surface morphology and optical properties of polymer thin films.
[Aut.]: Jan** Weszka, Magdalena Szindler, M. Bruma.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 6, s. 120-122, bibliogr. 6 poz.
Referat wygłoszony na European Summer School of Photovoltaics, Karaków, Poland, 4-7 July 2012. Punktacja MNiSW 6.000

morfologia powierzchni ; polimer ; warstwa cienka

surface morphology ; polymer ; thin film

52/81
Nr opisu: 0000084384   
The optoelectronic ammonia gas sensor system based on Pd/CuPc interferometric nanostructures.
[Aut.]: Erwin Maciak, Tadeusz Pustelny, Zbigniew Opilski.
W: Eurosensors 2012. 26th European Conference on Solid-State Transducers, Kraków, Poland, September 9-12, 2012. Eds: R. Walczak, J. Dziuban. Amsterdam : Elsevier, 2012, s. 738-741, bibliogr. 5 poz. (Procedia Engineering ; vol. 47 1877-7058)

ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; nanostruktura wielowarstwowa

copper phthalocyanine ; thin film ; multi-layered nanostructure

53/81
Nr opisu: 0000076148   
Topografia i grubość warstw pasywnych na utlenianym anodowo stopie Ti6Al4V.
[Aut.]: Janusz Szewczenko, J. Jaglarz, Marcin Basiaga, J. Kurzyk, E. Skoczek, Zbigniew Paszenda.
-Prz. Elektrot. 2012 R. 88 nr 12b, s. 228-231, bibliogr. 20 poz.. Punktacja MNiSW 15.000

stop Ti-6Al-4V ; biomateriały ; warstwa pasywna ; światło ; rozpraszanie ; warstwa cienka ; optyka cienkich warstw

Ti6Al4V alloy ; biomaterials ; passive layer ; light ; scattering ; thin film ; thin films optics

54/81
Nr opisu: 0000083538
Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych w badaniach cienkich warstw.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Dariusz Łukowiec.
W: Proceedings of the Eighteenth International Scientific Conference on Contemporary Achievements in Mechanics, Manufacturing and Materials Science. CAM3S'2012, Gliwice - Ustroń, 27th - 29th February 2012. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2012, s. 43, bibliogr. 3 poz.

mikroskopia sił atomowych ; warstwa cienka ; morfologia powierzchni

atomic force microscope ; thin film ; surface morphology

55/81
Nr opisu: 0000071248   
A study of optical properties and annealing effect on the absorption edge of pristine- and iodine-doped polyazomethine thin films.
[Aut.]: B. Jarząbek, Jan** Weszka, Barbara* Hajduk, J. Jurusik, M. Domański, Jan* Cisowski.
-Synth. Met. 2011 vol. 161 iss. 11/12, s. 969-975, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 1.829

poliazometiny ; warstwa cienka ; krawędź absorpcji optycznej ; wyżarzanie

polyazomethine ; thin film ; optical absorption edge ; annealing

56/81
Nr opisu: 0000077215   
Comparative study of surface morphology of copper phthalocyanine ultra thin films deposited on Si (111) native and RCA-cleaned substrates.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grządziel, Jerzy Bodzenta, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2012 vol. 520 iss. 11, s. 3965-3970, bibliogr. 35 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; obróbka RCA

organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy ; RCA treatment ; silicon native substrate

57/81
Nr opisu: 0000063754   
Influence of ambient air exposure on surface chemistry and electronic properties of thin copper phthalocyanine sensing layers.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, Maciej Krzywiecki, H. Peisert, T. Chasse, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 519 iss. 7, s. 2187-2192, bibliogr. 41 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; właściwości elektroniczne ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; spektroskopia fotoelektronów w nadfiolecie

organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; electronic properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; ultraviolet photoelectron spectroscopy

58/81
Nr opisu: 0000076675
Modelowanie przepływu ciepła w skali mikro na przykładzie cienkich warstw metalowych nagrzewanych laserem o ultrakrótkim impulsie.
[Aut.]: Ewa Majchrzak.
W: II Kongres Mechaniki Polskiej. KMP 2011, Poznań, 29-31 sierpnia 2011. Książka streszczeń. Ed. Tomasz Łodygowski, Wojciech Sumelka. Politechnika Poznańska, Polskie Towarzystwo Mechaniki Teoretycznej i Stosowanej. Poznań : Agencja Reklamowa COMPRINT, 2011, s. 119-120

przepływ ciepła ; modelowanie przepływu ; warstwa cienka ; metale ; nagrzewanie laserowe

heat transfer ; flow modelling ; thin film ; metals ; laser heating

59/81
Nr opisu: 0000073097   
Optical properties of SbI3 single.
[Aut.]: Mirosława Kępińska, Marian** Nowak, Piotr Duka, Michalina* Kotyczka-Morańska, Piotr Szperlich.
-Opt. Mater. 2011 vol. 33 iss. 11, s. 1753-1759, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 2.023. Punktacja MNiSW 30.000

warstwa cienka ; trójjodek antymonu ; materiał anizotropowy ; własności optyczne ; goniometria

thin film ; antimony triiodide ; anisotropic material ; optical parameter ; spectrogoniometry

60/81
Nr opisu: 0000072412   
Optical properties of SbI3 single crystalline platelets.
[Aut.]: Mirosława Kępińska, Marian** Nowak, Piotr Duka, Michalina* Kotyczka-Morańska, Piotr Szperlich.
-Opt. Mater. 2011 vol. 33 iss. 11, s. 1753-1759, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 2.023. Punktacja MNiSW 30.000

warstwa cienka ; materiał anizotropowy ; parametr optyczny

thin film ; anisotropic material ; optical parameter

61/81
Nr opisu: 0000082099
Optymalizacja technologii RGTO osadzania bardzo cienkich warstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
[Aut.]: Jacek Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 131
Pełny tekst na CD-ROM

tlenek przewodzący ; SnO2 ; In2O3 ; warstwa cienka ; nanowarstwa ; stechiometria ; morfologia powierzchni ; AFM ; XPS ; SEM

conductive oxide ; SnO2 ; In2O3 ; thin film ; nanolayer ; stoichiometry ; surface morphology ; AFM ; XPS ; SEM

62/81
Nr opisu: 0000058364   
X-ray Photoelectron Spectroscopy characterization of native and RCA-treated Si (111) substrates and their influence on surface chemistry of copper phthalocyanine thin films.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grządziel, H. Peisert, I. Biswas, T. Chasse, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2010 vol. 518 iss. 10, s. 2688-2694, bibliogr. 37 poz.. Impact Factor 1.935

warstwa cienka ; półprzewodnik organiczny ; spektroskopia fotoemisyjna ; promieniowanie rentgenowskie

thin film ; organic semiconductor ; photoemission spectroscopy ; X-ray

63/81
Nr opisu: 0000056950   
Electronic structure of poly(azomethine) thin films.
[Aut.]: Jan** Weszka, H. Bednarski, M. Domański.
-J. Chem. Phys. 2009 vol. 131 no. 2, art. no. 024901, bibliogr. 40 poz.. Impact Factor 3.093

poliazometiny ; struktura elektronowa ; warstwa cienka

polyazomethine ; electronic structure ; thin film

64/81
Nr opisu: 0000056944   
Influence of solution acidity on composition, structure and electrical parameters of Ni-P alloys.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Piotr Kowalik, M. Cież, J. Kulawik.
-Microelectron. Int. 2009 vol. 26 iss. 2, s. 24-27, bibliogr. 10 poz.. Impact Factor 0.588

stop ; metalizacja ; rezystywność ; warstwa cienka ; rezystor

alloy ; metallization ; electrical resistivity ; thin film ; resistor

65/81
Nr opisu: 0000056850   
Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, L. Ottaviano, Lucyna Grządziel, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 5, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.

półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; właściwości powierzchniowe ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; mikroskopia sił atomowych

organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; surface properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy

66/81
Nr opisu: 0000048454   
Numerical simulation of thermal processes proceedings in a multi-layered film subjected to ultrafast laser heating.
[Aut.]: Ewa Majchrzak, B. Mochnacki, J. Suchy.
-J. Theor. Appl. Mech. 2009 vol. 47 no. 2, s. 383-396, bibliogr. 16 poz.. Impact Factor 0.178

przepływ ciepła w skali mikro ; warstwa cienka ; laser impulsowy ; modelowanie numeryczne

microscale heat transfer ; thin film ; pulsed laser ; numerical modelling

67/81
Nr opisu: 0000056802   
Spectrogoniometric determination of refractive indices of GaSe.
[Aut.]: Mirosława Kępińska, Marian** Nowak, Piotr Duka, B. Kauch.
-Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 13, s. 3792-3796, bibliogr. 23 poz.

warstwa cienka ; selenek galu ; materiał anizotropowy ; współczynnik załamania ; spektrogoniometria

thin film ; selenide gallium ; anisotropic material ; refractive index ; spectrogoniometry

68/81
Nr opisu: 0000050085   
Studying of kinetic growth of organic thin films.
[Aut.]: Jan** Weszka, Paweł Jarka, Daniel Pakuła, Leszek** Dobrzański, M. Domański, J. Jurusik.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2009 vol. 35 iss. 1, s. 29-36, bibliogr. 15 poz.

polimer inżynierski ; warstwa cienka ; szybkość osadzania

engineering polymer ; thin film ; deposition rate

69/81
Nr opisu: 0000056361   
Studying of spin-coated oxad-Si properties.
[Aut.]: Jan** Weszka, Leszek** Dobrzański, Paweł Jarka, J. Jurusik, Barbara* Hajduk, M. Bruma, Jarosław Konieczny, D. Mańkowski.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2009 vol. 37 iss. 2, s. 505-511, bibliogr. 13 poz.

warstwa cienka ; morfologia ; mikroskopia AFM ; metoda spin-coating ; absorbancja ; oxad-Si

thin film ; morphology ; AFM microscopy ; spin-coating method ; absorbance ; oxad-Si

70/81
Nr opisu: 0000052103   
Teoretyczna analiza adsorpcji tlenu na powierzchni ziaren SnO2 o geometrii płaskiej.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 45-48, bibliogr. 20 poz.

warstwa cienka ; nanowarstwa ; adsorpcja tlenu ; warstwa zubożona

thin film ; nanolayer ; oxygen adsorption ; depletion layer

71/81
Nr opisu: 0000048128   
XPS study of air exposed copper phthalocyanine ultra-thin films deposited on Si(111) native substrates.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, L. Grzadziel, L. Ottaviano, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Mater. Sci. Pol. 2008 vol. 26 no. 2, s. 287-294, bibliogr. 21 poz.. Impact Factor 0.368

ftalocyjanina miedzi ; CuPc ; warstwa cienka ; chemia powierzchni

copper phthalocyanine ; CuPc ; thin film ; surface chemistry

72/81
Nr opisu: 0000039011   
Computer analysis of oxygen adsorption at SnO2 thin films.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Bogusława Adamowicz.
-Opt. Appl. 2007 vol. 37 no. 4, s. 377-385, bibliogr. 23 poz.. Impact Factor 0.284

SnO2 ; warstwa cienka ; nanowarstwa ; adsorpcja tlenu ; warstwa zubożona ; struktura sensorowa ; modelowanie

SnO2 ; thin film ; nanolayer ; oxygen adsorption ; depletion layer ; sensor structure ; modelling

73/81
Nr opisu: 0000025450   
Comparative photoemission study of the electronic properties of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7734-7738, bibliogr. 23 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005. Impact Factor 1.436

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; nakładanie L-CVD ; właściwości elektroniczne warstwy ładunku przestrzennego ; poziom Fermiego ; elektroniczne pasmo wzbronione

tin dioxide ; thin film ; L-CVD deposition ; electronic properties of space charge layer ; Fermi level ; electronic band gap

74/81
Nr opisu: 0000025442   
XPS depth profiling studies of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7730-7733, bibliogr. 14 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005. Impact Factor 1.436

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; profilowanie głębokościowe ; XPS

tin dioxide ; thin film ; depth profiling ; XPS

75/81
Nr opisu: 0000018488   
Fabrication of Nafion- and heteropoly acid-containing thin catalytic films without failure.
[Aut.]: L. Więcław-Solny, Andrzej Jarzębski, J. Mrowiec-Białoń, Wincenty** Turek, Z. Ujma, A. Kudła, Mirosław** Gibas, Jerzy** Żak.
-Appl. Catal., A Gen. 2005 vol. 285 iss. 1/2, s. 79-85, bibliogr. 19 poz.. Impact Factor 2.728

Nafion ; heteropolikwas ; powłoka cienka

Nafion ; heteropolyacid ; thin film

76/81
Nr opisu: 0000021700   
On the correlation between morphology and gas sensing properties of RGTO SnO2 thin films.
[Aut.]: Jacek Szuber, Jerzy Uljanow, Teresa** Buczek-Karczewska, Wiesław Jakubik, Krzysztof Waczyński, Monika Kwoka, Sławomir** Kończak.
-Thin Solid Films 2005 vol. 490 iss. 1, s. 54-58, bibliogr. 18 poz.. Impact Factor 1.569

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; osadzanie ; utlenianie

tin dioxide ; thin film ; deposition ; oxidation

77/81
Nr opisu: 0000018492
Otrzymywanie cienkich powłok katalitycznych o właściwościach kwasowych.
[Aut.]: L. Więcław-Solny, Andrzej Jarzębski, J. Mrowiec-Białoń, Wincenty** Turek.
W: Materiały XXXVII Ogólnopolskiego Kolokwium Katalitycznego, Kraków, 15-18 marca 2005. [Red. Anna Kubacka]. Instytut Katalizy i Fizykochemii Powierzchni PAN, Polski Klub Katalizy. Kraków : Instytut Katalizy i Fizykochemii Powierzchni PAN, 2005, s. 147

cienka powłoka ; powłoka katalityczna ; zol-żel ; właściwości kwasowe

thin film ; catalytic coating ; sol-gel ; acidic properties

78/81
Nr opisu: 0000021704   
XPS study of the surface chemistry of L-CVD SnO2 thin films after oxidation.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Grzegorz* Czempik, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2005 vol. 490 iss. 1, s. 36-42, bibliogr. 18 poz.. Impact Factor 1.569

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; osadzanie ; utlenianie

tin dioxide ; thin film ; deposition ; oxidation

79/81
Nr opisu: 0000008083   
Electrochemical studies of selected regioregular oligooctylthiophenes in solution and in thin film solid state.
[Aut.]: Wojciech Domagała, Mieczysław Łapkowski, S. Guillerez, G. Bidan.
-Electrochim. Acta 2003 vol. 48 iss. 17, s. 2379-2388, bibliogr. 27 poz.. Impact Factor 1.996

badanie elektrochemiczne ; kationorodnik ; powłoka cienka

electrochemical test ; radical cation ; thin film ; regioregular oligooctylthiophenes

80/81
Nr opisu: 0000123726   
On the correlation between morphology and electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, Jerzy** Żak, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2003 vol. 436 iss. 1, s. 70-75, bibliogr. 23 poz.
Referat wygłoszony na: 3rd International Seminar on Semiconductor Gas Sensors. SGS'2002, Ustroń, Poland, 19-22 September 2002. Impact Factor 1.598

ftalocyjanina miedzi ; cienka powłoka ; fotoemisja ; mikroskop sił atomowych

copper phthalocyanine ; thin film ; photoemission ; atomic force microscope

81/81
Nr opisu: 0000011696   
On the correlation between the morphology and the electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, Jerzy** Żak, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2003 vol. 436 iss. 1, s. 70-75, bibliogr. 23 poz.. Impact Factor 1.598

ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; fotoemisja ; mikroskop sił atomowych

copper phthalocyanine ; thin film ; photoemission ; atomic force microscope

stosując format:
Nowe wyszukiwanie