Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ANALOGUE ELECTRONIC CIRCUIT
Liczba odnalezionych rekordów: 4



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu: 0000071521   
A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 110-113, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.244. Punktacja MNiSW 15.000

triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa

Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analogue electronic circuit ; artificial neural network

2/4
Nr opisu: 0000071513   
Soft fault clustering in analog electronic circuits with the use of self organizing neural network.
[Aut.]: Damian Grzechca.
-Metrol. Meas. Syst. 2011 vol. 18 nr 4, s. 555-568, bibliogr. 46 poz.. Impact Factor 0.764. Punktacja MNiSW 20.000

wykrywanie uszkodzeń ; uszkodzenia parametryczne ; analogowy układ elektroniczny ; samoorganizująca się sieć neuronowa

fault detection ; parametric faults ; analogue electronic circuit ; self-organizing neural network

3/4
Nr opisu: 0000031023
Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 71-76, bibliogr. 13 poz.

analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka układów analogowych ; klasyfikator neuronowy ; RBF ; sieć neuronowa ; słownik uszkodzeń ; metoda BKS ; modularna sieć neuronowa

analogue electronic circuit ; analog circuit diagnosis ; neural classifier ; RBF ; neural network ; dictionary of damages ; BKS method ; analog electronic circuit ; modular neural network ; dictionary of faults

4/4
Nr opisu: 0000031053
Zastosowanie programowania wyrażeń genetycznych do wyboru optymalnego zbioru częstotliwości w diagnostyce analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 143-148, bibliogr. 6 poz.

diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ elektroniczny ; słownik uszkodzeń ; programowanie wyrażeń genetycznych ; algorytm ewolucyjny ; GEP

fault diagnosis ; analogue electronic circuit ; dictionary of damages ; gene expression programming ; evolutionary algorithm ; GEP ; analog electronic circuit ; dictionary of faults

stosując format:
Nowe wyszukiwanie