Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
ANALOGUE CIRCUIT
Liczba odnalezionych rekordów:
9
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/9
Nr opisu:
0000088165
Active linearization and stabilization of the power tubes in Audio Power Amplifier.
[Aut.]: Adam
Kristof
.
-
Elektronika
2013 R. 54 nr 10
, s. 55-57, bibliogr. 11 poz..
Punktacja MNiSW
8.000
linearyzacja
;
stabilizacja
;
wzmacniacz elektroakustyczny
;
układ analogowy
;
wzmacniacz mocy
;
wzmacniacz hybrydowy
;
wzmacniacz przeciwsobny
;
lampa elektronowa
linearization
;
stabilization
;
acoustoelectric amplifier
;
analogue circuit
;
power amplifier
;
hybrid amplifier
;
push-pull amplifier
;
electronic lamp
2/9
Nr opisu:
0000069623
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Elektronika
2011 R. 52 nr 12
, s. 65-68, bibliogr. 11 poz..
Punktacja MNiSW
6.000
elektronika analogowa
;
układ analogowy
;
triangulacja Delaunaya
;
testowanie sterowane specyfikacją
analogue electronics
;
analogue circuit
;
Delaunay's triangulation
;
specification driven testing
3/9
Nr opisu:
0000070646
Testowanie elektronicznych układów analogowych z wykorzystaniem wielowymiarowej przestrzeni poszukiwań i algorytmów zbiorowej inteligencji. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Piotr*
Kyzioł
.
Gliwice, 2011, 157 k., bibliogr.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: prof. dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski
układ analogowy
;
algorytm zbiorowej inteligencji
;
układ elektroniczny
analogue circuit
;
collective intelligence algorithm
;
electronic system
4/9
Nr opisu:
0000072423
Tolerance maximisation in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz
Chruszczyk
.
W:
2011 20th European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD), Linkoping, Sweden, 29-31 August 2011
. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011
, s. 881-884, bibliogr. 15 poz.
diagnostyka uszkodzeń
;
układ analogowy
;
detekcja uszkodzeń
;
lokalizacja uszkodzeń
;
uszkodzenie pojedyncze
;
uszkodzenie katastroficzne
;
redukcja czasu testowania
;
tolerancja elementów
;
algorytm genetyczny
fault diagnosis
;
analogue circuit
;
fault detection
;
fault location
;
single fault
;
catastrophic fault
;
test time reduction
;
components tolerance
;
genetic algorithm
5/9
Nr opisu:
0000040360
A heuristic fault dictionary reduction methodology.
[Aut.]: Andrzej
Pułka
.
W:
14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems
. ICECS 2007, Marrakech, Morocco, December 11-14, 2007. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007
, s. 1115-1118, bibliogr. 20 poz.
układ analogowy
;
niezawodność obwodu
;
diagnostyka uszkodzeń
analogue circuit
;
circuit reliability
;
fault diagnosis
6/9
Nr opisu:
0000039872
The use of simulated annealing with fuzzy objective function to optimal frequency selection for analog circuit diagnosis.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems
. ICECS 2007, Marrakech, Morocco, December 11-14, 2007. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007
, s. 899-902, bibliogr. 9 poz.
układ analogowy
;
niezawodność obwodu
;
diagnostyka uszkodzeń
;
teoria zbiorów rozmytych
analogue circuit
;
circuit reliability
;
fault diagnosis
;
fuzzy set theory
7/9
Nr opisu:
0000013971
Optymalny dobór punktów testowych dla analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: B.
Puchalski
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]
. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004
, s. 157-162, bibliogr. 7 poz.
układ analogowy
;
testowanie analogowe
;
optymalizacja
;
kanał informacyjny
analogue circuit
;
analog testing
;
optimization
;
information channel
8/9
Nr opisu:
0000013972
Optymalny dobór punktów testowych z wykorzystaniem algorytmu genetycznego i różnych pobudzeń.
[Aut.]: Ł.
Zieliński
, B.
Puchalski
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]
. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004
, s. 163-167, bibliogr. 9 poz.
układ analogowy
;
testowanie
;
optymalizacja
;
algorytm genetyczny
analogue circuit
;
testing
;
optimization
;
genetic algorithm
9/9
Nr opisu:
0000013973
Zastosowanie teorii zbiorów rozmytych oraz rzadkości macierzy wrażliwości do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w układach analogowych.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
, Tomasz
Golonek
.
W:
Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]
. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004
, s. 169-174, bibliogr. 5 poz.
teoria zbiorów rozmytych
;
detekcja uszkodzeń
;
lokalizacja uszkodzeń
;
układ analogowy
;
wrażliwość
fuzzy set theory
;
fault detection
;
fault localization
;
analogue circuit
;
sensitivity
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie