Wynik wyszukiwania
Zapytanie: EVOLUTIONARY COMPUTATIONS
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000071090   
Stimulus with limited band optimization for analogue circuit testing.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
-Metrol. Meas. Syst. 2012 vol. 19 nr 1, s. 73-84, bibliogr. 20 poz.. Impact Factor 0.982. Punktacja MNiSW 20.000

obliczenia ewolucyjne ; testowanie układu analogowego ; nieszczelność izolacji

evolutionary computations ; analogue circuit testing ; fault isolation

2/6
Nr opisu: 0000069621   
The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Damian Grzechca.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 47-49, bibliogr. 7 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

elektronika analogowa ; wykrywanie uszkodzeń ; obliczenia ewolucyjne ; gęstość widmowa amplitudy ; pobudzenie testujące

analogue electronics ; fault detection ; evolutionary computations ; amplitude density ; testing stimuli

3/6
Nr opisu: 0000081591   
The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Damian Grzechca.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 516-519, bibliogr. 7 poz.

wykrywanie uszkodzeń ; gęstość widmowa amplitudy ; obliczenia ewolucyjne ; pobudzenie testujące

fault detection ; amplitude density ; evolutionary computations ; testing stimuli

4/6
Nr opisu: 0000082611
Zastosowanie pobudzenia pasmowego do testowania analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 232
Pełny tekst na CD-ROM

analogowy układ elektroniczny ; testowanie układu analogowego ; obliczenia ewolucyjne ; gęstość widmowa ; szereg Fouriera

analog electronic circuit ; analogue circuit testing ; evolutionary computations ; spectral density ; Fourier series

5/6
Nr opisu: 0000031632   
Evolutionary system for analog test frequencies selection with fuzzy initialization.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Kraków, Poland, April 11-13, 2007. Eds: P. Girard [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 353-356, bibliogr. 10 poz.

testowanie analogowe ; niejednoznaczność zbioru ; obliczenia ewolucyjne ; zbiór rozmyty ; system wbudowany

analog testing ; ambiguity set ; evolutionary computations ; fuzzy set ; embedded system

6/6
Nr opisu: 0000031051
Ewolucyjny dobór częstotliwości sygnałów testujących z rozmytą inicjalizacją systemu.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 101-106, bibliogr. 12 poz.

diagnostyka układów analogowych ; obliczenia ewolucyjne ; zbiór rozmyty ; testowanie układu analogowego ; optymalizacja ewolucyjna

analog circuit diagnosis ; evolutionary computation ; fuzzy set ; analogue circuit testing ; evolutionary optimization ; evolutionary computations

stosując format:
Nowe wyszukiwanie