Wynik wyszukiwania
Zapytanie: CATASTROPHIC FAULT
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000068427   
Czwórnikowa metoda testowania 4-tBT analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski.
-Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 76-79, bibliogr. 7 poz.. Impact Factor 0.244. Punktacja MNiSW 15.000

czwórnikowa metoda testowania ; 4-tBT ; uszkodzenie katastroficzne

4-terminal based test ; 4-tBT ; catastrophic fault

2/6
Nr opisu: 0000082608
Czwórnikowa metoda testowania N-tBT analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 229
Pełny tekst na CD-ROM

czwórnikowa metoda testowania ; N-tBT ; uszkodzenie katastroficzne

4-terminal based test ; N-tBT ; catastrophic fault

3/6
Nr opisu: 0000072427   
Fault diagnosis of analog electronic circuits with tolerances in mind. Design for testability with analysis of influence of components tolerance.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 496-501, bibliogr. 18 poz.

diagnostyka uszkodzeń ; układ analogowy ; wykrywanie uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; uszkodzenie pojedyncze ; uszkodzenie katastroficzne ; redukcja czasu testowania ; tolerancja elementów ; algorytm genetyczny

fault diagnosis ; analog circuit ; fault detection ; fault location ; single fault ; catastrophic fault ; test time reduction ; components tolerance ; genetic algorithm

4/6
Nr opisu: 0000082617
Maksymalizacja tolerancji w diagnostyce uszkodzeń analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 236
Pełny tekst na CD-ROM

diagnostyka uszkodzeń ; elektronika analogowa ; algorytm genetyczny ; tolerancja elementów ; uszkodzenie katastroficzne ; lokalizacja uszkodzeń

fault diagnosis ; analogue electronics ; genetic algorithm ; components tolerance ; catastrophic fault ; fault location

5/6
Nr opisu: 0000072423   
Tolerance maximisation in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk.
W: 2011 20th European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD), Linkoping, Sweden, 29-31 August 2011. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 881-884, bibliogr. 15 poz.

diagnostyka uszkodzeń ; układ analogowy ; detekcja uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; uszkodzenie pojedyncze ; uszkodzenie katastroficzne ; redukcja czasu testowania ; tolerancja elementów ; algorytm genetyczny

fault diagnosis ; analogue circuit ; fault detection ; fault location ; single fault ; catastrophic fault ; test time reduction ; components tolerance ; genetic algorithm

6/6
Nr opisu: 0000056512   
Multidimensional search space for catastrophic faults diagnosis in analog electronic circuits.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 555-558, bibliogr. 6 poz.

błąd katastrofalny ; algorytm roju cząstek ; przestrzeń wielowymiarowa ; tester

catastrophic fault ; particle swarm algorithm ; multidimensional space ; tester

stosując format:
Nowe wyszukiwanie