Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ANALOGUE CIRCUIT
Liczba odnalezionych rekordów: 9



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/9
Nr opisu: 0000088165   
Active linearization and stabilization of the power tubes in Audio Power Amplifier.
[Aut.]: Adam Kristof.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 10, s. 55-57, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

linearyzacja ; stabilizacja ; wzmacniacz elektroakustyczny ; układ analogowy ; wzmacniacz mocy ; wzmacniacz hybrydowy ; wzmacniacz przeciwsobny ; lampa elektronowa

linearization ; stabilization ; acoustoelectric amplifier ; analogue circuit ; power amplifier ; hybrid amplifier ; push-pull amplifier ; electronic lamp

2/9
Nr opisu: 0000069623   
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 65-68, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

elektronika analogowa ; układ analogowy ; triangulacja Delaunaya ; testowanie sterowane specyfikacją

analogue electronics ; analogue circuit ; Delaunay's triangulation ; specification driven testing

3/9
Nr opisu: 0000070646   
Testowanie elektronicznych układów analogowych z wykorzystaniem wielowymiarowej przestrzeni poszukiwań i algorytmów zbiorowej inteligencji. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł.
Gliwice, 2011, 157 k., bibliogr.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: prof. dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski

układ analogowy ; algorytm zbiorowej inteligencji ; układ elektroniczny

analogue circuit ; collective intelligence algorithm ; electronic system

4/9
Nr opisu: 0000072423   
Tolerance maximisation in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk.
W: 2011 20th European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD), Linkoping, Sweden, 29-31 August 2011. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 881-884, bibliogr. 15 poz.

diagnostyka uszkodzeń ; układ analogowy ; detekcja uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; uszkodzenie pojedyncze ; uszkodzenie katastroficzne ; redukcja czasu testowania ; tolerancja elementów ; algorytm genetyczny

fault diagnosis ; analogue circuit ; fault detection ; fault location ; single fault ; catastrophic fault ; test time reduction ; components tolerance ; genetic algorithm

5/9
Nr opisu: 0000040360   
A heuristic fault dictionary reduction methodology.
[Aut.]: Andrzej Pułka.
W: 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2007, Marrakech, Morocco, December 11-14, 2007. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 1115-1118, bibliogr. 20 poz.

układ analogowy ; niezawodność obwodu ; diagnostyka uszkodzeń

analogue circuit ; circuit reliability ; fault diagnosis

6/9
Nr opisu: 0000039872   
The use of simulated annealing with fuzzy objective function to optimal frequency selection for analog circuit diagnosis.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2007, Marrakech, Morocco, December 11-14, 2007. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 899-902, bibliogr. 9 poz.

układ analogowy ; niezawodność obwodu ; diagnostyka uszkodzeń ; teoria zbiorów rozmytych

analogue circuit ; circuit reliability ; fault diagnosis ; fuzzy set theory

7/9
Nr opisu: 0000013971
Optymalny dobór punktów testowych dla analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 157-162, bibliogr. 7 poz.

układ analogowy ; testowanie analogowe ; optymalizacja ; kanał informacyjny

analogue circuit ; analog testing ; optimization ; information channel

8/9
Nr opisu: 0000013972
Optymalny dobór punktów testowych z wykorzystaniem algorytmu genetycznego i różnych pobudzeń.
[Aut.]: Ł. Zieliński, B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 163-167, bibliogr. 9 poz.

układ analogowy ; testowanie ; optymalizacja ; algorytm genetyczny

analogue circuit ; testing ; optimization ; genetic algorithm

9/9
Nr opisu: 0000013973
Zastosowanie teorii zbiorów rozmytych oraz rzadkości macierzy wrażliwości do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w układach analogowych.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski, Tomasz Golonek.
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 169-174, bibliogr. 5 poz.

teoria zbiorów rozmytych ; detekcja uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; układ analogowy ; wrażliwość

fuzzy set theory ; fault detection ; fault localization ; analogue circuit ; sensitivity

stosując format:
Nowe wyszukiwanie