Wynik wyszukiwania
Zapytanie: TEST PAIRS
Liczba odnalezionych rekordów: 4



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu: 0000059081   
Zmodyfikowany generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki.
W: Informatyka - sztuka czy rzemiosło. KNWS'09, Rydzyna, 3-5 czerwca 2009. Materiały 6. konferencji naukowej. Preprint. Zielona Góra : Instytut Informatyki i Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Informatyki i Telekomunikacji. Uniwersytet Zielonogórski, 2009, s. 48-50, bibliogr. 10 poz.

generator obrazu kontrolnego ; uszkodzenie opóźnieniowe ; MISR ; pary testowe

test pattern generator ; delay fault ; MISR ; test pairs

2/4
Nr opisu: 0000049584   
Zmodyfikowany generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki.
-Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 7, s. 435-437, bibliogr. 10 poz.

uszkodzenie opóźnieniowe ; rejestr MISR ; pary testowe ; generator obrazu kontrolnego

delay fault ; MISR ; test pairs ; test pattern generator ; TPG

3/4
Nr opisu: 0000029358   
Generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki.
-Pomiary Autom. Kontr. 2007 nr 7, s. 95-97, bibliogr. 3 poz.

MISR ; pary testowe ; pokrycie uszkodzeń ; CUT ; ROM

MISR ; test pairs ; cover of delay faults ; CUT ; ROM

4/4
Nr opisu: 0000028977   
Test pattern generator for delay faults.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki, Andrzej** Hławiczka.
-Theor. Appl. Informat. 2007 vol. 19 no. 1, s. 19-36, bibliogr. 6 poz.

uszkodzenie opóźnieniowe ; pary testowe ; MISR ; pamięć tylko do odczytu ; generator obrazu kontrolnego ; generator par testowych

delay fault ; test pairs ; MISR ; Read-Only Memory ; test pattern generator ; ROM

stosując format:
Nowe wyszukiwanie