Wynik wyszukiwania
Zapytanie: FAULT LOCATION
Liczba odnalezionych rekordów: 12



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/12
Nr opisu: 0000083609
Deployment of system of detection and localization of leakages water supply network of PWiK Rybnik.
[Aut.]: Wojciech Moczulski, Krzysztof Ciupke, Daniel Pająk, Piotr Przystałka, Piotr* Tomasik, Dominik Wachla, Ryszard Wyczółkowski.
W: XII International Technical Systems Degradation Conference. TSD International Conference, Liptovsky Mikulas, 3-6 April 2013. Ed. J. Mączak. Faculty of Automotive and Construction Machinery Engineering. Warsaw University of Technology [et al.]. Warszawa : Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne, 2013, s. 51-54, bibliogr. 4 poz.

wykrywanie uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; diagnostyka wsparta modelowo ; model przybliżony ; wykrywanie nieszczelności ; system diagnostyczny

fault detection ; fault location ; model-based diagnostics ; approximate model ; leak detection ; diagnostic system

2/12
Nr opisu: 0000084022
Analiza możliwości i zakresu stosowania metody reflektometrycznej lokalizacji uszkodzeń w kopalnianych sieciach SN.
[Aut.]: Adam Heyduk, Joachim Pielot.
W: XIV Krajowa Konferencja Elektryki Górniczej, Zakopane, 10-12 października 2012 r. Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa. Wydział Górnictwa i Geologii Politechniki Śląskiej w Gliwicach [i in.]. Gliwice : Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa Politechniki Śląskiej, 2012, s. 293-303, bibliogr. 6 poz.

sieć kopalniana ; lokalizacja uszkodzeń ; reflektometria

mine network ; fault location ; reflectometry

3/12
Nr opisu: 0000098085
Lokalizacja uszkodzeń kabli i przewodów oponowych w strefach zagrożonych wybuchem.
[Aut.]: A. Kozłowski, M. Kryca, J. Chudorliński, Sergiusz Boron, M. Górny, M. Mistarz.
W: XIV Krajowa Konferencja Elektryki Górniczej, Zakopane, 10-12 października 2012 r. Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa. Wydział Górnictwa i Geologii Politechniki Śląskiej w Gliwicach [i in.]. Gliwice : Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa Politechniki Śląskiej, 2012, s. 305-313

kabel elektroenergetyczny ; przewód oponowy ; lokalizacja uszkodzeń ; zagrożenie wybuchem ; aparatura pomiarowa

power cable ; flexible power cable ; fault location ; explosion hazard ; measuring apparatus

4/12
Nr opisu: 0000083916
Przegląd górniczych kabli i przewodów oponowych z punktu widzenia możliwości lokalizacji uszkodzeń.
[Aut.]: Sergiusz Boron.
W: XIV Krajowa Konferencja Elektryki Górniczej, Zakopane, 10-12 października 2012 r. Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa. Wydział Górnictwa i Geologii Politechniki Śląskiej w Gliwicach [i in.]. Gliwice : Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa Politechniki Śląskiej, 2012, s. 223-234, bibliogr. 6 poz.

przewód oponowy ; kabel ; lokalizacja uszkodzeń

flexible power cable ; cable ; fault location

5/12
Nr opisu: 0000072427   
Fault diagnosis of analog electronic circuits with tolerances in mind. Design for testability with analysis of influence of components tolerance.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 496-501, bibliogr. 18 poz.

diagnostyka uszkodzeń ; układ analogowy ; wykrywanie uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; uszkodzenie pojedyncze ; uszkodzenie katastroficzne ; redukcja czasu testowania ; tolerancja elementów ; algorytm genetyczny

fault diagnosis ; analog circuit ; fault detection ; fault location ; single fault ; catastrophic fault ; test time reduction ; components tolerance ; genetic algorithm

6/12
Nr opisu: 0000082617
Maksymalizacja tolerancji w diagnostyce uszkodzeń analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 236
Pełny tekst na CD-ROM

diagnostyka uszkodzeń ; elektronika analogowa ; algorytm genetyczny ; tolerancja elementów ; uszkodzenie katastroficzne ; lokalizacja uszkodzeń

fault diagnosis ; analogue electronics ; genetic algorithm ; components tolerance ; catastrophic fault ; fault location

7/12
Nr opisu: 0000072423   
Tolerance maximisation in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk.
W: 2011 20th European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD), Linkoping, Sweden, 29-31 August 2011. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 881-884, bibliogr. 15 poz.

diagnostyka uszkodzeń ; układ analogowy ; detekcja uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; uszkodzenie pojedyncze ; uszkodzenie katastroficzne ; redukcja czasu testowania ; tolerancja elementów ; algorytm genetyczny

fault diagnosis ; analogue circuit ; fault detection ; fault location ; single fault ; catastrophic fault ; test time reduction ; components tolerance ; genetic algorithm

8/12
Nr opisu: 0000049105   
Specialised excitation and wavelet feature extraction in fault diagnosis of analog electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2008, Malta, 31st August - 3rd September 2008. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 242-246, bibliogr. 9 poz.

testowanie układu ; obwód elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; ekstrakcja cech ; pomiar czasu ; ocena efektywności

circuit testing ; electronic circuit ; fault diagnosis ; fault location ; feature extraction ; time measurement ; performance evaluation

9/12
Nr opisu: 0000084725   
Specialised excitation and wavelet feature extraction in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2008. Proceedings of the 15th international conference, Poznań, Poland, 19-21 June, 2008. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2008, s. 511-516, bibliogr. 10 poz.

lokalizacja uszkodzeń ; diagnostyka uszkodzeń ; słownik uszkodzeń ; transformata falkowa ; algorytm genetyczny ; elektronika analogowa

fault location ; fault diagnosis ; fault dictionary ; wavelet transform ; genetic algorithm ; analogue electronics

10/12
Nr opisu: 0000039950   
Zastosowanie liniowych rejestrów pierścieniowych do testowania połączeń w układach FPGA.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino.
-Pomiary Autom. Kontr. 2008 vol. 54 nr 8, s. 594-597, bibliogr. 11 poz.

liniowy rejestr pierścieniowy ; testowanie połączeń ; lokalizacja uszkodzeń ; identyfikacja uszkodzeń ; sygnatura ; słownik diagnostyczny ; układ FPGA

Ring Linear Feedback Shift Register ; interconnection testing ; fault location ; damage identification ; signature ; diagnostic dictionary ; Field Programmable Gate Array

11/12
Nr opisu: 0000031907   
Crosstalk-insensitive method for testing of delay faults in interconnects between cores in SoCs.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, M. Kopeć, Andrzej** Hławiczka.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [Łódź] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007, s. 496-500, bibliogr. 10 poz.

test połączeń ; uszkodzenie opóźnieniowe ; przesłuch ; lokalizacja uszkodzeń ; identyfikacja uszkodzeń ; metoda test-per-clock

interconnect test ; delay fault ; crosstalk ; fault location ; fault identification ; test-per-clock method

12/12
Nr opisu: 0000031567   
Finding of optimal excitation signal for testing of analog electric circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2007 vol. 55 no. 3, s. 273-280, bibliogr. 5 poz.

wykrywanie uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ elektroniczny ; transformata falkowa ; algorytm genetyczny

fault detection ; fault location ; fault diagnosis ; analog electronic circuit ; wavelet transform ; genetic algorithm

stosując format:
Nowe wyszukiwanie