Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SURFACE MORPHOLOGY
Liczba odnalezionych rekordów: 31



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/31
Nr opisu: 0000126452   
A study of structure and morphology of amorphous materials after laser beam treatment.
[Aut.]: Wirginia Pilarczyk.
W: 3rd International Conference InterNanoPoland 2018, 12-13 September 2018, Katowice. Abstracts book. Ed. by Marta Zaborowska and Agnieszka Piekara. Katowice : The NANONET Foundation, 2018, s. 93, bibliogr. 3 poz.

stop na osnowie cyrkonu ; masywne szkło metaliczne ; morfologia powierzchni ; topienie laserowe

Zr-based alloy ; bulk metallic glass ; surface morphology ; laser melting

2/31
Nr opisu: 0000127468   
Nanocząstki tlenku niklu do zastosowań w fotowoltaice.
[Aut.]: G. Machalska, K. Szmajnta, M. Kolasińska, Marek Szindler.
W: Konferencja Studenckich Kół Naukowych. TalentDetector'2018. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska, 2018, s. 29 (Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych ; Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska z. 5)

tlenek niklu ; fotowoltaika ; morfologia powierzchni

nickel oxide ; photovoltaics ; surface morphology

3/31
Nr opisu: 0000126068   
Surface properties of SnO2 nanowires deposited on Si substrate covered by Au catalyst studies by XPS, TDS and SEM.
[Aut.]: Monika Kwoka, Barbara Łysoń-Sypień, Anna Kuliś, D. Zappa, E. Comini.
-Nanomaterials 2018 vol. 8 iss. 9, art. no. 738 s. 1-10, bibliogr. 31 poz.. Impact Factor 3.504. Punktacja MNiSW 35.000

morfologia powierzchni ; chemia powierzchni ; osadzanie z fazy gazowej ; nanodruty dwutlenku cyny ; nanodruty SnO2

surface morphology ; surface chemistry ; vapor phase deposition ; tin dioxide nanowires ; SnO2 nanowires

4/31
Nr opisu: 0000108548
Electrochemical properties of TiO2 oxide layer deposited on Ti6AlNb alloy.
[Aut.]: Marcin Basiaga, Janusz Szewczenko, Witold Walke, Zbigniew Paszenda, Magdalena Antonowicz, Agnieszka* Hyla.
W: Innovations in biomedical engineering. Eds. Marek Gzik, Ewaryst Tkacz, Zbigniew Paszenda, Ewa Piętka. Cham : Springer International Publishing, 2017, s. 3-10, bibliogr. 19 poz. (Advances in Intelligent Systems and Computing ; vol. 526 2194-5357)

TiO2 ; metoda ALD ; utlenianie anodowe ; właściwości elektrochemiczne ; morfologia powłoki

TiO2 ; ALD method ; anodic oxidation ; electrochemical properties ; surface morphology

5/31
Nr opisu: 0000116003   
Manufacturing and investigation of surface morphology and optical properties of composite thin films reinforced by TiO2, Bi2O3 and SiO2 nanoparticles.
[Aut.]: Paweł Jarka, Tomasz Tański, Wiktor Matysiak, Łukasz Krzemiński, B. Hajduk, Marcin Bilewicz.
-Appl. Surf. Sci. 2017 vol. 424, pt. 2, s. 206-212, bibliogr. 34 poz.. Impact Factor 4.439. Punktacja MNiSW 35.000

nanokompozyty ; nanocząstki ; SiO2 ; TiO2 ; morfologia powierzchni ; własności optyczne

nanocomposites ; nanoparticles ; SiO2 ; TiO2 ; Bi2O3 ; surface morphology ; optical properties

6/31
Nr opisu: 0000120834   
Pure and highly Nb-doped titanium dioxide nanotubular arrays: characterization of local surface properties.
[Aut.]: Monika Kwoka, V. Galstyan, E. Comini, Jacek Szuber.
-Nanomaterials 2017 vol. 7 iss. 12, art. no. 456 s. 1-13, bibliogr. 43 poz.. Impact Factor 3.504. Punktacja MNiSW 35.000

nanorurki TiO2 ; domieszkowanie Nb ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; SEM

TiO2 nanotubes ; Nb-doping ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; SEM

7/31
Nr opisu: 0000106780
Analiza UV-VIS cienkich warstw kompozytowych PVP/SiO2.
[Aut.]: Wiktor Matysiak, S. Zieliński, Tomasz Tański, M. Zaborowska, P. Witek, Ewa Rusek, Artur* Skorupa, M. Latusek.
W: Materiały i technologie XXI wieku. XVIII Międzynarodowa studencka sesja naukowa, Katowice, 19 maja 2016. [Dokument elektroniczny]. Red. Marcin Godzierz, Adam Gryc, Marta Biesaga, Aleksandra Miczek, Konrad Brzyski. Katowice : [b.w.], 2016, pamięć USB (PenDrive) s. 240-245, bibliogr. 17 poz.

cienka warstwa kompozytowa ; morfologia kompozytów ; morfologia powierzchni ; mikroskop sił atomowych ; spektroskopia UV-Vis

thin composite layer ; morphology of composites ; surface morphology ; atomic force microscope ; UV-Vis spectroscopy

8/31
Nr opisu: 0000100782   
Rheotaxial growth and vacuum oxidation - novel technique of tin oxide deposition. In situ monitoring of oxidation process.
[Aut.]: Monika Kwoka, Maciej Krzywiecki.
-Mater. Lett. 2015 vol. 154, s. 1-4, bibliogr. 16 poz.. Impact Factor 2.437. Punktacja MNiSW 35.000

SnO2 ; RGVO ; nanowarstwa ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; XPS ; AFM

SnO2 ; RGVO ; nanolayer ; surface chemistry ; surface morphology ; XPS ; AFM

9/31
Nr opisu: 0000103131   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation after air exposure.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, A. Grzeszczak, Jacek Szuber.
-Cryst. Res. Technol. 2015 vol. 50 iss. 11, s. 884-890, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 0.908. Punktacja MNiSW 20.000

tlenek indu ; In2O3 ; powłoka cienka ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM

indium oxide ; In2O3 ; ultrathin film ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM

10/31
Nr opisu: 0000089637   
Laser stimulated light reflection reduction for silver nanoparticle-attached aluminum-doped zinc oxide substrate.
[Aut.]: I. Kityk, X. Chen, M. Oyama, E. Gondek, P. Armatys, Paweł Karasiński.
-Phys. E, Low-Dimens. Syst. Nanostruct. 2014 vol. 56, s. 283-287, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 2.000. Punktacja MNiSW 25.000

nanocząstka srebra ; morfologia powierzchni ; obróbka laserowa fotoindukowana

silver nanoparticle ; surface morphology ; photoinduced laser treatment

11/31
Nr opisu: 0000099817   
Mikrostruktura i odporność na utlenianie dyfuzyjnych powłok krzemkowych na metalach wysokotopliwych.
[Aut.]: Grzegorz Moskal, Piotr Kałamarz, Lucjan Swadźba, Wacław** Supernak, A. Wrona, Marek** Hetmańczyk, Bartosz Witala, M. Osadnik, Jarosław Tracz.
W: Inżynieria powierzchni. INPO 2014. IX Konferencja naukowa, 7-10 wrzesień 2014, Wisła-Jawornik. Program. [B.m.] : [b.w.], 2014, s. 73

powłoka dyfuzyjna ; powłoka krzemionkowa ; skład chemiczny ; skład fazowy ; morfologia powierzchni ; morfologia powłoki

diffusion coating ; silicide coating ; chemical composition ; phase composition ; surface morphology ; coating morphology

12/31
Nr opisu: 0000093503   
Niskowymiarowe nanostruktury dwutlenku cyny SnO2 w sensoryce gazów.
[Aut.]: Monika Kwoka, Jacek Szuber.
-Elektronika 2014 R. 55 nr 9, s. 39-44, bibliogr. 4 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

dwutlenek cyny ; SnO2 ; nanostruktura niskowymiarowa ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; charakterystyka sensorowa ; czujnik gazu

tin dioxide ; SnO2 ; low dimensional nanostructure ; surface chemistry ; surface morphology ; sensor characteristic ; gas sensor

13/31
Nr opisu: 0000091089   
Surface chemistry of SnO2 nanowires on Ag-catalyst-covered Si substrate studied using XPS and TDS methods.
[Aut.]: Michał* Sitarz, Monika Kwoka, E. Comini, D. Zappa, Jacek Szuber.
-Nanoscale Res. Lett. 2014 vol. 9 iss. 1, s. 1-6, bibliogr. 24 poz.. Impact Factor 2.779. Punktacja MNiSW 35.000

SnO2 ; nanodruty ; Ag ; chemia powierzchni ; XPS ; TDS ; morfologia powierzchni ; SEM

SnO2 ; nanowires ; Ag ; surface chemistry ; XPS ; TDS ; surface morphology ; SEM

14/31
Nr opisu: 0000096259   
XPS, TDS, and AFM studies of surface chemistry and morphology of Ag-covered L-CVD SnO2 nanolayers.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Piotr* Kościelniak, Jacek Szuber.
-Nanoscale Res. Lett. 2014 vol. 9 iss. 1, s. 1-6, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 2.779. Punktacja MNiSW 35.000

dwutlenek cyny ; SnO2 ; powłoki cienkie L-CVD ; domieszkowanie Ag ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; XPS ; TDS ; AFM

tin dioxide ; SnO2 ; L-CVD thin films ; Ag-doping ; surface chemistry ; surface morphology ; XPS ; TDS ; AFM

15/31
Nr opisu: 0000091264
Badania morfologii powierzchni cienkich warstw polimerowych metodami mikroskopii konfokalnej.
[Aut.]: Marcin Bilewicz, Magdalena* Macek, Tomasz Tański.
W: Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013, s. 84-87 (Open Access Library ; vol. 10 (28) 2083-5191)

cienka warstwa polimerowa ; nakładanie powłok ; morfologia powierzchni ; mikroskopia konfokalna ; ćwiczenia laboratoryjne

thin polymer layer ; coatings deposition ; surface morphology ; confocal microscopy ; laboratory exercises

16/31
Nr opisu: 0000091593
Wpływ warunków nanoszenia na morfologię powierzchni i własności optyczne cienkich warstw materiałów molekularnych.
[Aut.]: Jan** Weszka, Paweł Jarka.
W: Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013, s. 620-623 (Open Access Library ; vol. 10 (28) 2083-5191)

materiał molekularny ; organiczne ogniwo fotowoltaiczne ; organiczne złącze p-n ; cienka warstwa organiczna ; własności optyczne ; morfologia powierzchni ; nanoszenie warstw ; ćwiczenia laboratoryjne

molecular material ; organic solar cell ; organic p-n junction ; thin organic film ; optical properties ; surface morphology ; film deposition ; laboratory exercises

17/31
Nr opisu: 0000091591
Wpływ warunków nanoszenia na morfologię powierzchni i własności optyczne cienkich warstw polimer-fulleren.
[Aut.]: Jan** Weszka, Paweł Jarka.
W: Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013, s. 616-619 (Open Access Library ; vol. 10 (28) 2083-5191)

materiały polimerowe ; warstwa cienka ; złącze p-n ; nanoszenie warstw ; rozwirowanie z roztworu ; własności optyczne ; morfologia powierzchni ; ćwiczenia laboratoryjne

polymeric materials ; thin film ; p-n junction ; film deposition ; spin-coating ; optical properties ; surface morphology ; laboratory exercises

18/31
Nr opisu: 0000072518
Surface morphology and optical properties of polymer thin films.
[Aut.]: Jan** Weszka, Magdalena Szindler, M. Bruma.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 6, s. 120-122, bibliogr. 6 poz.
Referat wygłoszony na European Summer School of Photovoltaics, Karaków, Poland, 4-7 July 2012. Punktacja MNiSW 6.000

morfologia powierzchni ; polimer ; warstwa cienka

surface morphology ; polymer ; thin film

19/31
Nr opisu: 0000083538
Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych w badaniach cienkich warstw.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Dariusz Łukowiec.
W: Proceedings of the Eighteenth International Scientific Conference on Contemporary Achievements in Mechanics, Manufacturing and Materials Science. CAM3S'2012, Gliwice - Ustroń, 27th - 29th February 2012. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2012, s. 43, bibliogr. 3 poz.

mikroskopia sił atomowych ; warstwa cienka ; morfologia powierzchni

atomic force microscope ; thin film ; surface morphology

20/31
Nr opisu: 0000089506
Wyniki badań struktury i morfologii kish grafitu.
[Aut.]: Mirosława Pawlyta.
W: Proceedings of the Eighteenth International Scientific Conference on Contemporary Achievements in Mechanics, Manufacturing and Materials Science. CAM3S'2012, Gliwice - Ustroń, 27th - 29th February 2012. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2012, s. 74, bibliogr. 1 poz.

grafit pierwotny ; morfologia powierzchni ; struktura ; grafen

kish graphite ; surface morphology ; structure ; graphene

21/31
Nr opisu: 0000082099
Optymalizacja technologii RGTO osadzania bardzo cienkich warstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
[Aut.]: Jacek Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 131
Pełny tekst na CD-ROM

tlenek przewodzący ; SnO2 ; In2O3 ; warstwa cienka ; nanowarstwa ; stechiometria ; morfologia powierzchni ; AFM ; XPS ; SEM

conductive oxide ; SnO2 ; In2O3 ; thin film ; nanolayer ; stoichiometry ; surface morphology ; AFM ; XPS ; SEM

22/31
Nr opisu: 0000071524   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, Ł. Pawela, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

In2O3 ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM

In2O3 ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM

23/31
Nr opisu: 0000057448   
Badania struktury, morfologii powierzchni oraz właściwości sensorowych cienkich warstw SnO2.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, M. Pisarek, Jerzy** Żak.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 6, s. 50-53, bibliogr. 13 poz.

morfologia powierzchni ; dyfraktometria rentgenowska ; mikroskopowa siła atomowa ; mikroskopia AFM ; spektroskopia elektronów Augera ; adsorpcja tlenu

surface morphology ; X-ray diffraction ; atomic force microscope ; AFM microscopy ; Auger electron spectroscopy ; oxygen adsorption

24/31
Nr opisu: 0000063356   
Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2010 vol. 256 iss. 19, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz.. Impact Factor 1.795

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; podłoże krzemowe ; morfologia powierzchni ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS

tin dioxide ; L-CVD thin film ; surface morphology ; atomic force microscopy ; AFM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS

25/31
Nr opisu: 0000071753   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, L. Pawela, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2010 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 1.935

In2O3 ; RGVO ; XPS ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; AFM

In2O3 ; RGVO ; XPS ; surface chemistry ; surface morphology ; AFM

26/31
Nr opisu: 0000056436   
Changes to the morphology, structure and properties as a consequence of polyethylene working in a polymer-metal kinematic pair.
[Aut.]: J. Maszybrocka, J. Cybo, Jan Cwajna.
-Mater. Charact. 2009 vol. 60 iss. 10, s. 1139-1144, bibliogr. 10 poz.. Impact Factor 1.416

morfologia powierzchni ; polietylen ; stopień krystaliczności ; odkształcenie plastyczne ; odporność na odkształcenie plastyczne

surface morphology ; polyethylene ; crystalline degree ; plastic deformation ; plastic deformation resistance

27/31
Nr opisu: 0000056438   
Local surface morphology and chemistry of SnO2 thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application.
[Aut.]: L. Ottaviano, Monika Kwoka, F. Bisti, P. Parisse, V. Grossi, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 22, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 1.727

dwutlenek cyny ; RGTO ; podłoże krzemowe ; stechiometria ; dyfrakcja rentgenowska ; wytrzymałość na zginanie ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów

tin dioxide ; Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO) ; surface morphology ; stoichiometry ; X-ray diffraction ; scanning electron microscopy ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy

28/31
Nr opisu: 0000039992   
AFM study of the surface morphology of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2007 vol. 515 iss. 23, s. 8328-8331, bibliogr. 14 poz.. Impact Factor 1.693

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; mikroskopia sił atomowych ; morfologia powierzchni

tin dioxide ; L-CVD thin film ; atomic force microscopy ; surface morphology

29/31
Nr opisu: 0000036413   
Studies of surface properties of L-CVD SnO2 thin films. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Monika Kwoka.
Gliwice, 2007, 128 k., bibliogr. 84 poz. + zał.: 46 k.
Politechnika Śląska. Wydział Matematyczno-Fizyczny. Promotor: prof. dr hab. inż. Jacek Szuber

cienka warstwa SnO2 ; cienka powłoka L-CVD ; dwutlenek cyny ; spektroskopia fotoelektronowa ; mikroskopia sił atomowych ; chemia powierzchni ; własności elektronowe ; morfologia powierzchni ; osadzanie

SnO2 thin film ; L-CVD thin film ; tin dioxide ; photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy ; surface chemistry ; electronic properties ; surface morphology ; deposition

30/31
Nr opisu: 0000021188   
Micro-Raman spectroscopy of disordered and ordered sulfur phases on a passivated GaAs surface.
[Aut.]: Tomasz Błachowicz, G. Salvan, D. Zahn, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 nr 21, s. 7642-7646, bibliogr. 18 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005. Impact Factor 1.436

arsenek galu ; pasywacja siarki ; spektroskopia Ramana ; morfologia powierzchni ; (NH4)2Sx ; S2Cl2

gallium arsenide ; sulfur passivation ; Raman spectroscopy ; surface morphology ; (NH4)2Sx ; S2Cl2

31/31
Nr opisu: 0000009218   
Nowe materiały katodowe w elektrolizie odpadowego kwasu solnego.
[Aut.]: K. Wandachowicz, Witold** Gnot, M. Bodzińska.
-Przem. Chem. 2004 t. 83 nr 7, s. 335-339, bibliogr. 8 poz.

kwas solny ; utylizacja ; elektroliza ; grafit ; tworzywo elektrodowe ; morfologia powierzchni ; morfologia powłoki ; badanie korozyjne

hydrochloric acid ; utilization ; electrolysis ; graphite ; electrode material ; surface morphology ; coating morphology ; corrosion test

stosując format:
Nowe wyszukiwanie