Wynik wyszukiwania
Zapytanie: REFLECTANCE SPECTRA
Liczba odnalezionych rekordów: 4



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu: 0000131351   
Homogeneity of sol-gel derived silica-titania waveguide films - spectroscopic and AFM studies.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Alina Domanowska, E. Gondek, A. Sikora, Cuma Tyszkiewicz, M. Skolik.
-Opt. Laser Technol. 2020 vol. 121, art. no.105840 s. 1-8, bibliogr. 42 poz.. Impact Factor 3.319. Punktacja MNiSW 100.000

zol-żel ; powłoka krzemionkowo-tytanowa ; światłowód planarny ; jednorodność optyczna ; widmo odbiciowe ; metoda macierzy przejścia

sol-gel ; silica-titania film ; planar waveguide ; optical homogeneity ; reflectance spectra ; transfer matrix method

2/4
Nr opisu: 0000127005
Jednorodność optyczna warstw falowodowych SiO2:TiO2 wytwarzanych metodą zol-żel.
[Aut.]: Paweł Karasiński.
W: Światłowody i ich zastosowanie. TAL 2018. XVIII Konferencja i V Szkoła "Technologia światłowodów", Nałęczów, 20-23.11.2018. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2018, pamięć USB (PenDrive) s. 1, bibliogr. 3 poz.

warstwa cienka ; współczynnik załamania ; jednorodność optyczna ; widmo odbiciowe

thin layer ; refractive index ; optical homogeneity ; reflectance spectra

3/4
Nr opisu: 0000124790   
Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Marcin Skolik, T. Błaszczyk.
-Prz. Elektrot. 2018 R. 94 nr 8, s. 51-54, bibliogr. 12 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

spektrofotometria ; współczynnik załamania ; warstwa dielektryczna ; warstwa cienka ; widmo odbiciowe

spectrophotometry ; refractive index ; dielectric layer ; thin film ; reflectance spectra

4/4
Nr opisu: 0000125130
Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Marcin Skolik, T. Błaszczyk.
W: XVII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 03-07.06.2018. Program konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2018, pamięć USB (PenDrive) s. 1-7

spektrofotometria ; współczynnik załamania ; warstwa dielektryczna ; warstwa cienka ; widmo odbiciowe

spectrophotometry ; refractive index ; dielectric layer ; thin film ; reflectance spectra

stosując format:
Nowe wyszukiwanie