Wynik wyszukiwania
Zapytanie: METROLOGICAL MODEL
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000015192
Błędy własne sieci neuronowej zastosowanej do rozwiązywania dwuwymiarowego odwrotnego zadania pomiarowego.
[Aut.]: P. Makowski, Jerzy Roj.
W: VI Międzynarodowe Warsztaty Doktoranckie. OWD '2004, [Wisła, 16-19 October 2004]. Vol. 6. Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej [ i in.]. [Gliwice] : Komitet Organizacyjny Sympozjum PPEE i Seminarium BSE, 2004, s. 303-306 (Archiwum Konferencji PTETiS ; vol. 19)

sieć neuronowa ; właściwości metrologiczne ; model metrologiczny

neural network ; metrological properties ; metrological model

2/2
Nr opisu: 0000015858
Błędy własne sieci neuronowej zastosowanej do rozwiązywania dwuwymiarowego odwrotnego zadania pomiarowego.
[Aut.]: P. Makowski, Jerzy Roj.
W: VI Międzynarodowe Warsztaty Doktoranckie. OWD'2004, Wisła, 16-19 października 2004. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], [2004], dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-4, bibliogr. 6 poz.

sieć neuronowa ; właściwości metrologiczne ; model metrologiczny

neural network ; metrological properties ; metrological model

stosując format:
Nowe wyszukiwanie