Wynik wyszukiwania
Zapytanie: TEST-PER-CLOCK METHOD
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000049583   
Skuteczny generator testów dla przesłuchów w połączeniach.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
-Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 7, s. 432-434, bibliogr. 14 poz.

LFSR ; sieć połączeń ; system jednoukładowy ; przesłuchy ; metoda test-per-clock ; BIST

LFSR ; interconnection network ; System on Chip ; crosstalks ; test-per-clock method ; BIST

2/3
Nr opisu: 0000031907   
Crosstalk-insensitive method for testing of delay faults in interconnects between cores in SoCs.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, M. Kopeć, Andrzej** Hławiczka.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [Łódź] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007, s. 496-500, bibliogr. 10 poz.

test połączeń ; uszkodzenie opóźnieniowe ; przesłuch ; lokalizacja uszkodzeń ; identyfikacja uszkodzeń ; metoda test-per-clock

interconnect test ; delay fault ; crosstalk ; fault location ; fault identification ; test-per-clock method

3/3
Nr opisu: 0000012262   
Test-per-clock logic BIST with semi-deterministic test patterns and zero-aliasing compactor.
[Aut.]: O. Novak, Z. Pliva, J. Nosek, Andrzej** Hławiczka, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa.
-J. Electron. Test. 2004 vol. 20 no. 1, s. 109-122, bibliogr. 24 poz.. Impact Factor 0.480

wbudowane samotestowanie ; metoda test-per-clock ; kompresja obrazu testowego

built-in self test ; test-per-clock method ; test pattern compression

stosując format:
Nowe wyszukiwanie