Wynik wyszukiwania
Zapytanie: IBIST
Liczba odnalezionych rekordów: 5



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/5
Nr opisu: 0000081582   
Analysis of operation of ring LFSR used for testing of unidirectional interleaved interconnections.
[Aut.]: Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 479-484, bibliogr. 17 poz.

BIST ; IBIST ; XR-LFSR ; połączenie BIST ; test połączeń

BIST ; IBIST ; XR-LFSR ; interconnect BIST ; interconnect test ; R-LFSR

2/5
Nr opisu: 0000063344   
How to reduce size of a signature-based diagnostic dictionary used for testing of connections.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
W: Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. [DDECS 2010], Vienna, Austria, April 14-16, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, s. 201-204, bibliogr. 13 poz.

BIST ; IBIST ; słownik diagnostyczny ; testowanie połączeń ; rejestr pierścieniowy LFSR ; podpis

BIST ; IBIST ; diagnostic dictionary ; interconnection testing ; ring LFSR ; signature

3/5
Nr opisu: 0000056440   
Effective BIST for crosstalk faults in interconnects.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
W: Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS'2009, Liberec, Czech Republic, April 15-17, 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 164-169, bibliogr. 29 poz.

interkonekt ; przesłuch ; błąd dynamiczny ; tester wbudowany ; IBIST ; LFSR

interconnect ; crosstalk ; dynamic fault ; Interconnect Built-In Self-Test ; IBIST ; LFSR

4/5
Nr opisu: 0000051249   
Application of modified ring LFSRs for interconnect faults detection.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2008. Proceedings of the 15th international conference, Poznań, Poland, 19-21 June, 2008. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2008, s. 487-492, bibliogr. 16 poz.

test połączeń ; wbudowane samotestowanie ; BIST ; połączenie BIST ; IBIST

interconnect test ; built-in self test ; BIST ; interconnect BIST ; IBIST

5/5
Nr opisu: 0000039319
On application of polynomial algebra for identification of dynamic faults in interconnects.
[Aut.]: M. Kopeć, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
-Kwart. Elektron. Telekom. 2008 t. 54 z. 1, s. 29-41, bibliogr. 13 poz.

tester wbudowany ; IBIST ; uszkodzenie ; chińskie twierdzenie o resztach ; częstotliwość operacyjna

Interconnect Built-In Self-Test ; IBIST ; fault ; Chinese Remainder Theorem ; operating frequency

stosując format:
Nowe wyszukiwanie