Wynik wyszukiwania
Zapytanie: STATISTICAL PARAMETERS
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000094229
Statistical approach to fault diagnosis of electrical circuits.
[Aut.]: Jan Machniewski, Lucjan** Karwan.
W: XXXVI Międzynarodowa Konferencja z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów. IC-SPETO 2013, Gliwice - Ustroń, 22-25.05.2013 = 36th International Conference on Fundamentals of Electrotechnics and Circuit Theory. Instytut Elektrotechniki i Informatyki Politechniki Śląskiej, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Systemów Informatyczno-Pomiarowych Politechniki Warszawskiej, Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej PTETiS. Oddział Gliwice-Opole. Gliwice : [Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Przemysłowej. Politechnika Śląska], 2013, s. 95-96, bibliogr. 5 poz.
Toż na CD-ROM

diagnostyka błędów ; parametry statystyczne ; wrażliwość

fault diagnosis ; statistical parameters ; sensitivity

stosując format:
Nowe wyszukiwanie