Wynik wyszukiwania
Zapytanie: THE 15TH IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRONICS CIRCUITS AND SYSTEMS
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000049106   
Sensitivity invariant sums of high-order.
[Aut.]: Jacek Izydorczyk, Jan** Chojcan.
W: The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2008, Malta, 31st August - 3rd September 2008. Piscatawy : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 234-237, bibliogr. 17 poz.

analiza wrażliwości ; transmitancja operatorowa ; układ mostkowy ; pojemność ; współpraca ; regulacja napięcia

sensitivity analysis ; transfer function ; bridge circuit ; capacitance ; cooperation ; voltage control

2/2
Nr opisu: 0000049105   
Specialised excitation and wavelet feature extraction in fault diagnosis of analog electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2008, Malta, 31st August - 3rd September 2008. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 242-246, bibliogr. 9 poz.

testowanie układu ; obwód elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; ekstrakcja cech ; pomiar czasu ; ocena efektywności

circuit testing ; electronic circuit ; fault diagnosis ; fault location ; feature extraction ; time measurement ; performance evaluation

stosując format:
Nowe wyszukiwanie