Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SURFACE CHEMISTRY
Liczba odnalezionych rekordów: 15



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/15
Nr opisu: 0000121550   
Surface properties of nanostructured, porous ZnO thin films prepared by direct current reactive magnetron sputtering.
[Aut.]: Monika Kwoka, Barbara Łysoń-Sypień, Anna Kuliś, M. A. Borysiewicz, E. Kamińska, Jacek Szuber.
-Materials 2018 vol. 11 iss. 1, art. no 131 s. 1-11, bibliogr. 31 poz.. Impact Factor 2.972. Punktacja MNiSW 35.000

nanostruktura ZnO ; reaktywne rozpylanie magnetronowe ; XPS ; chemia powierzchni

ZnO nanostructure ; reactive magnetron sputtering ; XPS ; surface chemistry

2/15
Nr opisu: 0000126068   
Surface properties of SnO2 nanowires deposited on Si substrate covered by Au catalyst studies by XPS, TDS and SEM.
[Aut.]: Monika Kwoka, Barbara Łysoń-Sypień, Anna Kuliś, D. Zappa, E. Comini.
-Nanomaterials 2018 vol. 8 iss. 9, art. no. 738 s. 1-10, bibliogr. 31 poz.. Impact Factor 4.034. Punktacja MNiSW 35.000

morfologia powierzchni ; chemia powierzchni ; osadzanie z fazy gazowej ; nanodruty dwutlenku cyny ; nanodruty SnO2

surface morphology ; surface chemistry ; vapor phase deposition ; tin dioxide nanowires ; SnO2 nanowires

3/15
Nr opisu: 0000120834   
Pure and highly Nb-doped titanium dioxide nanotubular arrays: characterization of local surface properties.
[Aut.]: Monika Kwoka, V. Galstyan, E. Comini, Jacek Szuber.
-Nanomaterials 2017 vol. 7 iss. 12, art. no. 456 s. 1-13, bibliogr. 43 poz.. Impact Factor 3.504. Punktacja MNiSW 35.000

nanorurki TiO2 ; domieszkowanie Nb ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; SEM

TiO2 nanotubes ; Nb-doping ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; SEM

4/15
Nr opisu: 0000100782   
Rheotaxial growth and vacuum oxidation - novel technique of tin oxide deposition. In situ monitoring of oxidation process.
[Aut.]: Monika Kwoka, Maciej Krzywiecki.
-Mater. Lett. 2015 vol. 154, s. 1-4, bibliogr. 16 poz.. Impact Factor 2.437. Punktacja MNiSW 35.000

SnO2 ; RGVO ; nanowarstwa ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; XPS ; AFM

SnO2 ; RGVO ; nanolayer ; surface chemistry ; surface morphology ; XPS ; AFM

5/15
Nr opisu: 0000103131   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation after air exposure.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, A. Grzeszczak, Jacek Szuber.
-Cryst. Res. Technol. 2015 vol. 50 iss. 11, s. 884-890, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 0.908. Punktacja MNiSW 20.000

tlenek indu ; In2O3 ; powłoka cienka ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM

indium oxide ; In2O3 ; ultrathin film ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM

6/15
Nr opisu: 0000093503   
Niskowymiarowe nanostruktury dwutlenku cyny SnO2 w sensoryce gazów.
[Aut.]: Monika Kwoka, Jacek Szuber.
-Elektronika 2014 R. 55 nr 9, s. 39-44, bibliogr. 4 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

dwutlenek cyny ; SnO2 ; nanostruktura niskowymiarowa ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; charakterystyka sensorowa ; czujnik gazu

tin dioxide ; SnO2 ; low dimensional nanostructure ; surface chemistry ; surface morphology ; sensor characteristic ; gas sensor

7/15
Nr opisu: 0000091089   
Surface chemistry of SnO2 nanowires on Ag-catalyst-covered Si substrate studied using XPS and TDS methods.
[Aut.]: Michał* Sitarz, Monika Kwoka, E. Comini, D. Zappa, Jacek Szuber.
-Nanoscale Res. Lett. 2014 vol. 9 iss. 1, s. 1-6, bibliogr. 24 poz.. Impact Factor 2.779. Punktacja MNiSW 35.000

SnO2 ; nanodruty ; Ag ; chemia powierzchni ; XPS ; TDS ; morfologia powierzchni ; SEM

SnO2 ; nanowires ; Ag ; surface chemistry ; XPS ; TDS ; surface morphology ; SEM

8/15
Nr opisu: 0000096259   
XPS, TDS, and AFM studies of surface chemistry and morphology of Ag-covered L-CVD SnO2 nanolayers.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Piotr* Kościelniak, Jacek Szuber.
-Nanoscale Res. Lett. 2014 vol. 9 iss. 1, s. 1-6, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 2.779. Punktacja MNiSW 35.000

dwutlenek cyny ; SnO2 ; powłoki cienkie L-CVD ; domieszkowanie Ag ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; XPS ; TDS ; AFM

tin dioxide ; SnO2 ; L-CVD thin films ; Ag-doping ; surface chemistry ; surface morphology ; XPS ; TDS ; AFM

9/15
Nr opisu: 0000071525   
X-ray photoelectron spectroscopy and thermal desorption spectroscopy comparative studies of L-CVD SnO2 ultra thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, Natalia Waczyńska, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 913-917, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

dwutlenek cyny ; L-CVD ; powłoka cienka ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; profilowanie głębokościowe ; spektroskopia termodesorpcyjna ; chemia powierzchni

tin dioxide ; L-CVD ; ultrathin film ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; depth profiling ; thermal desorption spectroscopy ; surface chemistry

10/15
Nr opisu: 0000071524   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, Ł. Pawela, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

In2O3 ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM

In2O3 ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM

11/15
Nr opisu: 0000063738   
CFD two-scale model of a wet natural draft cooling tower.
[Aut.]: Adam Klimanek, Ryszard** Białecki, Ziemowit Ostrowski.
-Numer. Heat Transf., Pt A 2010 vol. 57 iss. 2, s. 119-137, bibliogr. 22 poz.. Impact Factor 1.183

chłodnia kominowa ; wymiana pędu ; zagadnienie brzegowe ; napięcie powierzchniowe ; chemia powierzchni

cooling tower ; momentum transfer ; boundary value problem ; surface tension ; surface chemistry

12/15
Nr opisu: 0000071753   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, L. Pawela, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2010 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 1.935

In2O3 ; RGVO ; XPS ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; AFM

In2O3 ; RGVO ; XPS ; surface chemistry ; surface morphology ; AFM

13/15
Nr opisu: 0000048128   
XPS study of air exposed copper phthalocyanine ultra-thin films deposited on Si(111) native substrates.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, L. Grzadziel, L. Ottaviano, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Mater. Sci. Pol. 2008 vol. 26 no. 2, s. 287-294, bibliogr. 21 poz.. Impact Factor 0.368

ftalocyjanina miedzi ; CuPc ; warstwa cienka ; chemia powierzchni

copper phthalocyanine ; CuPc ; thin film ; surface chemistry

14/15
Nr opisu: 0000047687   
XPS study of the surface chemistry of Ag-covered L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2008 vol. 254 iss. 24, s. 8089-8092, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 1.576

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; domieszkowanie Ag ; XPS ; chemia powierzchni ; profilowanie głębokościowe

tin dioxide ; L-CVD thin film ; Ag-doping ; XPS ; surface chemistry ; depth profiling

15/15
Nr opisu: 0000036413   
Studies of surface properties of L-CVD SnO2 thin films. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Monika Kwoka.
Gliwice, 2007, 128 k., bibliogr. 84 poz. + zał.: 46 k.
Politechnika Śląska. Wydział Matematyczno-Fizyczny. Promotor: prof. dr hab. inż. Jacek Szuber

cienka warstwa SnO2 ; cienka powłoka L-CVD ; dwutlenek cyny ; spektroskopia fotoelektronowa ; mikroskopia sił atomowych ; chemia powierzchni ; własności elektronowe ; morfologia powierzchni ; osadzanie

SnO2 thin film ; L-CVD thin film ; tin dioxide ; photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy ; surface chemistry ; electronic properties ; surface morphology ; deposition

stosując format:
Nowe wyszukiwanie