Wynik wyszukiwania
Zapytanie: IN2O3
Liczba odnalezionych rekordów: 4



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu: 0000103131   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation after air exposure.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, A. Grzeszczak, Jacek Szuber.
-Cryst. Res. Technol. 2015 vol. 50 iss. 11, s. 884-890, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 0.908. Punktacja MNiSW 20.000

tlenek indu ; In2O3 ; powłoka cienka ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM

indium oxide ; In2O3 ; ultrathin film ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM

2/4
Nr opisu: 0000082099
Optymalizacja technologii RGTO osadzania bardzo cienkich warstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
[Aut.]: Jacek Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 131
Pełny tekst na CD-ROM

tlenek przewodzący ; SnO2 ; In2O3 ; warstwa cienka ; nanowarstwa ; stechiometria ; morfologia powierzchni ; AFM ; XPS ; SEM

conductive oxide ; SnO2 ; In2O3 ; thin film ; nanolayer ; stoichiometry ; surface morphology ; AFM ; XPS ; SEM

3/4
Nr opisu: 0000071524   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, Ł. Pawela, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

In2O3 ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM

In2O3 ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM

4/4
Nr opisu: 0000071753   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, L. Pawela, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2010 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 1.935

In2O3 ; RGVO ; XPS ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; AFM

In2O3 ; RGVO ; XPS ; surface chemistry ; surface morphology ; AFM

stosując format:
Nowe wyszukiwanie