Wynik wyszukiwania
Zapytanie: CIRCUIT TESTING
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000063340   
Testing analog electronic circuits using N-terminal network.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
W: Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. [DDECS 2010], Vienna, Austria, April 14-16, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, s. 177-180, bibliogr. 7 poz.

układ analogowy ; testowanie układu ; diagnostyka uszkodzeń ; filtracja

analog circuit ; circuit testing ; fault diagnosis ; filtering

2/6
Nr opisu: 0000049055   
Optimization of PWL analog testing excitation by means of genetic algorithm.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'08, Kraków, Poland, September 14-17, 2008. Proceedings. [Kraków] : [Department of Electronics. AGH University of Science and Technology], 2008, s. 541-544, bibliogr. 15 poz.

układ analogowy ; testowanie układu ; PWL ; algorytm genetyczny ; fenotyp ; genotyp

analog circuit ; circuit testing ; PWL ; genetic algorithm ; phenotype ; genotype

3/6
Nr opisu: 0000049105   
Specialised excitation and wavelet feature extraction in fault diagnosis of analog electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2008, Malta, 31st August - 3rd September 2008. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 242-246, bibliogr. 9 poz.

testowanie układu ; obwód elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; ekstrakcja cech ; pomiar czasu ; ocena efektywności

circuit testing ; electronic circuit ; fault diagnosis ; fault location ; feature extraction ; time measurement ; performance evaluation

4/6
Nr opisu: 0000039873   
Simulated annealing with fuzzy fitness function for test frequencies selection.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: 2007 IEEE International Fuzzy Systems Conference. FUZZ-IEEE 2007, London, UK, July 23-26, 2007. [Dokument elektroniczny]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-6, bibliogr. 8 poz.

testowanie układu ; diagnostyka uszkodzeń ; teoria zbiorów rozmytych ; symulowane wyżarzanie

circuit testing ; fault diagnosis ; fuzzy set theory ; simulated annealing

5/6
Nr opisu: 0000031165   
Analog fault AC dictionary creation - the fuzzy set approach.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 5744-5747, bibliogr. 4 poz.

testowanie układu ; słownik ; sprzęt elektroniczny ; częstotliwość ; teoria zbiorów rozmytych ; wytwarzanie ; macierz rzadka

circuit testing ; dictionary ; electronic equipment ; frequency ; fuzzy set theory ; manufacturing

6/6
Nr opisu: 0000031531   
LNA design for on-chip RF test.
[Aut.]: R. Ramzan, L. Zou, Jerzy** Dąbrowski.
W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 4236-4239, bibliogr. 8 poz.

bitowa stopa błędów ; testowanie układu ; przesłuch ; wykrywanie uszkodzeń ; transceiver

bit error rate ; circuit testing ; crosstalk ; fault detection ; transceiver

stosując format:
Nowe wyszukiwanie