Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SOLID STATE CRYSTALS IN OPTOELECTRONICS AND SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY ZAKOPANE
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000027797
Determining carrier lifetime using frequency dependence in contactless photoelectromagnetic investigations of GaAs:Te, GaAs:Si, and MQW on GaAs.
[Aut.]: B. Loncierz, Marian Nowak.
W: Solid state crystals in optoelectronics and semiconductor technology, Zakopane, Poland, 7-11 October 1996. Eds: A. Rogalski [i in.]. Bellingham : SPIE - The International Society for Optical Engineering, 1997, s. 151-157, bibliogr. 18 poz. (Proceedings of SPIE ; vol. 3179 0277-786X)

2/3
Nr opisu: 0000057283
Nanotribological investigations of NCD coatings covering metal slitting saws.
[Aut.]: A. Golabczak, P. Niedzielski, S. Mitura, Jerzy** Żak.
W: Solid state crystals in optoelectronics and semiconductor technology, Zakopane, Poland, 7-11 October 1996. Eds: A. Rogalski [i in.]. Bellingham : SPIE - The International Society for Optical Engineering, 1997, s. 90-93, bibliogr. 5 poz. (Proceedings of SPIE ; vol. 3179 0277-786X)

3/3
Nr opisu: 0000028603
Optical and recombination parameters of GaSe obtained from interference spectroscopy of transmittance, reflectance, photoconductivity, and photomagnetoelectric responses.
[Aut.]: Mirosława Kępińska, Marian Nowak.
W: Solid state crystals in optoelectronics and semiconductor technology, Zakopane, Poland, 7-11 October 1996. Eds: A. Rogalski [i in.]. Bellingham : SPIE - The International Society for Optical Engineering, 1997, s. 147-150, bibliogr. 5 poz. (Proceedings of SPIE ; vol. 3179 0277-786X)

stosując format:
Nowe wyszukiwanie