Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SURFACE MAPPING
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000128475
Badanie rozkładu grubości powierzchni cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej spektroskopowej.
[Aut.]: B. Hajduk, Paweł Jarka, P. Nitschke.
-LAB Laboratoria Apar. Bad. 2019 nr 1, s. 6-8, bibliogr. 3 poz.. Punktacja MNiSW 5.000

elipsometria spektroskopowa ; mapowanie powierzchni ; warstwa cienka

spectroscopic ellipsometry ; surface mapping ; thin layer

stosując format:
Nowe wyszukiwanie