Wynik wyszukiwania
Zapytanie: BIST
Liczba odnalezionych rekordów: 12



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/12
Nr opisu: 0000092094   
Zastosowanie komponentów energetycznych w przegrodzie wielowarstwowej.
[Aut.]: Jarosław* Figaszewski.
-Mater. Bud. 2014 nr 1, s. 12-14, bibliogr. 8 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

przegroda budowlana ; BIPV ; PCM ; TIM ; BIST

building partition ; BIPV ; PCM ; TIM ; BIST

2/12
Nr opisu: 0000069622   
Analysis of operation of ring LFSR used for testing of unidirectional interleaved interconnections.
[Aut.]: Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 50-53, bibliogr. 12 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

testowanie połączeń ; rejestr pierścieniowy LFSR ; BIST ; rejestr XR-LFSR

interconnection testing ; ring LFSR ; BIST ; XR-LFSR register

3/12
Nr opisu: 0000081582   
Analysis of operation of ring LFSR used for testing of unidirectional interleaved interconnections.
[Aut.]: Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 479-484, bibliogr. 17 poz.

BIST ; IBIST ; XR-LFSR ; połączenie BIST ; test połączeń

BIST ; IBIST ; XR-LFSR ; interconnect BIST ; interconnect test ; R-LFSR

4/12
Nr opisu: 0000063344   
How to reduce size of a signature-based diagnostic dictionary used for testing of connections.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
W: Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. [DDECS 2010], Vienna, Austria, April 14-16, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, s. 201-204, bibliogr. 13 poz.

BIST ; IBIST ; słownik diagnostyczny ; testowanie połączeń ; rejestr pierścieniowy LFSR ; podpis

BIST ; IBIST ; diagnostic dictionary ; interconnection testing ; ring LFSR ; signature

5/12
Nr opisu: 0000063175   
Testing of interconnections with use of reduced-size signature-based diagnostic dictionary.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2010. Proceedings of the 17th international conference, Wrocław, Poland, 24-26 June 2010. Ed. by A. Napieralski. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2010, s. 486-491, bibliogr. 13 poz.

testowanie połączeń ; BIST ; rejestr pierścieniowy LFSR ; sygnatura ; słownik diagnostyczny

interconnection testing ; BIST ; ring LFSR ; signature ; diagnostic dictionary

6/12
Nr opisu: 0000055003
Evolutionary-based artificial intelligence approach to the test pattern generator design.
[Aut.]: G. Papa, Tomasz Garbolino.
W: Recent developments in artificial intelligence methods. AI-METH 2009. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Silesian University of Technology. Faculty of Mechanical Engineering. Department of Fundamentals of Machinery Design. Department of Strength of Materials and Computational Mechanics. Gliwice : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2009, s. 235-246, bibliogr. 22 poz.

optymalizacja ; sztuczna inteligencja ; algorytm genetyczny ; projekt ; BIST

optimization ; artificial intelligence ; genetic algorithm ; design ; BIST

7/12
Nr opisu: 0000051797   
On the use of Ring LFSR based BIST for detection, identification and localization of static and dynamic faults in interconnects.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino.
-Theor. Appl. Informat. 2009 vol. 21 no. 1, s. 23-36, bibliogr. 17 poz.

testowanie połączeń ; BIST ; analiza sygnaturowa ; LFSR ; liniowy rejestr pierścieniowy ; diagnostyka uszkodzeń

interconnection testing ; BIST ; signature analysis ; LFSR ; Ring Linear Feedback Shift Register ; fault diagnosis

8/12
Nr opisu: 0000059076   
Skuteczny generator testów dla przesłuchów w połączeniach.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
W: Informatyka - sztuka czy rzemiosło. KNWS'09, Rydzyna, 3-5 czerwca 2009. Materiały 6. konferencji naukowej. Preprint. Zielona Góra : Instytut Informatyki i Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Informatyki i Telekomunikacji. Uniwersytet Zielonogórski, 2009, s. 60-62, bibliogr. 14 poz.

rejestr liniowy ; przesłuchy ; BIST ; rejestr LFSR ; system jednoukładowy ; SoC ; sieć połączeń

linear register ; crosstalks ; BIST ; LFSR register ; System on Chip ; SoC ; interconnection network

9/12
Nr opisu: 0000049583   
Skuteczny generator testów dla przesłuchów w połączeniach.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
-Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 7, s. 432-434, bibliogr. 14 poz.

LFSR ; sieć połączeń ; system jednoukładowy ; przesłuchy ; metoda test-per-clock ; BIST

LFSR ; interconnection network ; System on Chip ; crosstalks ; test-per-clock method ; BIST

10/12
Nr opisu: 0000050838   
Testowanie dynamicznych uszkodzeń typu przesłuchy w sieciach połączeń przy użyciu rejestrów pierścieniowych R-LFSR.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino.
-Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 8, s. 572-574, bibliogr. 8 poz.

generator obrazu kontrolnego ; liniowy rejestr pierścieniowy ; przesłuchy ; sieć połączeń ; BIST ; LFSR ; R-LFSR

test pattern generator ; linear ring register ; crosstalks ; interconnection network ; BIST ; LFSR ; R-LFSR

11/12
Nr opisu: 0000051249   
Application of modified ring LFSRs for interconnect faults detection.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2008. Proceedings of the 15th international conference, Poznań, Poland, 19-21 June, 2008. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2008, s. 487-492, bibliogr. 16 poz.

test połączeń ; wbudowane samotestowanie ; BIST ; połączenie BIST ; IBIST

interconnect test ; built-in self test ; BIST ; interconnect BIST ; IBIST

12/12
Nr opisu: 0000014398
On detection of interconnect faults by a MISR compactor - unknown problems and new solutions.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
-Arch. Informat. Teor. Stosow. 2005 t. 17 z. 2, s. 109-126, bibliogr. 19 poz.

BIST ; generator obrazu kontrolnego ; MISR

BIST ; test pattern generator ; MISR

stosując format:
Nowe wyszukiwanie