Wynik wyszukiwania
Zapytanie: FUNCTIONAL TESTING
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000130749   
Design an identification function to reduce the computational resources on the testing process of an analog electronic circuit.
[Aut.]: Sebastian Temich, Tomasz Golonek, Damian Grzechca.
-Elektron. Elektrotech. 2019 vol. 25 no. 3, s. 25-33, bibliogr. 28 poz.. Impact Factor 0.684. Punktacja MNiSW 40.000

pompa zasilająca Dickona ; testowanie funkcjonalne ; powstające wady ; regresja ewolucyjna ; identyfikacja obwodu CMOS

Dickson charge-pump ; functional testing ; incipient faults ; evolutionary regression ; CMOS circuit identification

2/6
Nr opisu: 0000125998
Reliability of a new diagnostic test for a functional balance measurement.
[Aut.]: W. Marszałek, Andrzej Bieniek, M. Pawłowski, K. Słomka, Marek Gzik, G. Juras.
W: Biomechanics 2018. International Conference of the Polish Society of Biomechanics, Zielona Góra, September 5-7, 2018. Abstracts book. Eds. Katarzyna Arkusz, Romuald Będziński, Tomasz Klekiel, Szczepan Piszczatowski. Zielona Góra : University of Zielona Góra. Department of Mechanical Engineering. Division of Biomedical Engineering, 2018, s. 147-148, bibliogr. 3 poz.

niezawodność ; rzeczywistość wirtualna ; testowanie funkcjonalne

reliability ; virtual reality ; functional testing

3/6
Nr opisu: 0000081583   
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 485-489

analogowy układ elektroniczny ; testowanie funkcjonalne ; czas odpowiedzi

analogue electronic circuits ; functional testing ; response time

4/6
Nr opisu: 0000059075   
Uniwersalny system testujący urządzenia elektroniczne.
[Aut.]: Jan* Mocha, Zbigniew* Łaskarzewski.
W: Informatyka - sztuka czy rzemiosło. KNWS'09, Rydzyna, 3-5 czerwca 2009. Materiały 6. konferencji naukowej. Preprint. Zielona Góra : Instytut Informatyki i Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Informatyki i Telekomunikacji. Uniwersytet Zielonogórski, 2009, s. 57-59, bibliogr. 6 poz.

uniwersalny system testowania ; testowanie ; ATE ; matryca wieloigłowa ; testowanie funkcjonalne ; SCPI ; wtyczka

universal testing system ; testing ; ATE ; bed of nails ; functional testing ; SCPI ; plug-in

5/6
Nr opisu: 0000049582   
Uniwersalny system testujący urządzenia elektroniczne.
[Aut.]: Jan* Mocha, Zbigniew* Łaskarzewski.
-Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 7, s. 426-428, bibliogr. 6 poz.

testowanie ; urządzenie elektroniczne ; ATE ; testowanie funkcjonalne ; SCPI ; standardowe polecenia programowanych urządzeń ; wtyczka ; matryca wieloigłowa

testing ; electronic device ; ATE ; functional testing ; SCPI ; Standard Commands for Programmable Instruments ; plug-in ; bed of nails

6/6
Nr opisu: 0000043107   
Zastosowanie układu FPAA do diagnostyki i testowania układów analogowych.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 158-162, bibliogr. 5 poz.

układ analogowy ; FPAA ; testowanie ; diagnostyka ; testowanie funkcjonalne ; symulacja uszkodzeń

analog circuit ; testing ; diagnostics ; functional testing ; fault simulation

stosując format:
Nowe wyszukiwanie