Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SULFIDATION
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000023850
Wpływ składu chemicznego atmosfery korozyjnej na odporność stopów na osnowie fazy Fe3Al.
[Aut.]: Barbara** Dytkowicz, Adam** Hernas.
W: XXXIV Szkoła Inżynierii Materiałowej, Kraków - Krynica, 26-29 IX 2006. Akademia Górniczo-Hutnicza im. St. Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. [Kraków] : [Edukacja], [2006], s. 305-310, bibliogr. 9 poz.

faza międzymetaliczna Fe-Al ; utlenianie ; korozja wysokotemperaturowa ; siarkowanie ; chlorowanie

Fe-Al intermetallics ; oxidation ; high-temperature corrosion ; sulfidation ; chlorination

2/3
Nr opisu: 0000025453   
XPS analysis of surface chemistry of near surface region of epiready GaAs(1 0 0) surface treated with (NH4)2Sx solution.
[Aut.]: Sebastian* Arabasz, E. Bergignat, G. Hollinger, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7659-7663, bibliogr. 32 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005. Impact Factor 1.436

GaAs ; pasywacja ; XPS ; siarkowanie

GaAs ; passivation ; XPS ; sulfidation

3/3
Nr opisu: 0000025543   
XPS study of surface chemistry of epiready GaAs(1 0 0) surface after (NH4)2Sx passivation.
[Aut.]: Sebastian* Arabasz, E. Bergignat, G. Hollinger, Jacek Szuber.
-Vacuum 2006 vol. 80 iss. 8, s. 888-893, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 0.834

GaAs ; siarkowanie ; pasywacja ; XPS ; półprzewodnik

GaAs ; sulfidation ; passivation ; XPS ; semiconductor

stosując format:
Nowe wyszukiwanie